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公开(公告)号：CN119497494A
公开(公告)日：2025-02-21
申请号：CN202411674571.3
申请日：2024-11-21
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及滤光薄膜领域，尤其涉及一种彩色光伏滤光膜及其制备方法，彩色光伏滤光膜包括从下至上依次层叠的透明基底层、底电极光学调节层、光伏功能结构层、顶电极和顶电极光学调节层；其中，光伏功能结构层由四个相同的周期性结构单元叠加而成，每个周期性结构单元均包括金属薄膜、空穴传输薄膜、光敏薄膜和电子传输薄膜。彩色光伏滤光膜能够在发电的同时实现对不同波段光的选择性透过，该方法为彩色光伏电池和滤光膜发展提供新的思路。本发明的彩色光伏滤光膜在光伏建筑一体化、智能家居、新能源汽车、便携及可穿戴电子设备以及航空航天等领域均有广阔的应用空间。
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公开(公告)号：CN114155444B
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202111237534.2
申请日：2021-10-22
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明提供了一种基于航天摆扫成像系统的在轨目标检测方法，包括建立目标训练模型M；利用目标训练模型M定位任意摆扫角θt时刻上的拍摄到的摆扫图像Imgt中的目标位置p(x，y)；对摆扫图像Imgt进行截取，得到摆扫成像系统在任意摆扫角θt时刻的检测图像SImgt；判断检测图像SImgt是否为待检测的目标；在是待检测的目标的检测图像SImgt上定位目标的位置pt(x，y)。本发明能够适应在轨摆扫成像过程中成像畸变的变化，避免感兴趣目标图像因实时机动摆扫成像产生图像畸变导致的跟踪目标丢失；通过事先制作目标图像的模板，避免在轨成像过程中每次重新对目标进行定位，进一步实现对目标的快速检测与定位跟踪。
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公开(公告)号：CN117474922B
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202311821225.9
申请日：2023-12-27
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及光场成像的技术领域，具体提供基于内联遮挡处理的抗噪光场深度测量方法及系统，方法包括：获取光场原始图像；采用#imgabs0#光场参数化，#imgabs1#为角坐标，#imgabs2#为空间坐标，输入光场#imgabs3#中的每个像素并基于候选深度标签#imgabs4#重新映射到剪切光场#imgabs5#；根据剪切光场，判断遮挡类型；若遮挡为线型遮挡，则构造部分角度域成本量；若遮挡为块遮挡，则构造自适应角度域成本量；根据成本最小准则，求解成本量的初始深度图；采用多种滤波策略，对初始深度图进行噪声感知优化，获取最终深度图。因此，本发明基于场景立体模型得到的遮挡图用于遮挡检测，以提高遮挡检测的精确度；提升算法对噪声和遮挡的适应能力，提高了光场深度估计的精度。
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公开(公告)号：CN117171088A
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202311117322.X
申请日：2023-08-31
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及一种探测器的精细训练方法，针对对于温度环境控制好的应用和温度环境控制恶劣的应用，根据采样到的稳定区域个数和不稳定区域个数进行分类处理，并分别进行串行图像数据和采样时钟的延迟进行采样区域拓展，获取完整的采样信息，从而设置最佳的采样位置。本发明针对仅采用串行图像数据进行延迟采样到一个不稳定区域，无法确定相邻距离最近的不稳定区域到底在左侧还是右侧出现，提出在串行数据延迟的基础上再进行采样时钟的延迟，从而获得更全的不稳定区域距离信息，从而可设置最佳的采样位置，提高温度适应性。
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公开(公告)号：CN116320385A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202310300911.5
申请日：2023-03-24
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: H04N17/00
Abstract: 一种探测器的非均匀校正参数设置及检测方法，涉及探测器的非均匀校正技术领域，解决现有进行探测器非均匀校正时，当校正系数和输入图像存在偏差时，无法检测出来等问题，本发明的校正系统包括TDICMOS探测器、成像控制器、积分球、图像数据采集及处理器和温度控制器；检测方法根据输入并行图像数据的位宽来设置乘积校正系数小数部分和加减校正系数的位宽，根据获取图像的最大与最小值相差倍数来设置一次乘积校正系数的整数部分位宽；在校验检测过程中容忍1个DN值的偏差，但在相邻的校正系数中设置计算结果超过1DN的系数值。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113054642A
