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公开(公告)号：CN109596221B
公开(公告)日：2019-12-06
申请号：CN201811487252.6
申请日：2018-12-06
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明公开了一种冲击温度诊断系统的标定与验证方法，该方法包括以下步骤：步骤1，标定光路的建立，步骤2，利用所述步骤1中的SOP测温诊断系统分别诊断标准光源作为已知标准光源A及待测标准光源B的自发辐射发光，步骤3，利用所述步骤2中分别得到的两种光源的自发辐射强度计数CA、CB，对应求得其辐射强度LA、LB，步骤4，计算待测标准光源的温度，步骤5，两种色温标准光源互相标定验证SOP系统可靠性。本发明基于普朗克黑体辐射理论，以光学高温计测温法为诊断手段，利用两种不同色温的高温标准光源对冲击温度诊断系统进行互相标定。通过诊断系统获得温度数据，对比验证了冲击温度诊断系统的可靠性和置信度，并给出了系统可靠性的评价方法。
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公开(公告)号：CN108195473A
公开(公告)日：2018-06-22
申请号：CN201711434626.3
申请日：2017-12-26
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
CPC classification number: G01J5/52 , G01J5/0828 , G01J5/505 , G01J5/54
Abstract: 本发明公开了一种用于冲击波实验的多通道冲击温度诊断方法，该方法包括以下步骤：步骤1，搭建冲击波实验诊断光路；步骤2，在高功率激光装置上开展冲击波状态方程实验：步骤3，对所述步骤2中的冲击波状态方程实验中的SOP系统进行标定：步骤4，计算待测靶自发辐射强度：步骤5，多通道拟合冲击温度。本发明基于普朗克灰体辐射理论以及光学高温计系统的测温诊断手段，以激光加载下透明材料冲击温度测量实验为例，在不使用光谱仪和不消耗多通道光纤的条件下实现利用多通道测量材料的冲击温度，并给出多通道拟合得到的冲击温度与发射率。该方法相比较单通道测量冲击温度的方法更为可靠，相比较利用其他多通道测量冲击温度的方法更为简便、高效。
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公开(公告)号：CN111421301B
公开(公告)日：2021-05-04
申请号：CN202010228218.8
申请日：2020-03-27
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
IPC: B23P15/00
Abstract: 本发明公开了一种间接驱动金腔靶及其制造方法，所述间接驱动金腔靶包括入射窗口、金腔体、支撑垫片及固定靶，所述入射窗口为圆形结构，其中心开设有入射孔，所述金腔体为圆柱体结构，所述金腔体的内部开设有与金腔体同心的且贯穿金腔体两端的空腔，所述空腔包括上端圆孔、圆锥孔及下端圆孔，所述圆锥孔连接上端圆孔与下端圆孔，所述固定靶为多层圆形结构，所述入射窗口设置于金腔体的一侧，所述固定靶设置于金腔体的另一侧，所述支撑垫片固定于金腔体的外部。本发明在制作金腔体时，采用先切割厚度，再加工同心圆的方式，切割精度高，加工同心圆时，在操作显微镜的观察下采用三段式钻头一次加工成型，保证了钻孔的精度。
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公开(公告)号：CN107831072B
公开(公告)日：2019-10-22
申请号：CN201711064287.4
申请日：2017-11-02
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于激光动加载实验的微型靶加热装置，该装置包括靶托、靶体、加热元件、测温元件和控温装置，加热元件、测温元件均与控温装置电联接，在靶托上设有三个夹持槽，中间位置的夹持槽中夹持有测温元件，两侧的夹持槽中夹持有加热元件，靶托背面敷设有靶体，所述靶体内切圆的直径大于观测通孔的直径，在靶体外侧有用于固定靶的定位压片。本发明加热装置是一种可以用于加热微型靶体的装置，该装置能在5分钟内将靶体从初始状态(300K)加热到预设的温度(最高1000K)，并且通过AI‑519型人工智能调节器在实验期间能稳定的控制温度，温度的控制精度达到2K，该装置能用于研究温度对激光冲击加载条件下的材料损伤与断裂特性。
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公开(公告)号：CN108195473B
公开(公告)日：2019-08-02
申请号：CN201711434626.3
申请日：2017-12-26
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于冲击波实验的多通道冲击温度诊断方法，该方法包括以下步骤：步骤1，搭建冲击波实验诊断光路；步骤2，在高功率激光装置上开展冲击波状态方程实验：步骤3，对所述步骤2中的冲击波状态方程实验中的SOP系统进行标定：步骤4，计算待测靶自发辐射强度：步骤5，多通道拟合冲击温度。本发明基于普朗克灰体辐射理论以及光学高温计系统的测温诊断手段，以激光加载下透明材料冲击温度测量实验为例，在不使用光谱仪和不消耗多通道光纤的条件下实现利用多通道测量材料的冲击温度，并给出多通道拟合得到的冲击温度与发射率。该方法相比较单通道测量冲击温度的方法更为可靠，相比较利用其他多通道测量冲击温度的方法更为简便、高效。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113083979A
