一种抗电磁脉冲的光纤传像元件及其制备方法和应用

    公开(公告)号:CN119667852A

    公开(公告)日:2025-03-21

    申请号:CN202411771882.1

    申请日:2024-12-04

    Abstract: 本发明公开了一种抗电磁脉冲的光纤传像元件及其制备方法和应用,所述方法包括:将芯料玻璃棒和皮料玻璃管匹配后拉制成一次单丝;将金属材料作为金属棒拉制成金属丝;将得到的一次单丝进行六方最密排列,且将得到的金属丝分别按照间隙式插入、替换式插入或间隙式和替换式组合插入的规律进行排丝,得到一次复合棒,再将该一次复合棒拉制成一次复丝;将得到的一次复丝排列成二次复合棒,将该二次复合棒拉制成二次复丝,再将该二次复丝定长切割后排列成板段;将得到的板段进行热熔压成型。所要解决的技术问题是通过在光纤传像元件中增加金属丝以形成电磁屏蔽层,可有效地阻挡EMP等电磁干扰的侵入,从而保护光纤传输的信号不受影响。

    微纳光栅表面粗糙度的无损检测方法

    公开(公告)号:CN114264275B

    公开(公告)日:2024-06-14

    申请号:CN202111621883.4

    申请日:2021-12-28

    Abstract: 本发明公开了一种微纳光栅表面粗糙度的无损检测方法,包括如下步骤:用去离子水、无水乙醇和异丙醇对微纳光栅进行超声清洗,氮气吹干将三甲基氯硅烷滴到表面皿中,与微纳光栅一同置于真空干燥环境下,使三甲基氯硅烷充分钝化微纳光栅的表面;将固化剂加入聚二甲基硅氧烷中,混合均匀,消泡,得到PDMS混合物;将PDMS混合物倒在表面皿中,再将微纳光栅置于PDMS混合物表面,将附着PDMS混合物的微纳光栅置于真空干燥环境中脱气、固化,得到凝固仍带有微纳光栅的硅胶膜;将该硅胶膜与微纳光栅进行脱模,用硅胶模进行粗糙度测试。本发明可实现对微纳光栅表面难以测量的侧壁、槽底、深孔等复杂结构进行采集和复制,为复杂的微纳结构表面粗糙度测试提供了新思路。

    微纳光栅表面粗糙度的无损检测方法

    公开(公告)号:CN114264275A

    公开(公告)日:2022-04-01

    申请号:CN202111621883.4

    申请日:2021-12-28

    Abstract: 本发明公开了一种微纳光栅表面粗糙度的无损检测方法,包括如下步骤:用去离子水、无水乙醇和异丙醇对微纳光栅进行超声清洗,氮气吹干将三甲基氯硅烷滴到表面皿中,与微纳光栅一同置于真空干燥环境下,使三甲基氯硅烷充分钝化微纳光栅的表面;将固化剂加入聚二甲基硅氧烷中,混合均匀,消泡,得到PDMS混合物;将PDMS混合物倒在表面皿中,再将微纳光栅置于PDMS混合物表面,将附着PDMS混合物的微纳光栅置于真空干燥环境中脱气、固化,得到凝固仍带有微纳光栅的硅胶膜;将该硅胶膜与微纳光栅进行脱模,用硅胶模进行粗糙度测试。本发明可实现对微纳光栅表面难以测量的侧壁、槽底、深孔等复杂结构进行采集和复制,为复杂的微纳结构表面粗糙度测试提供了新思路。

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