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公开(公告)号：CN111091919B
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202010089740.2
申请日：2020-02-13
Applicant: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 , 中国航空工业集团公司北京长城航空测控技术研究所
IPC: G21C17/06
Abstract: 本发明公开了一种用于中子活化分析的活化箔夹持结构及活化箔取出装置，其包括：一片由高纯铝(纯度＞99.999％)及镶嵌其上的五枚铝镍或铝钴合金活化箔组成的活化箔夹持结构；一个用于取出铝镍或铝钴合金活化箔的装置。本发明的活化箔夹持结构采用镶嵌方式固定五组活化箔，可有效降低活化箔意外脱落风险，可实现单次测量获得多个数据点的功能，提高布放效率，同时适用于低、高功率运行的反应堆；本发明的活化箔取出装置可以定位活化箔的位置，采用远距离机械施压方式取出活化箔，并配有铅玻璃透明罩，可有效降低实验操作人员承受的γ射线辐射剂量。本发明的用于中子活化分析的活化箔夹持结构及活化箔取出装置适用于反应堆内指定位置中子通量的测量。
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公开(公告)号：CN111091919A
公开(公告)日：2020-05-01
申请号：CN202010089740.2
申请日：2020-02-13
Applicant: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 , 中国航空工业集团公司北京长城航空测控技术研究所
IPC: G21C17/06
Abstract: 本发明公开了一种用于中子活化分析的活化箔夹持结构及活化箔取出装置，其包括：一片由高纯铝(纯度＞99.999％)及镶嵌其上的五枚铝镍或铝钴合金活化箔组成的活化箔夹持结构；一个用于取出铝镍或铝钴合金活化箔的装置。本发明的活化箔夹持结构采用镶嵌方式固定五组活化箔，可有效降低活化箔意外脱落风险，可实现单次测量获得多个数据点的功能，提高布放效率，同时适用于低、高功率运行的反应堆；本发明的活化箔取出装置可以定位活化箔的位置，采用远距离机械施压方式取出活化箔，并配有铅玻璃透明罩，可有效降低实验操作人员承受的γ射线辐射剂量。本发明的用于中子活化分析的活化箔夹持结构及活化箔取出装置适用于反应堆内指定位置中子通量的测量。
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公开(公告)号：CN211828152U
公开(公告)日：2020-10-30
申请号：CN202020166093.6
申请日：2020-02-13
Applicant: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 , 中国航空工业集团公司北京长城航空测控技术研究所
IPC: G21C17/06
Abstract: 本实用新型公开了一种活化箔夹持结构及活化箔取出装置，所述活化箔夹持结构包括基体、活化箔、活化箔夹持部，所述的基体设有若干通孔，活化箔通过活化箔夹持部放置于基体通孔内；所述活化箔取出装置包括定位部、取出部、屏蔽部及底座。本活化箔夹持结构采用镶嵌方式固定五组活化箔，可有效降低活化箔意外脱落风险，可实现单次测量获得多个数据点的功能，提高布放效率，同时适用于低、高功率运行的反应堆；本活化箔取出装置可以定位活化箔的位置，采用远距离机械施压方式取出活化箔，并配有铅玻璃透明罩，可有效降低实验操作人员承受的γ射线辐射剂量。本实用新型的活化箔夹持结构及活化箔取出装置适用于反应堆内指定位置中子通量的测量。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN114055363A
公开(公告)日：2022-02-18
申请号：CN202111383903.9
申请日：2021-11-19
Applicant: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 , 中国工程物理研究院电子工程研究所
IPC: B25B11/00
Abstract: 针对反应堆内圆柱形辐照样品测量时，传统机械手和人工夹持存在夹持不稳、样品易脱落，且人工夹持易遭受γ射线辐射等缺点，本发明提出了一种放射性圆柱体样品测量用气动夹具，包括气动夹持装置、样品定位放置装置、气动操作手柄、空压机，样品定位放置装置包括形状对称且与气动夹持装置底座相匹配的C型底座和便于圆柱样品稳定的凹槽，以实现凹槽的快速定位和样品的快速放置；气动夹持装置包括形状为圆弧形开口且对称布置第一夹持板和第二夹持板，以实现稳固夹持。空压机通过气管线依次与气动操作手柄、气动夹持装置相连，实现装置的夹持功能。该发明组装简单且能够快速实现圆柱样品的装夹，同时夹持板较薄，测量空间大易实现多点位测量。
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公开(公告)号：CN112366021A
公开(公告)日：2021-02-12
申请号：CN202011237094.6
申请日：2020-11-09
Applicant: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
IPC: G21K5/00
