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公开(公告)号：CN120009617A
公开(公告)日：2025-05-16
申请号：CN202510218570.6
申请日：2025-02-26
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 华北电力大学(保定)
Abstract: 本发明公开了一种宽频电流传感器转移阻抗特性测量校准装置，可用于变电站控保设备线缆耦合骚扰电流测量用的宽频传感器校准，包括矩形金属板构成的凹型金属腔体、焊接在凹型金属腔体两侧金属板中心的SMA端口、标准的盘式圆环薄片低阻值电阻，可拆卸的圆形金属连接杆和高频连接同轴电缆。两个SMA端口焊接在凹型金属腔体两侧金属板中心，其中一个SMA端口的中心导体和外导体间焊接标准的2欧姆盘式圆环薄片低阻值电阻；可拆卸的金属连接杆连接两个SMA端口在凹型槽内部部分的中心导体，构成传输通路；被测的电流传感器放置在附加低阻值盘式圆环薄片低阻值电阻的金属板上，金属连接杆从电流传感器中心位置穿过。
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公开(公告)号：CN116930670B
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202311205204.4
申请日：2023-09-19
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网江苏省电力有限公司常州供电分公司 , 国家电网有限公司
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请提供一种芯片级电磁干扰传导注入测试方法及装置，属于芯片电磁抗扰度测试技术领域。所述芯片级电磁干扰传导注入测试方法包括：构建测试装置；根据当前被测芯片标定测试装置不同参数对应的注入能量及波形特征；将当前被测芯片连接到测试装置上；采用测试装置注入电磁干扰到当前被测芯片；记录当前被测芯片的不同注入能量及波形特征以及对应的芯片状态。通过上述技术手段，在对被测芯片进行测试前标定被测芯片在测试装置采用不同参数时注入的能量及波形特征，然后将被测芯片连接到测试装置上进行测试，最后记录被测芯片状态及对应的注入能量及波形特征，为研究干扰注入能量及波形特征对芯片失效的影响提供数据基础，该方法适用范围广。
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公开(公告)号：CN116520137A
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN202310762995.4
申请日：2023-06-27
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司
Abstract: 本申请提供一种低噪声芯片引脚干扰测量辅助装置及测量系统，属于芯片电磁兼容测量技术领域。所述低噪声芯片引脚干扰测量辅助装置包括：辅助测量支架和多个SMA转BNC接头；所述辅助测量支架上开设有多个安装孔，多个所述SMA转BNC接头一一对应安装在所述安装孔内，且与所述辅助测量支架形成导电接触，多个所述安装孔间隔预设间距设置；所述辅助测量支架与地形成导电接触。该干扰测量辅助装置采用辅助测量支架实现接地，减少接地电阻，设计SMA转BNC接头用于连接被测芯片和示波器，有利于减小寄生电感。
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公开(公告)号：CN114720739B
公开(公告)日：2022-08-23
申请号：CN202210561153.8
申请日：2022-05-23
Applicant: 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网江苏省电力有限公司常州供电分公司
Abstract: 本发明涉及电磁技术领域，公开一种传输线尺寸的确定方法、系统与脉冲电场发生器，所述方法包括：根据测量的脉冲电场波形的特征参数值及待测设备的尺寸，确定具有特定结构的传输线的尺寸；根据传输线的尺寸及脉冲电场波形的特征参数值，确定脉冲电场发生器的电容、电感与终端阻抗；根据脉冲电场发生器的电容、电感与终端阻抗，建立脉冲电场发生器的等效电路模型；及根据等效电路模型的输出结果与脉冲电场波形，优化传输线的尺寸。本发明可根据变电站的隔离开关等一次设备操作所产生的脉冲电场波形设计具有特定结构的传输线的尺寸，由所设计的传输线构成的脉冲电场发生器可灵活再现脉冲电场波形，并且该再现系统具有占地面积可控、成本低等优势。
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公开(公告)号：CN114200244A
公开(公告)日：2022-03-18
申请号：CN202210146277.X
申请日：2022-02-17
Applicant: 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网江苏省电力有限公司常州供电分公司
Abstract: 本发明实施例提供一种用于电力二次设备的环境应力试验系统，属于电力技术领域。所述用于电力二次设备的环境应力试验系统包括环境试验室，以及在所述环境试验室内设置的环境模拟系统、电气控制设备、故障模拟系统，所述环境模拟系统用于生成所述电力二次设备所处环境的综合环境参数，所述电气控制设备用于控制所述环境模拟系统生成所述综合环境参数，并对所述电力二次设备进行综合环境应力试验，所述故障模拟系统，配合所述环境模拟系统，用于模拟所述电力二次设备试验的电网各类故障和异常运行工况。通过环境模拟系统形成多种不同环境影响因素的共同作用，模拟户外电网真实运行环境。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118731511A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410747218.7
