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公开(公告)号：CN109579738B
公开(公告)日：2020-08-28
申请号：CN201910006170.3
申请日：2019-01-04
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明提出了一种二值条纹离焦投影系统低通滤波特性测量方法，属于光学三维测量技术领域。首先用相机采集刀口图像，并求取相机点扩散函数。投影系统离焦投射二值条纹，用相机拍摄该离焦二值条纹图像。之后，利用相机点扩散函数，使用维纳滤波复原算法获得复原离焦二值条纹图像的频谱图。最后，根据输入投影系统的原二值条纹图像频谱图以及复原的离焦二值条纹图像频谱图，测出投影系统的调制传递函数。调制传递函数即反映了投影系统的低通滤波特性。采用本发明方法，无需将投影物镜从投影系统上拆下检测，简化了检测步骤。同时，直接利用投影系统，无需其它中间辅助系统，不会在检测过程中带来其它系统误差，整个采集过程方便、实时、快速。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109827757A
公开(公告)日：2019-05-31
申请号：CN201910201254.2
申请日：2019-03-18
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种用于对一维液晶光栅的全参数进行测量的方法，属于光电测量技术领域。本发明首先构建液晶光栅线性模型，获得夫琅合费衍射的液晶光栅衍射效率公式。接着利用衍射效率测量装置测量两接近波长下的0级，+1级，+2级衍射效率，以及衍射角的大小，之后构建包含液晶光栅参数的方程组并计算液晶光栅全参数的大小。最后，对计算结果进行验证。采用本发明公开的方法，测量步骤简单，不具有破坏性，仅通过光栅衍射效率测量装置对液晶光栅的衍射效率进行测量，便可获得液晶光栅的全参数。能够有效减少测量多个液晶光栅参数的测量环节，减少测量液晶光栅全参数的测量时间，有效减少误差来源，并且最终的测量结果具有可验证性。
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公开(公告)号：CN109827757B
公开(公告)日：2020-01-21
申请号：CN201910201254.2
申请日：2019-03-18
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种用于对一维液晶光栅的全参数进行测量的方法，属于光电测量技术领域。本发明首先构建液晶光栅线性模型，获得夫琅合费衍射的液晶光栅衍射效率公式。接着利用衍射效率测量装置测量两接近波长下的0级，+1级，+2级衍射效率，以及衍射角的大小，之后构建包含液晶光栅参数的方程组并计算液晶光栅全参数的大小。最后，对计算结果进行验证。采用本发明公开的方法，测量步骤简单，不具有破坏性，仅通过光栅衍射效率测量装置对液晶光栅的衍射效率进行测量，便可获得液晶光栅的全参数。能够有效减少测量多个液晶光栅参数的测量环节，减少测量液晶光栅全参数的测量时间，有效减少误差来源，并且最终的测量结果具有可验证性。
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公开(公告)号：CN109579738A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201910006170.3
申请日：2019-01-04
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明提出了一种二值条纹离焦投影系统低通滤波特性测量方法，属于光学三维测量技术领域。首先用相机采集刀口图像，并求取相机点扩散函数。投影系统离焦投射二值条纹，用相机拍摄该离焦二值条纹图像。之后，利用相机点扩散函数，使用维纳滤波复原算法获得复原离焦二值条纹图像的频谱图。最后，根据输入投影系统的原二值条纹图像频谱图以及复原的离焦二值条纹图像频谱图，测出投影系统的调制传递函数。调制传递函数即反映了投影系统的低通滤波特性。采用本发明方法，无需将投影物镜从投影系统上拆下检测，简化了检测步骤。同时，直接利用投影系统，无需其它中间辅助系统，不会在检测过程中带来其它系统误差，整个采集过程方便、实时、快速。
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公开(公告)号：CN109579739A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201910011881.X
申请日：2019-01-07
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明涉及一种离轴折反式部分补偿器系统及设计方法，属于光电检测技术领域。该补偿器系统包括两级补偿器，系统设计优化方法利用三级像差理论建立系统全口径球差、像散关系式，结合近轴光线公式建立关于补偿器结构参数的方程组，之后结合遗传算法求解初始结构参数并在光学设计软件建模，设置优化目标、优化操作数及优化变量进行优化，实现对非旋转对称非球面表面形貌的检测。本发明系统结构简单易实现，可实现一对多的面形检测，降低补偿器的设计难度和加工成本，同时，该补偿器设计方法可有效获得初始结构全局最优值，有效避免现有光学设计软件的自身缺陷，提高非旋转对称非球面检测精度。
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公开(公告)号：CN109579739B
公开(公告)日：2020-06-16
申请号：CN201910011881.X
申请日：2019-01-07
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明涉及一种离轴折反式部分补偿器系统及设计方法，属于光电检测技术领域。该补偿器系统包括两级补偿器，系统设计优化方法利用三级像差理论建立系统全口径球差、像散关系式，结合近轴光线公式建立关于补偿器结构参数的方程组，之后结合遗传算法求解初始结构参数并在光学设计软件建模，设置优化目标、优化操作数及优化变量进行优化，实现对非旋转对称非球面表面形貌的检测。本发明系统结构简单易实现，可实现一对多的面形检测，降低补偿器的设计难度和加工成本，同时，该补偿器设计方法可有效获得初始结构全局最优值，有效避免现有光学设计软件的自身缺陷，提高非旋转对称非球面检测精度。
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