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN202110427507.5
申请日：2021-04-21
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 一种TDICMOS成像系统的供电方法，涉及CMOS成像技术领域，解决现有对TDICMOS探测器供的方法难以满足高温度范围和抗辐射的要求的问题，本发明提出采用DDR3供电芯片来进行探测器的低电压大拉灌电流供电，通过外部基准源加分压电阻及跟随运放的形式来提供DDR3芯片低漂移低纹波的可调参考电压；通过与成像控制器共用点负载输出的数字电压来进行DDR3芯片的数字逻辑供电；通过与成像控制器共用点负载输出的内核电压作为DDR3芯片内部LDO的低压差供电，减少供电电源芯片数量，同时提高供电效率。针对成像控制器和TDICMOS探测器都存在上电顺序要求，设计了专门的上电时序，保证成像控制器和探测器上电过程中不会出现瞬态大电流，稳定可靠地工作。
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公开(公告)号：CN110490821A
公开(公告)日：2019-11-22
申请号：CN201910730359.7
申请日：2019-08-08
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G06T5/00
Abstract: 本申请涉及一种有雾遥感图像复原方法。包括：在单次大气散射模型的基础上，建立基于大气微点光源主动照明的遥感图像退化模型，通过所述遥感图像退化模型获取原始有雾遥感图像的光晕分量；根据所述光晕分量去除所述原始有雾遥感图像的大气多散射作用与非均匀性，并将原始有雾遥感图像分为光晕图像和去除光晕后的雾霾图像；采用单次大气散射模型对所述去除光晕后的雾霾图像进行透过率及大气光估计，采用暗通道先验图像去雾算法对所述去除光晕后的雾霾图像进行去雾复原处理，得到去雾复原图像。本申请解决了现有遥感图像去雾模型中大量的矩阵运算和反卷积运算带来的振铃现象，达到更好的去雾效果，且减少了计算量。
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公开(公告)号：CN109361882A
公开(公告)日：2019-02-19
申请号：CN201811338299.6
申请日：2018-11-12
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 模块化的CMOS成像系统，涉及一种模块化的CMOS成像系统,解决现有CMOS图像传感器的成像系统，存在设计工作量大，加工周期长，成本高等问题，包括CMOS图像传感器焦面单元和视频处理单元，CMOS图像传感器焦面单元和视频处理单元通过连接器连接；CMOS图像传感器焦面单元包括CMOS图像传感器和时钟变换电路、数字信号整形与电平转换电路、垂直驱动电路和电源变换电路；针对不同的CMOS传感器应用，仅需要更换对应的CMOS图像传感器焦面单元，不需要更换视频处理单元，大大节约工期、成本，降低设计风险；将CMOS图像传感器的供电电源分为多类，使用两种或两种以上的可调的供电电源分别供电这样提高电源效率，降低总功耗，同时降低焦面传感器发热产生光机结构热变形的影响。
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公开(公告)号：CN102261985B
公开(公告)日：2012-12-12
申请号：CN201110157897.5
申请日：2011-06-13
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 光学系统波像差标定装置及该装置测试误差的标定方法，涉及光学测量技术领域，它解决现有光学系统在检测光学元件之前无法评价其测试误差是否满足检测精度要求以及选择合适的移相算法对采集的数据进行处理的问题，本发明所述的分光系统出射两束共光路的正交线偏振光经偏振分光棱镜出射后经过耦合透镜耦合到参考光纤中，所述参考光纤衍射的两个球面波发生干涉，获得干涉图；采用光电探测器进行采集后传送至计算机，采用压电陶瓷进行移相，所述光电探测器采集多次干涉图；采用十三步移相算法进行数据处理分析，获得测试误差，本发明实现对光学系统波像差的超高精度检测。
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公开(公告)号：CN102289152A
公开(公告)日：2011-12-21
申请号：CN201110127852.3
申请日：2011-05-18
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 光学系统波像差检测装置，涉及光学测量技术领域，它解决现有光学系统波像差检测装置在移相过程中存在偏摆误差和横移误差的问题，本发明的分光系统出射的两束共光路的正交线偏振光经过第二偏振分光棱镜分光，参考光和测试光经过第一耦合透镜和第二耦合透镜耦合到带有电动偏振控制器的参考光纤和测试光纤中，测试光纤出射的光经被检光学系统照射到参考光纤的镀膜端面上反射，调整第一角锥棱镜使测试球面波与参考球面波产生干涉，采用压电陶瓷移动对偏摆误差不敏感的第二角锥棱镜实现移相过程，第二平面反射镜使得对移相过程中的横移误差不敏感，利用光电探测器采集干涉图，送入计算机利用移相算法进行数据处理和分析。获得被检光学系统波像差。
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