申请日：2024-06-11
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网冀北电力有限公司计量中心 , 国家电网有限公司
Abstract: 本发明涉及芯片电磁兼容领域，提供一种测量通路谐振效应评估方法及装置、电磁干扰测试方法。所述方法包括：对芯片电磁干扰测试的测量结果进行频谱分析，以初步确定引起测量通路谐振效应的谐振频段；对测量系统进行频域测试，根据频域测试结果预测测量系统的测量通路的谐振点；利用仿真软件对测量系统进行测量仿真得到仿真结果，根据仿真结果对引起测量通路谐振效应的谐振频段以及测量通路的谐振点进行验证，以评估测量系统的测量通路谐振效应。本发明通过分析引起测量通路谐振效应的谐振频段和谐振点，通过仿真结果对其进行验证，确定高精度测量的影响因素，指导芯片电磁兼容标准的制定和芯片高可靠设计。
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公开(公告)号：CN116298653B
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202310586457.4
申请日：2023-05-24
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明提供一种瞬态电磁干扰注入装置、瞬态电磁干扰试验系统和方法，属于电磁干扰技术领域。瞬态电磁干扰注入装置包括：控制设备、有界波模拟器以及干扰信号耦合线；所述控制设备与所述有界波模拟器连接，用于控制所述有界波模拟器产生模拟电磁场；所述干扰信号耦合线设置在所述有界波模拟器的两极板的平行板段之间，且平行于所述有界波模拟器的平行板段产生的电场，用于将感应到的电磁场耦合成电磁干扰信号。该瞬态电磁干扰注入装置采用有界波模拟器作为干扰源，采用干扰信号耦合线将感应到的电磁场耦合成电磁干扰信号，以传导的形式将瞬态电磁干扰注入到待测设备的端口，能更接近设备实际应用过程中面临的严酷电磁环境。
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公开(公告)号：CN116500348A
公开(公告)日：2023-07-28
申请号：CN202310792306.4
申请日：2023-06-30
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司
Abstract: 本发明提供一种低频电磁测量装置及系统，属于低频电磁测量领域，包括：屏蔽舱，为密封的舱体结构，舱壁上开设有出线孔；连接件，设置在屏蔽舱的内壁的出线孔处；连接件由一体成型的第一连接部和第二连接部构成，第一连接部为片状结构，第二连接部为柱状结构，开设于第一连接部的贯穿孔与开设于第二连接部的轴向通孔共同作为连接件的连接孔，连接孔与出线孔构型匹配；低频电磁测量设备的测量设备本体设置在屏蔽舱内，线缆通过连接孔和出线孔通出屏蔽舱；第一屏蔽层，包覆在线缆表面且填充线缆与连接孔和出线孔之间的缝隙，第一屏蔽层由带状屏蔽膜呈螺旋状缠绕而成。通过本发明提供的装置，有效将低频电磁干扰引入地下，提高低频电磁屏蔽效果。
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公开(公告)号：CN114966294B
公开(公告)日：2022-10-25
申请号：CN202210894078.7
申请日：2022-07-27
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司 , 国网福建省电力有限公司电力科学研究院 , 国家电网有限公司
Abstract: 本发明实施例提供一种电力设备的可靠性试验系统及控制方法、装置和介质，属于可靠性试验技术领域。高温老化箱，设置于试验室端，用于容纳预期进行可靠性试验的第一电力设备；控制装置，设置于试验室端并与所述高温老化箱连接，用于设置在高温老化箱内对所述第一电力设备进行可靠性试验的试验环境参数，并监测第一电力设备在基于试验环境参数的可靠性试验下的运行情况；采集装置，其设置于位于现场端的第二电力设备的箱体内，用于采集第二电力设备内部的参考环境参数，并将该参考环境参数提供给控制装置以使得控制装置基于参考环境参数设置试验环境参数。本发明对于第一电力设备的试验环境参数设置更贴近实际，试验结果更准确可靠。
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公开(公告)号：CN115186503A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210892389.X
申请日：2022-07-27
Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司
IPC: G06F30/20 , G06F119/02 , G06F119/04
Abstract: 本发明实施例提供一种设备寿命预测方法、装置及恒温加速试验系统，属于设备可靠性预测技术领域。设备寿命预测方法包括：获取设备中的各个电路板卡上的每个元器件对应于初始恒定温度的初始工作温度以及对应于第一恒定温度的第一工作温度；基于每个元器件的激活能、初始工作温度和第一工作温度，分别确定每个元器件的加速比；根据每个元器件的加速比和失效率，确定设备的加速比；以及根据从在第一恒定温度下开始对设备进行恒温加速试验至该设备中的任一电路板卡出现故障的试验时长和所确定的设备的加速比，预测设备的寿命。本发明实施例对设备寿命的预测更为精准可靠，并且无需试验大量样本，成本低，且适用性更强。
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