公开(公告)号：CN1253720C

公开(公告)日：2006-04-26

申请号：CN03123802.5

申请日：2003-05-12

Applicant: 三菱电机株式会社 ,  菱电半导体系统工程株式会社

Inventor： 花井寿佳 ,  船仓辉彦 ,  森长也

IPC: G01R29/02

CPC classification number: G01R29/26

Abstract: 抖动测量电路(10、11)中设有：通过响应另一方而对所述基准信号和从测量对象输出的周期性被测信号中的一方取样来得到取样数据串的变换部(2)；以及基于从所述变换部得到的所述取样数据串，测量所述被测信号的抖动的判定部(4)。由于基准信号是预定的周期稳定的信号，所以，作为测量结果的取样数据串依存于被测信号。根据测量结果的偏移并基于对预期值数据的相对测定，可以简易地测量抖动电平。

公开(公告)号：CN1354503A

公开(公告)日：2002-06-19

申请号：CN01133014.7

申请日：2001-09-13

Applicant: 三菱电机株式会社 ,  菱电半导体系统工程株式会社

Inventor： 森长也 ,  山田真二 ,  船仓辉彦

IPC: H01L21/66 ,  G01R31/28

CPC classification number: G01R31/3167 ,  G01R31/31905 ,  G01R31/31926

Abstract: 一种能以高精度、高速度对具有A/D转换电路和D/A转换电路的混合信号型半导体集成电路中的A/D转换电路和D/A转换电路进行测试的半导体集成电路的测试装置。将测试辅助装置设置在安装了被测试半导体集成电路的测试电路基板附近,在该测试辅助装置中,设有对被测试半导体集成电路的A/D转换电路供给模拟测试信号并对其D/A转换电路供给数字测试信号的数据电路、存储来自被测试半导体集成电路的测试输出的测定数据存储器、及对该测定数据存储器的存储数据进行分析的分析部。

公开(公告)号：CN1479104A

公开(公告)日：2004-03-03

申请号：CN03123802.5

申请日：2003-05-12

Applicant: 三菱电机株式会社 ,  菱电半导体系统工程株式会社

Inventor： 花井寿佳 ,  船仓辉彦 ,  森长也

IPC: G01R29/02

CPC classification number: G01R29/26

Abstract: 抖动测量电路(10、11)中设有：通过响应另一方而对所述基准信号和从测量对象输出的周期性被测信号中的一方取样来得到取样数据串的变换部(2)；以及基于从所述变换部得到的所述取样数据串，测量所述被测信号的抖动的判定部(4)。由于基准信号是预定的周期稳定的信号，所以，作为测量结果的取样数据串依存于被测信号。根据测量结果的偏移并基于对预期值数据的相对测定，可以简易地测量抖动电平。