公开(公告)号：CN106908451B

公开(公告)日：2019-06-28

申请号：CN201710125692.6

申请日：2017-03-05

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 刘增华 ,  冯雪健 ,  陈洪磊 ,  马春雷 ,  何存富 ,  吴斌

IPC: G01N21/95 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明公开了基于激光Lamb波频率‑波数分析的金属板缺陷定位方法，属于激光超声无损检测领域。首先，通过激光激励探头在金属板上固定位置激励，激光接收探头过缺陷线扫描接收，获取N组Lamb波数据，得到扫描路径上的时间‑空间波场。其次，对采集到的N组Lamb波数据分别采用连续小波变换的方法提取特定中心频率下的信号，保证缺陷定位结果的可分析性。最后，对提取后的波场信号利用短空二维傅里叶变换的算法进行空间‑频率‑波数成像，根据扫描路径上波数谱的特征实现缺陷的定位。本发明提供了一种完全非接触式的检测方法，在波数域内揭示了Lamb波和缺陷之间的作用规律。

公开(公告)号：CN106908451A

公开(公告)日：2017-06-30

申请号：CN201710125692.6

申请日：2017-03-05

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 刘增华 ,  冯雪健 ,  陈洪磊 ,  马春雷 ,  何存富 ,  吴斌

IPC: G01N21/95 ,  G01N21/01

CPC classification number: G01N21/95 ,  G01N21/01 ,  G01N21/88 ,  G01N21/8851 ,  G01N2021/0112 ,  G01N2201/06113

Abstract: 本发明公开了基于激光Lamb波频率‑波数分析的金属板缺陷定位方法，属于激光超声无损检测领域。首先，通过激光激励探头在金属板上固定位置激励，激光接收探头过缺陷线扫描接收，获取N组Lamb波数据，得到扫描路径上的时间‑空间波场。其次，对采集到的N组Lamb波数据分别采用连续小波变换的方法提取特定中心频率下的信号，保证缺陷定位结果的可分析性。最后，对提取后的波场信号利用短空二维傅里叶变换的算法进行空间‑频率‑波数成像，根据扫描路径上波数谱的特征实现缺陷的定位。本发明提供了一种完全非接触式的检测方法，在波数域内揭示了Lamb波和缺陷之间的作用规律。

公开(公告)号：CN109374971A

公开(公告)日：2019-02-22

申请号：CN201811112787.5

申请日：2018-09-25

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 刘增华 ,  王可心 ,  冯雪健 ,  何存富 ,  吴斌

IPC: G01R27/02

CPC classification number: G01R27/02

Abstract: 本发明公开了基于嵌入式系统的兆赫兹阻抗测量计，由嵌入式系统，阻抗测量模拟电路系统以及上位机软件组成。其中，嵌入式系统与阻抗测量模拟电路系统通过SMB连接线进行连接，上位机通过USB转串口连接线与嵌入式系统进行连接。数字电路由双核心板和载板组成。数字电路以FPGA和STM32为双核心芯片，利用FPGA芯片输出一定相位及频率的双通道激励信号，激励信号输入到模拟电路部分，模拟电路利用阻抗测量理论进行计算，将采集到的结果通过RS232协议发送至上位机，上位机完成阻抗值的计算分析与数据保存。本发明的AD转换采样率在该阻抗测量理论中的要求很低，对后续芯片采样率的要求也大大降低。所需参数较少，便于计算，大大简化运算。

公开(公告)号：CN109374971B

公开(公告)日：2020-12-04

申请号：CN201811112787.5

申请日：2018-09-25

Applicant: 北京工业大学

Inventor： 刘增华 ,  王可心 ,  冯雪健 ,  何存富 ,  吴斌

IPC: G01R27/02

Abstract: 本发明公开了基于嵌入式系统的兆赫兹阻抗测量计，由嵌入式系统，阻抗测量模拟电路系统以及上位机软件组成。其中，嵌入式系统与阻抗测量模拟电路系统通过SMB连接线进行连接，上位机通过USB转串口连接线与嵌入式系统进行连接。数字电路由双核心板和载板组成。数字电路以FPGA和STM32为双核心芯片，利用FPGA芯片输出一定相位及频率的双通道激励信号，激励信号输入到模拟电路部分，模拟电路利用阻抗测量理论进行计算，将采集到的结果通过RS232协议发送至上位机，上位机完成阻抗值的计算分析与数据保存。本发明的AD转换采样率在该阻抗测量理论中的要求很低，对后续芯片采样率的要求也大大降低。所需参数较少，便于计算，大大简化运算。