一种电导率及其修正系数测定方法

    公开(公告)号:CN116299119A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310180540.1

    申请日:2023-02-15

    Abstract: 本发明涉及电子工程技术领域,提供一种电导率及其修正系数测定方法,其中电导率修正系数测定方法为:首先获取被测样件的表面上不同点位的厚度分布数据;然后基于厚度分布数据,确定被测样件的厚度曲面;最后基于厚度曲面,确定被测样件的目标电导率修正系数。该方法可以有效排除被测样件的非均匀厚度分布效应,避免了车、铣、刨、磨等加工方法对被测样件材料各向异性特征的破坏,可以准确确定出被测样件的电导率修正系数,进而可以为被测样件的电导率测定提供校正方案,提高测定的被测样件的电导率的准确性,保证被测样件的产品质量以及合理应用。

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