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公开(公告)号:CN104165710A
公开(公告)日:2014-11-26
申请号:CN201410249328.7
申请日:2014-06-06
Applicant: 上海大学
Abstract: 一种燃气灶具热平衡测试装置,解决新型灶具设计中能量损失的测量,为改进灶具设计减少能量损失提供支持。本发明基于燃烧原理,通过测量热水温度,烟气成分分析,辐射强度和炉头上下端温度,估算出有效吸热能量,烟气损失能量,辐射损失能量,热传导损失能量。通过测量燃气流量,估计燃气消耗总能量。从而可获得被测灶具的主要能量消耗比例,为进一步改进灶具设计提供实测数据支撑。本发明采用计算机测控技术,达到自动实现信号采集、数据处理、数据管理功能。实现了灶具能量转换分布的自动化测试。
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公开(公告)号:CN117725830A
公开(公告)日:2024-03-19
申请号:CN202311742987.X
申请日:2023-12-18
Applicant: 上海大学
IPC: G06F30/27 , G06N3/0499 , G06N3/084 , G06N3/092
Abstract: 本发明公开一种利用特征嵌入及课程学习思想进行无人艇集群围捕的方法,仿真环境构建,采用PettingZoo开源框架建立仿真环境,通过该框架确定系统中无人艇的数量,用于进行追逃围捕任务;编写逃逸无人艇的行为规则,搭建深度强化学习模型;利用深度强化学习对无人艇集群进行训练;为了提高模型的鲁棒性,应对执行任务过程时无人艇的失效影响整体任务的进行,对状态空间使用特征嵌入技术实现伸缩不变性。利用课程学习思想设置逃逸半径,在训练阶段应用课程学习思想,初始设定逃逸无人艇静止,逃逸速度为零,围捕半径条件设置较大,随后逐步提高逃逸速度、缩小围捕半径,使得无人艇集群更好地适应真实任务场景。
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公开(公告)号:CN105226199A
公开(公告)日:2016-01-06
申请号:CN201510660463.5
申请日:2015-10-14
Applicant: 上海大学
CPC classification number: H01L51/50 , H01L51/5092 , H01L51/56 , H01L2251/301 , H01L2251/303 , H01L2251/5353
Abstract: 本发明公开了一种应用于有机电致发光器件的双电子注入层结构、倒置有机电致发光器件及其制备方法,在电子传输材料掺杂有低浓度的铯氧化物共同作用下,构建了高性能的双电子注入层。由于双电子注入层在降低驱动电压,提高电子注入效率方面非常显著。本发明将双电子注入层应用到倒置有机电致发光器件中,并提出了该倒置有机电致发光器件的制备方法。相比较传统正置有机电致发光器件,本发明有机电致发光器件载流子注入能力大幅度提高,特别是功率效率显著提升,具有巨大的产业化价值和应用前景。
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公开(公告)号:CN103956434A
公开(公告)日:2014-07-30
申请号:CN201410148111.7
申请日:2014-04-14
Applicant: 上海大学
CPC classification number: H01L51/504 , H01L51/52 , H01L51/56 , H01L2251/53
Abstract: 本发明提供一种基于OLED调制的双面有机电致发光器件及其制备方法,本器件包括顶发光器件和底发光器件,所述底发光器件包括透明电极、第一空穴注入层,第一空穴传输层,第一发光层,第一电子传输层,第一电子注入层,第一发光层引出电极阴极;所述顶发光器件包括第二空穴注入层,第二空穴传输层,第二发光层,第二电子传输层,第二电子注入层,第二发光层引出电极阴极,匹配层;所述顶发光器件和底发光器件通过连接层连接。本发明单独的电学调控特性使两边的发光颜色的强度和色度没有偏移,可以保留单色器件的完整性同时又具有单个器件的结构。
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公开(公告)号:CN103594626A
公开(公告)日:2014-02-19
申请号:CN201310583381.6
申请日:2013-11-20
Applicant: 上海大学
CPC classification number: H01L51/105 , H01L51/0001 , H01L51/0545
Abstract: 本发明公开了一种有机薄膜晶体管,主要由基板、栅电极、栅绝缘层、源漏电极及有机半导体层组成,有机半导体层作为有源层,在源漏电极和有机半导体层之间还设有电极修饰层,电极修饰层通过在源漏电极上固定DNA分子材料自组装而形成。本发明公开了一种有机薄膜晶体管。本发明在电极表面固定DNA分子材料,在电极的表面自发形成高度有序的DNA单分子膜,从而提高了底接触OTFT的电荷注入,有效提高有机薄膜晶体管的输出电流和减小有机薄膜晶体管的阈值电压,提高器件的迁移率和开关比,降低器件的夹断电压。
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