一种负载点电源模块的3D集成结构及组装工艺

    公开(公告)号:CN112290772B

    公开(公告)日:2022-03-04

    申请号:CN202010871793.X

    申请日:2020-08-26

    Abstract: 本发明涉及一种负载点电源模块的3D集成结构,包括盖板结构、围框结构、DPC基板、HTCC基板、散热铜片,围框结构焊接在HTCC基板上,盖板结构采用平行缝焊焊接在围框结构上,围框结构、HTCC基板和盖板结构三者共同保持电源模块内部形成密封腔体;DPC基板的厚金属层电流承载能力≥20A,其上放置支架电感器、芯片、陶瓷电容器、钽电容器,DPC基板整板布线损耗≤0.5W;HTCC基板正面与反面中心区域设计方形凹腔结构,包括顶部凹腔和底部凹腔,其中顶部凹腔放置芯片,底部凹腔放置陶瓷电容器与电阻器。本发明芯片在DPC基板上的双面互联减小了金属层走线围成的环路面积,降低了布线寄生阻抗及其带来的损耗,进而提高了负载点电源模块的效率。

    一种负载点电源模块的3D集成结构及组装工艺

    公开(公告)号:CN112290772A

    公开(公告)日:2021-01-29

    申请号:CN202010871793.X

    申请日:2020-08-26

    Abstract: 本发明涉及一种负载点电源模块的3D集成结构,包括盖板结构、围框结构、DPC基板、HTCC基板、散热铜片,围框结构焊接在HTCC基板上,盖板结构采用平行缝焊焊接在围框结构上,围框结构、HTCC基板和盖板结构三者共同保持电源模块内部形成密封腔体;DPC基板的厚金属层电流承载能力≥20A,其上放置支架电感器、芯片、陶瓷电容器、钽电容器,DPC基板整板布线损耗≤0.5W;HTCC基板正面与反面中心区域设计方形凹腔结构,包括顶部凹腔和底部凹腔,其中顶部凹腔放置芯片,底部凹腔放置陶瓷电容器与电阻器。本发明芯片在DPC基板上的双面互联减小了金属层走线围成的环路面积,降低了布线寄生阻抗及其带来的损耗,进而提高了负载点电源模块的效率。

    一种高可靠IGBT模块芯片互连方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113972168A

    公开(公告)日:2022-01-25

    申请号:CN202111188897.1

    申请日:2021-10-12

    Abstract: 本发明涉及半导体芯片微组装技术领域的一种高可靠IGBT模块芯片互连方法,包括:a、在IGBT模块的互连区域设计加工相适配的金属片状互连单元,对所述金属片状互连单元的焊接部分做搪锡处理,并进行清洗;b、根据所述互连区域的尺寸裁剪焊料片、压平,并做等离子清洗处理;c、将所述金属片状互连单元、所述焊料片和所述互连区域依次对准并固定;d、采用焊接设备将所述金属片状互连单元将所述互连区域相连。本发明克服IGBT模块中IGBT芯片‑FRD芯片‑DBC基板之间通过粗铝丝键合互连方式的不足,以满足IGBT芯片‑FRD芯片‑DBC基板之间的高可靠连接。

    功率半导体模块用焊接工艺

    公开(公告)号:CN109534842B

    公开(公告)日:2021-08-10

    申请号:CN201811417555.0

    申请日:2018-11-26

    Abstract: 功率半导体模块用焊接工艺,包括步骤如下:制作焊料片;等离子清洗;制作预制工件;排出真空炉内的空气;加热预制工件直至所述焊料片融化均匀变为熔融焊料;抽真空后填充甲酸和氮气的混合气体,然后再填充氮气,使甲酸分解的H2去除熔融焊料、陶瓷板以及底板表面的氧化物;抽真空,直至熔融焊料内的气泡充分排出;回填氮气并冷却降温,使熔融焊料冷却凝固完成功率半导体模块的焊接。本发明焊接方法可以使去氧化和焊接过程一次完成,提高焊接效率同时焊料熔融状态下的去氧化更完全,焊接效果更好,利用等离子清洗与焊接过程中的气氛和真空度控制相结合,实现焊接质量和效率的提升。

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