半导体封装结构
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN118969739B

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202411438306.5

    申请日:2024-10-15

    Abstract: 本发明提供了一种半导体封装结构,其中,半导体封装结构包括:封装壳,包括基板以及与基板连接的围板;半导体芯片,与基板连接;第一端子,与半导体芯片的第一侧连接;第二端子,与半导体芯片的第二侧连接;绝缘加强部,与围板连接,绝缘加强部包括第一绝缘加强肋和第二绝缘加强肋,第一绝缘加强肋设置在第一端子和第二端子之间,第二绝缘加强肋的两端分别与围板的相对的两个内表面连接,第一绝缘加强肋和第二绝缘加强肋相交且相连。本申请的技术方案能够有效地解决相关技术中的壳体的绝缘性能和结构强度难以兼顾的问题。

    半导体器件的封装结构和封装方法

    公开(公告)号:CN117766470B

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202410190217.7

    申请日:2024-02-20

    Abstract: 本申请公开了一种半导体器件的封装结构和封装方法,该半导体器件的封装结构包括:绝缘基板,绝缘壳体,多个绝缘肋条和半导体器件,其中绝缘壳体位于绝缘基板的一侧以围成容纳空间,绝缘壳体具有顶面和侧壁,至少一个侧壁具有多个间隔设置的条状结构;多个绝缘肋条位于相邻的多个条状结构之间,绝缘肋条分别与顶面和条状结构所在的侧壁连接,相邻条状结构之间具有间隔区域,绝缘肋条在第一方向上具有相对的两端,绝缘肋条的两端突出于间隔区域,第一方向为绝缘基板指向绝缘壳体的方向;半导体器件设置于容纳空间中;该半导体的封装结构实现了在高电压、小电流的应用场景下满足了器件的高绝缘强度需求。

    半导体器件的封装结构和封装方法

    公开(公告)号:CN117766470A

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN202410190217.7

    申请日:2024-02-20

    Abstract: 本申请公开了一种半导体器件的封装结构和封装方法,该半导体器件的封装结构包括:绝缘基板,绝缘壳体,多个绝缘肋条和半导体器件,其中绝缘壳体位于绝缘基板的一侧以围成容纳空间,绝缘壳体具有顶面和侧壁,至少一个侧壁具有多个间隔设置的条状结构;多个绝缘肋条位于相邻的多个条状结构之间,绝缘肋条分别与顶面和条状结构所在的侧壁连接,相邻条状结构之间具有间隔区域,绝缘肋条在第一方向上具有相对的两端,绝缘肋条的两端突出于间隔区域,第一方向为绝缘基板指向绝缘壳体的方向;半导体器件设置于容纳空间中;该半导体的封装结构实现了在高电压、小电流的应用场景下满足了器件的高绝缘强度需求。

    多界面互连构件及具有其的功率模块

    公开(公告)号:CN119050091B

    公开(公告)日:2025-03-25

    申请号:CN202411509883.9

    申请日:2024-10-28

    Abstract: 本发明提供了一种多界面互连构件及具有其的功率模块,多界面互连构件包括:主体段,主体段的下表面为导电连接面;第一界面互连段,位于主体段的侧部并与主体段连接,第一界面互连段的下表面为第一互连面;第二界面互连段,位于主体段的侧部并与主体段连接,第二界面互连段的下表面为第二互连面;其中,主体段的下表面、第一界面互连段的下表面以及第二界面互连段的下表面中的至少一个设置有浸润槽。通过本申请提供的技术方案,能够解决相关技术中的功率模块内利用率低的问题。

    多界面互连构件及具有其的功率模块

    公开(公告)号:CN119050091A

    公开(公告)日:2024-11-29

    申请号:CN202411509883.9

    申请日:2024-10-28

    Abstract: 本发明提供了一种多界面互连构件及具有其的功率模块,多界面互连构件包括:主体段,主体段的下表面为导电连接面;第一界面互连段,位于主体段的侧部并与主体段连接,第一界面互连段的下表面为第一互连面;第二界面互连段,位于主体段的侧部并与主体段连接,第二界面互连段的下表面为第二互连面;其中,主体段的下表面、第一界面互连段的下表面以及第二界面互连段的下表面中的至少一个设置有浸润槽。通过本申请提供的技术方案,能够解决相关技术中的功率模块内利用率低的问题。

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