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公开(公告)号：CN111238422A
公开(公告)日：2020-06-05
申请号：CN202010177349.8
申请日：2020-03-13
Applicant: 上海大学
IPC: G01B11/30
Abstract: 本发明涉及一种基于小偏摆的三平面参考镜平面度绝对测量方法。先将两块参考镜分别固定在干涉仪和参考镜支架上，调节多维调整机构以保证两块参考镜每个点相互对应。通过分别置换三块参考镜的位置可以采集两两参考镜之间的混合面型误差，再利用简单的几何关系计算得到三块参考镜在y轴线上的相位误差。事实上混合的面形误差包含大量冗余的信息，为了得到这些信息，在一次的测量过程中对待测参考镜分别顺时针和逆时针绕垂直于光轴方向小幅度旋转，得到带有倾斜相差的条纹图，并对其解析得到畸变相位。按照流程图，最终得到两块参考镜的高分辨率的完整面形信息。并可以简单求解第三块参考镜的面形。
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公开(公告)号：CN117092067A
公开(公告)日：2023-11-21
申请号：CN202311057830.3
申请日：2023-08-22
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明涉及一种基于计算成像的高分辨率哈特曼相位检测方法及系统，该方法包括以下步骤：构建计算成像的哈特曼传感器检测系统，根据该系统采集穿过透镜阵列光束的强度图，通过光强传输方程计算出透镜阵列的相位分布；将被测物置于透镜阵列前方，CCD相机置于透镜阵列后方，由CCD相机采集一幅衍射强度图，透镜阵列与CCD相机的位置关系满足透镜阵列的各个子透镜衍射光斑不发生交叠；基于透镜阵列的相位分布，对所述的衍射强度图采用计算成像方法，生成待测物复振幅信息，完成检测。与现有技术相比，本发明具有在不增加任何光学元件的前提下使用哈特曼传感器实现较高分辨率波前探测以及光学元件面形检测的优点。
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公开(公告)号：CN115462742A
公开(公告)日：2022-12-13
申请号：CN202211039833.X
申请日：2022-08-29
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明涉及一种基于多芯光纤的空间形状感知及三维成像装置和方法。可通过一束组合多芯光纤同时实现两种功能，一种是空间形状感知，本发明的外层螺旋光栅光纤束可以通过光纤变形检测出光纤的曲率和挠率，再根据空间曲线重构算法进行空间形状的重建。另一种是三维成像，传统的内窥镜成像通常只能进行二维成像，而本发明借助计算成像技术，根据接收到的衍射图像通过迭代计算直接恢复目标组织相位信息，并且通过波前反衍技术，可以对目标组织实现三维成像。同时将不同时刻空间信息与成像信息进行数据融合，达到可视化表达。
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公开(公告)号：CN119211750A
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN202411131382.1
申请日：2024-08-17
Applicant: 上海大学
IPC: H04N23/95 , G01D5/30 , G01D5/34 , H04N23/951
Abstract: 本发明公开了一种基于调制的叠层扫描成像系统及其操作方法，在相干衍射成像的光路中，CCD相机前固定一未知分布的调制器，通过叠层扫描或轴向扫描方法对被测物体及未知调制器的复振幅信息进行重构。CCD相机与调制器位置不变，控制二维移动台以一定步长移动对被测物体进行二维叠层扫描；被测物体与调制器位置不变，控制一维移动台以固定步长对CCD相机进行轴向叠层扫描。算法重构过程中。本发明在光路中加入调制器，获得更高的重建精度，对比CDI算法，通过加入了一个固定的精密未知调制器件，极大提高了相干衍射成像的分辨率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117346684A
公开(公告)日：2024-01-05
申请号：CN202311298221.7
申请日：2023-10-09
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明涉及光电检测技术领域，本发明提出了一种柱面CGH的误差标定方法，包括以下步骤：搭建柱面CGH的误差标定系统，根据该系统采集柱面CGH子孔径波前信息；将采集的柱面CGH子孔径波前信息按照拼接算法进行拼接，获得柱面CGH完整的波前信息；将所述柱面CGH完整的波前信息减去理想柱面数据，得到柱面CGH的整体误差；对柱面CGH的整体误差进行拟合，求出勒让德多项式的误差系数，实现柱面CGH误差类型的分离，完成柱面CGH的误差标定。与现有技术相比，本发明具有检测装置简单，检测过程简单，算法精度高等优点。
