-
公开(公告)号：CN115616249A
公开(公告)日：2023-01-17
申请号：CN202211084407.8
申请日：2022-09-06
Applicant: 中国计量科学研究院
Inventor： 徐浩
IPC: G01Q60/06
Abstract: 本发明提供一种干涉式扫描近场微波显微装置和系统，用于提高原子力和干涉扫描微波显微系统的显微精度和效率。本发明将原子力近场显微技术和干涉式扫描微波显微技术结合，采用由音叉和探针组成的音叉式探针，音叉采用压电感应材料，音叉在激励电压信号的激励下谐振频率或幅值会在探针接近被测物时的近场区受到原子力的影响，本发明通过针距反馈模块测量音叉输出的激励响应信号，输出距离反馈信号自动控制探针与被测物的距离保持在设定近场测量距离范围内。通过微波测量模块采用双端口模式将VNA输出的微波信号馈入探针并将微波反射信号输出给VNA。
-
公开(公告)号：CN119471074A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202411591274.2
申请日：2024-11-08
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及静电放电辐射电场测量技术领域，公开了一种基于脉冲电场探头的静电放电辐射电场测量装置及方法，该装置包括：金属板；电流靶，镶嵌于金属板的中部，用于和待测静电放电发生器的放电电极进行接触放电；脉冲电场探头，用于采集和放电电极位于金属板的同一侧的预设位置处的空间电场的电信号，将采集的电信号转换成光信号，并通过信号光纤将光信号传输至接收模块；接收模块，用于将信号光纤传输的光信号转换成电信号后输入至示波器；示波器，用于根据接收模块输入的电信号生成并输出静电放电辐射电场的波形，本发明提高了静电放电辐射电场测量的准确性，解决了ESD辐射电场的测量难题。
-
公开(公告)号：CN107643450A
公开(公告)日：2018-01-30
申请号：CN201710772731.1
申请日：2017-08-31
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提供的低损低介电材料的测量方法及测量系统，利用射频或毫米波双通道衰减测量系统能够测量被测材料相移的优势，通过调整源反射系数和负载反射系数，使源反射系数和负载反射系数的一系列值分别形成一个等幅度的矢量圆，再通过求解圆心，计算出被测低损低介电材料的传输系数和反射系数，最终通过NRW(Nicolson–Ross–Weir)公式计算得到被测材料的介电系数和/或磁导率。本发明能够提高介电系数和磁导率测量结果的准确度。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119881029A
公开(公告)日：2025-04-25
申请号：CN202510049558.7
申请日：2025-01-13
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种覆铜板材料的微波介电常数与表界面电导率测量装置及方法，具体包括四端口矢量网络分析仪、准光开放式谐振腔、样品夹具以及一维位移台。该方法包括测量空腔及带样品状态下的谐振频率和品质因数，通过公式计算出样品的介电常数和电导率。同时，设定了参考纯铜平板样品及PCB覆铜板样品，进行多次谐振信息测定，结合装置特性，制定了计算覆铜界面电阻和电导率的方法。这一新颖的设计使得覆铜板材料的电性能测量更为精确和方便，有利于新型材料的研发和应用。
-
公开(公告)号：CN117825808A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202311863911.2
申请日：2023-12-29
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01R27/26
Abstract: 本发明公开一种基于开放式谐振腔的双频带材料介电特性测量装置，包括底座和间隔布置在底座上有两个不同波段的球面反射镜，两个所述球面反射镜之间构成双频带开放式的谐振腔，所述球面反射镜的波导法兰上设有频率扩展模块，频率扩展模块通过微波电缆连接矢量网络分析仪；在所述底座上且位于两个所述球面反射镜之间的部位设有滑动座，所述滑动座上设有处于谐振腔的夹具，当被测材料直接放置在夹具上时，谐振腔工作在双凹腔模式，当被测材料通过平面反射镜放置在夹具上时，谐振腔工作在平凹腔模式。本发明能够工作在双波导频段，在扩展测量频率范围的同时，可降低对材料厚度的苛刻要求，实现了材料介电常数实部和损耗正切的宽频准确测量。
-
公开(公告)号：CN113268912A
公开(公告)日：2021-08-17
申请号：CN202110735476.X
申请日：2021-06-30
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G06F30/23
Abstract: 本发明属于微波无源器件领域，提供了一种分布式电阻衰减器的设计优化方法，本发明通过优化分布式电阻衰减器的端口反射系数以获得所需的薄膜电阻方阻值，以及根据目标衰减值模拟选择合适的薄膜电阻宽度。相较于现有技术中基于多种变量的情况下同时模拟仿真，本发明可单独分别通过优化分布式电阻衰减器的端口反射系数以获得所需的薄膜电阻方阻值，然后在目标方阻值一定的情况下根据目标衰减值选择合适的薄膜电阻宽度，简化了仿真难度，该分布式电阻衰减器设计优化方法有利于减小衰减器的物理尺寸，降低分布参数对衰减频率响应的影响，所设计的衰减器的工作频宽更宽，适用性更强。
-
公开(公告)号：CN115201770A
公开(公告)日：2022-10-18
申请号：CN202210743541.8
申请日：2022-06-27
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明涉及反射探测技术领域，提供一种定标模组及其校准与使用方法，所述定标模组包括：三维定标器；三维定标器包括微波反射层与光学反射层；微波反射层具有第一定标面，光学反射层具有第二定标面；第一定标面划分有多个第一定标区域，多个第二定标面划分有多个第二定标区域，多个第一定标区域与多个第二定标区域一一对应设置；用于反射合成孔径雷达发出的微波，光学反射层用于向光学成像装备反射光线；本发明通过设置微波反射层及光学反射层，使得定标模组兼具微波反射特性与光学反射特性，提升了探测设备校准的效率及准确性。
-
公开(公告)号：CN107643450B
公开(公告)日：2019-11-26
申请号：CN201710772731.1
申请日：2017-08-31
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提供的低损低介电材料的测量方法及测量系统，利用射频或毫米波双通道衰减测量系统能够测量被测材料相移的优势，通过调整源反射系数和负载反射系数，使源反射系数和负载反射系数的一系列值分别形成一个等幅度的矢量圆，再通过求解圆心，计算出被测低损低介电材料的传输系数和反射系数，最终通过NRW(Nicolson–Ross–Weir)公式计算得到被测材料的介电系数和/或磁导率。本发明能够提高介电系数和磁导率测量结果的准确度。
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
8
records
(took 0.085 seconds)
