缺陷检查系统及缺陷检查方法

    公开(公告)号:CN109297971A

    公开(公告)日:2019-02-01

    申请号:CN201810793863.7

    申请日:2018-07-18

    Abstract: 本发明提供缺陷检查系统及缺陷检查方法。在缺陷检查系统(1)中,由摄像部(3)拍摄出在输送方向(X)上亮度发生变化的二维图像,由列分割处理部(9)处理成使二维图像的相同位置的列依照时间序列的顺序排列而成的列分割图像的图像数据,由分类部(10)将不同的亮度的列分割图像分类为多个列分割图像组,由合并部(11)将在列分割图像中对检查对象(T)的相同位置进行拍摄得到的图像数据的像素值彼此合并,按列分割图像组生成图像合并数据,由分割输出部(12)按照预先设定的规则对图像合并数据进行分割并输出,按基于预先设定的规则进行的分割而使图像合并数据的图像的呈现方式不同,容易识别缺陷的类别。

    偏光薄膜的分类系统以及分类方法

    公开(公告)号:CN101980797B

    公开(公告)日:2013-05-22

    申请号:CN200980111169.1

    申请日:2009-03-26

    Abstract: 本发明提供一种偏光薄膜的分类系统以及分类方法。该分类系统进行对于一部分标有记号的多个片状薄膜(3)的分类,且具备:摄像图像的CCD摄像机(8);基于由CCD摄像机(8)摄像的图像来检测在片状薄膜(3)上存在的记号,并输出表示记号位置的记号检测信号(CH0、CH1)的图像处理装置(9);基于记号检测信号(CH0、CH1)来判断片状薄膜(3)上是否标有记号的PLC(10);以及基于PLC(10)的判断结果来将上述多个片状薄膜(3)分类成标有记号的片状薄膜(3)和没有标记号的片状薄膜(3)。由此,本发明能够不用人力而是自动地分类成标有记号的片状薄膜和没有标记号的片状薄膜。

    缺陷检查用图像处理装置和缺陷检查用图像处理方法

    公开(公告)号:CN102630299A

    公开(公告)日:2012-08-08

    申请号:CN201080048759.7

    申请日:2010-09-29

    Inventor: 广濑修

    Abstract: 本发明提供一种缺陷检查用图像处理装置等,其能够用产生的光线路径的不同变化来一次性以足够的精度检测出各种类型的缺陷。缺陷检查用图像处理装置(图像分析装置)(6)是对将移动中的成型片用区域相机(5)在时间上连续拍摄的图像数据进行处理的装置,包括:数据提取部(11),其对于图像数据上不同的多个位置,从不同的图像数据中分别提取相同位置的行数据;数据存储部(13),其按照图像数据上的每个位置将多个行数据在时序上进行排列,从而生成多个行合成图像数据;变化量计算部(15),其对多个行合成图像数据进行微分操作符运算,生成多个强调图像数据;相同部位判定提取部(16),其从多个强调图像数据中提取表示成型片的相同部位的强调图像数据;和累计部17,其按照每个像素将提取的强调图像数据的亮度值进行累计,从而生成缺陷检查用图像数据。

    成形片材的缺陷检查装置

    公开(公告)号:CN102224412A

    公开(公告)日:2011-10-19

    申请号:CN200980146403.4

    申请日:2009-11-17

    Inventor: 广濑修

    CPC classification number: G01N21/8921 G01N21/8903

    Abstract: 本发明的缺陷检查装置包含:摄像部(51~5n),对成形片材的二维图像进行多次拍摄而生成多个二维图像数据;线状光源,用于以将线状光源像投影至成形片材中的摄像区域的一部分的方式对成形片材进行照明;搬送装置,在与线状光源的长度方向交叉且与成形片材的厚度方向正交的方向上搬送成形片材,以使成形片材中的线状光源像的位置发生变化;线缺陷用图像分析部(611~61n),根据由摄像部(51~5n)所生成的多个二维图像数据,通过线缺陷检测算法对缺陷进行检测;点缺陷用图像分析部(621~62n),根据由摄像部(51~5n)所生成的多个二维图像数据,通过点缺陷检测算法对缺陷进行检测。由此,可提供能够更确实地检测出各种缺陷的成形片材的缺陷检查装置。

    光学片的制造方法及光学片的制造装置

    公开(公告)号:CN102262252A

    公开(公告)日:2011-11-30

    申请号:CN201110136769.2

    申请日:2011-05-25

    Abstract: 本发明提供一种可以在光学片的整个宽度方向连续地测定光学片的光学特性,可以高效率地制造具有所希望的光学特性的光学片的制造方法以及光学片的制造装置。光照射部将被加热处理部进行加热处理后至被卷绕部卷绕为止的片状材料在制造装置上的规定位置作为照射位置,并对位于此照射位置的片状材料的整个宽度方向的区域进行光照射;光接收部接收被光照射部照射并被片状材料的整个宽度方向的区域反射的反射光。指示部根据所接收的反射光的光量而判断是否需要变更加热处理部的加热处理的加热条件,当判断出需要变更加热条件时,输出加热条件的变更指示。

    缺陷检查系统及缺陷检查方法

    公开(公告)号:CN109297972A

    公开(公告)日:2019-02-01

    申请号:CN201810800030.9

    申请日:2018-07-19

    Abstract: 本发明提供缺陷检查系统及缺陷检查方法。缺陷检查系统(1)具备光源(2)、摄像部(3)、输送部(4)及图像处理部(5),由图像处理部(5)基于对与二维图像(F)所包含的缺陷的类别的识别相关的机械学习的结果进行积累得到的数据,来识别由摄像部(3)按离散时间拍摄出的一系列的二维图像所包含的缺陷的类别,因此通过将机械学习适用于按离散时间拍摄出的二维图像而使识别精度提高,除此以外,由摄像部(3)拍摄出在二维图像的与输送方向(X)一致的方向上亮度发生变化的二维图像,因此机械学习被适用于在按离散时间拍摄出的二维图像中的沿着输送方向的各部位处亮度发生变化的二维图像,能够提高缺陷(D)的识别精度。

    缺陷检查系统、膜制造装置以及缺陷检查方法

    公开(公告)号:CN107462580A

    公开(公告)日:2017-12-12

    申请号:CN201710387479.2

    申请日:2017-05-26

    CPC classification number: G01N21/8851 G01N21/01 G01N2021/0112 G06T7/0004

    Abstract: 本发明提供能够容易地确定膜的缺陷的位置且能够更加容易地识别缺陷的种类的缺陷检查系统、膜制造装置以及缺陷检查方法。由缺陷检查系统(100a)的解析装置(6)的缺陷位置确定部(62)根据由缺陷检查系统的图像处理部(52)的变化量算出部(13)、同一部位判定提取部(14)、累计部(15)以及图像生成部(16)处理后的缺陷增强处理图像(E(t1)),来确定膜(2a)上的缺陷的位置,由解析装置的缺陷种类识别部根据由图像处理部的数据提取部以及数据保存部处理后的列分割图像来识别由缺陷位置确定部确定位置后的缺陷的种类。列分割图像容易识别缺陷的种类。因此,能够容易地确定缺陷的位置且能够更容易地识别缺陷的种类。

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