公开(公告)日：2021-07-09
申请号：CN202110324522.7
申请日：2021-03-26
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于强激光加载物理实验自支撑薄膜靶部件的制备方法，所述靶部件的厚度在1‑100μm，所述制备方法包括：采用所需要厚度的薄膜，将薄膜置于冲压设备之中，通过设置底模和与之相配合的冲头，制成圆形、方形和/或环形的靶部件，所述环形的靶部件的通孔偏心。通过一套模具的制备、可解决一类构型靶部件的加工，制作工艺简单、加工精度高、制造成本低。
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公开(公告)号：CN109596221A
公开(公告)日：2019-04-09
申请号：CN201811487252.6
申请日：2018-12-06
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明公开了一种冲击温度诊断系统的标定与验证方法，该方法包括以下步骤：步骤1，标定光路的建立，步骤2，利用所述步骤1中的SOP测温诊断系统分别诊断标准光源作为已知标准光源A及待测标准光源B的自发辐射发光，步骤3，利用所述步骤2中分别得到的两种光源的自发辐射强度计数CA、CB，对应求得其辐射强度LA、LB，步骤4，计算待测标准光源的温度，步骤5，两种色温标准光源互相标定验证SOP系统可靠性。本发明基于普朗克黑体辐射理论，以光学高温计测温法为诊断手段，利用两种不同色温的高温标准光源对冲击温度诊断系统进行互相标定。通过诊断系统获得温度数据，对比验证了冲击温度诊断系统的可靠性和置信度，并给出了系统可靠性的评价方法。
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公开(公告)号：CN109298475A
公开(公告)日：2019-02-01
申请号：CN201811487200.9
申请日：2018-12-06
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
Abstract: 本发明公开了一种Cr/C高热稳定性X射线多层膜反射镜，该反射镜包括基底，在所述基底上依次层叠设有打底层，Cr/C周期多层膜和保护层，所述Cr/C周期多层膜中包括C膜和Cr膜，所述C膜和Cr膜交替分布，所述打底层镀制在基底上，Cr/C周期多层膜中与打底层接触的为C膜，Cr/C周期多层膜中与保护层接触的为Cr膜，保护层镀制在与其相接触的Cr膜上。本发明中Cr，C材料在X射线波段的光学常数合适，Cr/C多层膜反射镜有优异的光学性能。本发明精确控制Cr与C的膜层厚度比，克服了传统的金属/碳多层膜受热后碳膜层膨胀和金属结晶等缺陷。兼顾了光学性能和热稳定性的Cr/C多层膜反射镜适用于在等离子体诊断、同步辐射、空间观测等工作环境温度高的X射线波段的应用。
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公开(公告)号：CN108163810A
公开(公告)日：2018-06-15
申请号：CN201711431283.5
申请日：2017-12-26
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
IPC: C01B4/00
Abstract: 本发明公开了一种用于神光Ⅱ高功率激光装置的氘气提纯装置，该氘气提纯装置包括氘气进入系统，氘气抽出系统和真空机组，氘气进入系统包括氘气源、靶室外进气管道、双向截止阀I、双向截止阀Ⅱ、靶室内通气管道、靶体，氘气抽出系统包括靶室内通气管道、双向截止阀Ⅲ、靶室外抽气管道，真空机组包括外壳，外壳中设有上层腔室和下层腔室，在下层腔室中设有机械泵、上层腔室中设有分子泵，外壳上端面上设有真空腔，本发明完成一次置换过程(1次充气和抽气)一般可控制在10分钟内，根据实际需要还可以降低，本发明可以将氘气总体置换时间(6‑7次的充气和抽气)控制在1小时以内，从时间上看，大大降低了实验成本。
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公开(公告)号：CN107831072A
公开(公告)日：2018-03-23
申请号：CN201711064287.4
申请日：2017-11-02
Applicant: 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于激光动加载实验的微型靶加热装置，该装置包括靶托、靶体、加热元件、测温元件和控温装置，加热元件、测温元件均与控温装置电联接，在靶托上设有三个夹持槽，中间位置的夹持槽中夹持有测温元件，两侧的夹持槽中夹持有加热元件，靶托背面敷设有靶体，所述靶体内切圆的直径大于观测通孔的直径，在靶体外侧有用于固定靶的定位压片。本发明加热装置是一种可以用于加热微型靶体的装置，该装置能在5分钟内将靶体从初始状态(300K)加热到预设的温度(最高1000K)，并且通过AI-519型人工智能调节器在实验期间能稳定的控制温度，温度的控制精度达到2K，该装置能用于研究温度对激光冲击加载条件下的材料损伤与断裂特性。
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