公开(公告)号：CN1253720C

公开(公告)日：2006-04-26

申请号：CN03123802.5

申请日：2003-05-12

Applicant: 三菱电机株式会社 ,  菱电半导体系统工程株式会社

Inventor： 花井寿佳 ,  船仓辉彦 ,  森长也

IPC: G01R29/02

CPC classification number: G01R29/26

Abstract: 抖动测量电路(10、11)中设有：通过响应另一方而对所述基准信号和从测量对象输出的周期性被测信号中的一方取样来得到取样数据串的变换部(2)；以及基于从所述变换部得到的所述取样数据串，测量所述被测信号的抖动的判定部(4)。由于基准信号是预定的周期稳定的信号，所以，作为测量结果的取样数据串依存于被测信号。根据测量结果的偏移并基于对预期值数据的相对测定，可以简易地测量抖动电平。

公开(公告)号：CN1479104A

公开(公告)日：2004-03-03

申请号：CN03123802.5

申请日：2003-05-12

Applicant: 三菱电机株式会社 ,  菱电半导体系统工程株式会社

Inventor： 花井寿佳 ,  船仓辉彦 ,  森长也

IPC: G01R29/02

CPC classification number: G01R29/26

Abstract: 抖动测量电路(10、11)中设有：通过响应另一方而对所述基准信号和从测量对象输出的周期性被测信号中的一方取样来得到取样数据串的变换部(2)；以及基于从所述变换部得到的所述取样数据串，测量所述被测信号的抖动的判定部(4)。由于基准信号是预定的周期稳定的信号，所以，作为测量结果的取样数据串依存于被测信号。根据测量结果的偏移并基于对预期值数据的相对测定，可以简易地测量抖动电平。