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公开(公告)号：CN115265393A
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202210560072.6
申请日：2022-05-23
Applicant: 上海大学
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明公开了一种数字散斑干涉微变形测量双模式装置，通过所设计的倒T字型导轨和倒T字型轨道槽，可以根据测量要求灵活地改变测量模式。本发明所设计的分光镜底座，分光镜底座上的弹簧夹具可以保证对不同大小分光镜的夹紧，分光镜底座上的调整旋钮可以调整分光镜的上下位置以保证分光镜与其他光学零件的准直。本发明所设计的物光光纤夹持器支持架和物光光纤安装板，可以根据被测物体所放置的位置旋转物光光纤所照射的角度。本发明通过便携的双模式集成测量系统实现对待测件表面微变形进行测量，提高了测量的效率，减少了测量时间和测量误差，可通过一套系统实现物体的轮廓检测和物体表面的微变形检测。
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公开(公告)号：CN115265393B
公开(公告)日：2025-02-21
申请号：CN202210560072.6
申请日：2022-05-23
Applicant: 上海大学
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明公开了一种数字散斑干涉微变形测量双模式装置，通过所设计的倒T字型导轨和倒T字型轨道槽，可以根据测量要求灵活地改变测量模式。本发明所设计的分光镜底座，分光镜底座上的弹簧夹具可以保证对不同大小分光镜的夹紧，分光镜底座上的调整旋钮可以调整分光镜的上下位置以保证分光镜与其他光学零件的准直。本发明所设计的物光光纤夹持器支持架和物光光纤安装板，可以根据被测物体所放置的位置旋转物光光纤所照射的角度。本发明通过便携的双模式集成测量系统实现对待测件表面微变形进行测量，提高了测量的效率，减少了测量时间和测量误差，可通过一套系统实现物体的轮廓检测和物体表面的微变形检测。
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公开(公告)号：CN117054346A
公开(公告)日：2023-11-14
申请号：CN202311020894.6
申请日：2023-08-14
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明涉及一种基于光声耦合散斑干涉的层析检测系统，包括待测物体、脉冲激励模块、超声信号采集模块和散斑干涉模块，脉冲激励模块和散斑干涉模块位于待测物体的两侧，超声信号采集模块位于待测物体上方；脉冲激励模块发射激光照射待测物体的第一表面，使待测物体内部产生载波超声信号并传播至第二表面，采用超声信号采集模块采集载波超声信号；散斑干涉模块发出的第一光束和第二光束发生干涉后得到时序散斑干涉图；基于处理后的超声载波信号和时序散斑干涉图，利用三维傅里叶变换算法重建待测物体内部声场，实现内部缺陷层析检测与成像。与现有技术相比，本发明具有提高层析重建精确性、确保物体内部信息完整性的优点。
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公开(公告)号：CN111238422B
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN202010177349.8
申请日：2020-03-13
Applicant: 上海大学
IPC: G01B11/30
Abstract: 本发明涉及一种基于小偏摆的三平面参考镜平面度绝对测量方法。先将两块参考镜分别固定在干涉仪和参考镜支架上，调节多维调整机构以保证两块参考镜每个点相互对应。通过分别置换三块参考镜的位置可以采集两两参考镜之间的混合面型误差，再利用简单的几何关系计算得到三块参考镜在y轴线上的相位误差。事实上混合的面形误差包含大量冗余的信息，为了得到这些信息，在一次的测量过程中对待测参考镜分别顺时针和逆时针绕垂直于光轴方向小幅度旋转，得到带有倾斜相差的条纹图，并对其解析得到畸变相位。按照流程图，最终得到两块参考镜的高分辨率的完整面形信息。并可以简单求解第三块参考镜的面形。
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