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公开(公告)号：CN109579739A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201910011881.X
申请日：2019-01-07
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明涉及一种离轴折反式部分补偿器系统及设计方法，属于光电检测技术领域。该补偿器系统包括两级补偿器，系统设计优化方法利用三级像差理论建立系统全口径球差、像散关系式，结合近轴光线公式建立关于补偿器结构参数的方程组，之后结合遗传算法求解初始结构参数并在光学设计软件建模，设置优化目标、优化操作数及优化变量进行优化，实现对非旋转对称非球面表面形貌的检测。本发明系统结构简单易实现，可实现一对多的面形检测，降低补偿器的设计难度和加工成本，同时，该补偿器设计方法可有效获得初始结构全局最优值，有效避免现有光学设计软件的自身缺陷，提高非旋转对称非球面检测精度。
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公开(公告)号：CN109827757B
公开(公告)日：2020-01-21
申请号：CN201910201254.2
申请日：2019-03-18
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种用于对一维液晶光栅的全参数进行测量的方法，属于光电测量技术领域。本发明首先构建液晶光栅线性模型，获得夫琅合费衍射的液晶光栅衍射效率公式。接着利用衍射效率测量装置测量两接近波长下的0级，+1级，+2级衍射效率，以及衍射角的大小，之后构建包含液晶光栅参数的方程组并计算液晶光栅全参数的大小。最后，对计算结果进行验证。采用本发明公开的方法，测量步骤简单，不具有破坏性，仅通过光栅衍射效率测量装置对液晶光栅的衍射效率进行测量，便可获得液晶光栅的全参数。能够有效减少测量多个液晶光栅参数的测量环节，减少测量液晶光栅全参数的测量时间，有效减少误差来源，并且最终的测量结果具有可验证性。
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公开(公告)号：CN109827757A
公开(公告)日：2019-05-31
申请号：CN201910201254.2
申请日：2019-03-18
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及一种用于对一维液晶光栅的全参数进行测量的方法，属于光电测量技术领域。本发明首先构建液晶光栅线性模型，获得夫琅合费衍射的液晶光栅衍射效率公式。接着利用衍射效率测量装置测量两接近波长下的0级，+1级，+2级衍射效率，以及衍射角的大小，之后构建包含液晶光栅参数的方程组并计算液晶光栅全参数的大小。最后，对计算结果进行验证。采用本发明公开的方法，测量步骤简单，不具有破坏性，仅通过光栅衍射效率测量装置对液晶光栅的衍射效率进行测量，便可获得液晶光栅的全参数。能够有效减少测量多个液晶光栅参数的测量环节，减少测量液晶光栅全参数的测量时间，有效减少误差来源，并且最终的测量结果具有可验证性。
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公开(公告)号：CN109579739B
公开(公告)日：2020-06-16
申请号：CN201910011881.X
申请日：2019-01-07
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明涉及一种离轴折反式部分补偿器系统及设计方法，属于光电检测技术领域。该补偿器系统包括两级补偿器，系统设计优化方法利用三级像差理论建立系统全口径球差、像散关系式，结合近轴光线公式建立关于补偿器结构参数的方程组，之后结合遗传算法求解初始结构参数并在光学设计软件建模，设置优化目标、优化操作数及优化变量进行优化，实现对非旋转对称非球面表面形貌的检测。本发明系统结构简单易实现，可实现一对多的面形检测，降低补偿器的设计难度和加工成本，同时，该补偿器设计方法可有效获得初始结构全局最优值，有效避免现有光学设计软件的自身缺陷，提高非旋转对称非球面检测精度。
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