Abstract: 本发明公开了一种实现反应堆辐照参数均匀化的设备及方法，该设备包括旋转头、辐照样品盒和定位组件，旋转头通过反应堆内的流水提供的反作用力旋转，带动辐照样品盒旋转，辐照样品盒用于固定待辐照样品，定位组件保证整个设备的稳定性，并保证辐照样品盒旋转时不发生偏心；本发明公开的方法利用上述设备，以反应堆芯内高速水流作为动力，驱动辐照样品盒(或样品)旋转，无需外加动力就可以实现反应堆辐照样品接受均匀辐照。本发明公开的设备还具有通用性强、安装及更换方便、节省资源及稳定性强的特点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112366021B
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202011237094.6
申请日：2020-11-09
Applicant: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
IPC: G21K5/00
Abstract: 本发明公开了一种实现反应堆辐照参数均匀化的设备及方法，该设备包括旋转头、辐照样品盒和定位组件，旋转头通过反应堆内的流水提供的反作用力旋转，带动辐照样品盒旋转，辐照样品盒用于固定待辐照样品，定位组件保证整个设备的稳定性，并保证辐照样品盒旋转时不发生偏心；本发明公开的方法利用上述设备，以反应堆芯内高速水流作为动力，驱动辐照样品盒(或样品)旋转，无需外加动力就可以实现反应堆辐照样品接受均匀辐照。本发明公开的设备还具有通用性强、安装及更换方便、节省资源及稳定性强的特点。
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公开(公告)号：CN106841482B
公开(公告)日：2018-04-20
申请号：CN201710028252.9
申请日：2017-01-16
Applicant: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
IPC: G01N30/16
Abstract: 本发明公开了一种气相色谱仪用真空进样装置的应用方法，该应用方法使用的真空进样装置中的标准气体气瓶和样品容器通过气管分别与气相色谱仪的进气口连接，真空泵通过气管与气相色谱仪的排气口连接；气管上安装有测量气管内的气压值的压力传感器和测量气管内的真空度的真空计；还安装有测量环境温度值的温度传感器。该真空进样装置改善了气相色谱仪传统的阀进样方式，避免了环境空气对被测样品气体的污染，利用该真空进样装置发展的进样方法有效提高了样品气体中各组分尤其是微量氧、氮组分的定量分析精度；避免了气相色谱仪检测器响应过载或响应过低，扩大了气相色谱仪检测器响应线性范围，减小了分析误差。
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公开(公告)号：CN118190656A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410367327.6
申请日：2024-03-28
Applicant: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
Abstract: 本发明涉及反应堆应用技术领域，提供一种用于反应堆辐照材料蠕变参数测量和控制的装置包括结构组件、温度控制组件、应力加载组件以及信号监测组件，结构组件具有容置腔，样品设于容置腔内；温度控制组件包括设于容置腔内的加热件以及测温件；应力加载组件用于对样品施加载荷，应力加载组件包括置于容置腔内的第一法兰盘，第一法兰盘能够在容置腔内移动，以对样品进行负荷加载；信号监测组件包括主控部以及位移传感器，测温件与主控部电性连接，位移传感器用于采集第一法兰盘的移动位移，位置传感器与主控部电性连接。在使用本申请的装置时，对样品进行在线测量，以提升样品的辐照蠕变参数数据的准确性，同时，整个测量过程也更为简单。
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公开(公告)号：CN106365133B
公开(公告)日：2018-03-30
申请号：CN201610735355.4
申请日：2016-08-29
Applicant: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
IPC: C01B23/00
Abstract: 本发明公开了一种清除冷中子源系统中氢气杂质的装置和方法，该装置利用冷中子源系统中的高压氦气管道和低压氦气管道之间的氦气高低压差，通过吸附装置去除冷中子源系统中的氢气杂质，吸附装置的吸附力强、再生便捷，吸附的氢气杂质被集中排放到冷中子源系统外，不易污染冷中子源系统中的工艺气体，能有效避免冷中子源系统中的氢杂质聚集在系统低温区而导致结构材料发生氢脆失效的不良后果。
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公开(公告)号：CN106365133A
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：CN201610735355.4
申请日：2016-08-29
Applicant: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
IPC: C01B23/00
Abstract: 本发明公开了一种清除冷中子源系统中氢气杂质的装置和方法，该装置利用冷中子源系统中的高压氦气管道和低压氦气管道之间的氦气高低压差，通过吸附装置去除冷中子源系统中的氢气杂质，吸附装置的吸附力强、再生便捷，吸附的氢气杂质被集中排放到冷中子源系统外，不易污染冷中子源系统中的工艺气体，能有效避免冷中子源系统中的氢杂质聚集在系统低温区而导致结构材料发生氢脆失效的不良后果。
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