一种含表面氧化层的金属氢化物形核的分析方法

    公开(公告)号:CN111537534B

    公开(公告)日:2021-09-17

    申请号:CN202010453624.4

    申请日:2020-05-26

    Abstract: 本发明公开了一种含表面氧化层的金属氢化物形核的分析方法。该方法包括如下步骤:首先将待测金属样品装入反应腔,然后向腔体内通入氢气/氘气,在该过程中同时开展小角中子散射测试,对小角散射实验数据进行处理并获得绝对强度散射曲线,通过绝对散射强度增加的时间可以判断氢化物形核的临界点。本发明的含表面氧化层的金属氢化物形核的分析方法提供了一种灵敏的初始氢化物形核测量方法,可用于真实金属材料(表面含氧化层、损伤、杂质等)表面氢化反应评估。本发明观测的含表面氧化层的金属氢化物形核是实际金属氢化反应的关键过程,可用于金属抗氢腐蚀性能评估,储氢材料活化流程优化。

    一种用于脆性材料微观结构研究的中子测量方法

    公开(公告)号:CN108956665B

    公开(公告)日:2020-10-23

    申请号:CN201810396123.X

    申请日:2018-04-28

    Abstract: 本发明公开了一种用于脆性材料微观结构研究的中子测量方法,该方法通过合理配置多种测量设备与布局其相对位置关系和引入离散应变计算方法的方式,实现了对脆性材料在开展巴西实验过程中进行不同应变下中子小角散射信号测量,同时可有效保证不同应变状态下的被测样品中子测量区域的一致性。该方法配合中子小角散射谱仪使用,能够对陶瓷、高分子等脆性材料开展巴西实验的同时在线检测材料微观变形、开裂损伤和破坏过程,有助于进行材料力学特性、损伤机制分析研究。

    一种测定微纳米炸药晶体粉末比表面积的方法

    公开(公告)号:CN109668816A

    公开(公告)日:2019-04-23

    申请号:CN201910101962.9

    申请日:2019-02-01

    Abstract: 本发明公开了一种测定微纳米炸药晶体粉末比表面积的方法。该方法包括如下步骤:首先将待测微纳米炸药晶体粉末装入石英样品盒,然后做小角散射测试,并对小角散射实验数据进行处理获得绝对强度散射曲线,然后通过Porod拟合和计算获得微纳米炸药晶体粉末的比表面积。本发明的测定微纳米炸药晶体粉末比表面积的方法是一种快速无损测定微纳米炸药晶体粉末比表面积的方法,具有快速、安全、绿色环保的优点。本发明测定的微纳米炸药晶体粉末比表面积是表征微纳米炸药晶体粉末微观形态特征的重要参数,可用于进一步深入探索炸药晶体粉末形态特征对其宏观感度、力学性能、爆燃特性等的影响。

    一种测定炸药晶体比表面积的方法

    公开(公告)号:CN108535163A

    公开(公告)日:2018-09-14

    申请号:CN201810396112.1

    申请日:2018-04-28

    Abstract: 本发明公开了一种测定炸药晶体比表面积的方法,该方法包括如下步骤:将特定的氘代试剂与其对应的非氘代试剂配制成系列衬度变换的混合溶液,然后将所述混合溶液和待测炸药晶体制备成系列衬度变换的炸药晶体悬浮液,然后做中子小角散射测试,并对中子小角散射实验数据进行处理获得绝对强度散射曲线,然后通过求解线性方程组和Porod拟合获得炸药晶体内部闭孔和外部比表面积的数量。该方法是同时测定炸药晶体内部闭孔和外部比表面积的有效方法,所获得的数值是深入研究炸药晶体内部缺陷对宏观感度、力学性能、爆燃特性等影响关联的基础,也可作为鉴定炸药晶体品质的参考。

    一种用于中子小角散射的掠入射实验装置

    公开(公告)号:CN108169263B

    公开(公告)日:2023-05-05

    申请号:CN201810261529.7

    申请日:2018-03-28

    Abstract: 本发明公开了一种用于中子小角散射的掠入射实验装置。该实验装置包含准直组件、固定基座、深度扫描限束组件、多维度运动组件、样品台组件。该实验装置采用的反射实验几何实现了薄膜样品小角散射信号的测量,采用的限束孔位置及大小均连续可调的限束组件实现了大型机械部件表层小角散射信号的深度扫描。本发明的用于中子小角散射的掠入射实验装置配合中子小角散射谱仪使用,可有效测量薄膜样品内部和大机械部件表层的小角中子散射信号,同时可以实现大机械部件近表层结构的深度扫描,具有结构简单、性能可靠的特点,应用前景广泛。

    一种测定微纳米炸药晶体粉末比表面积的方法

    公开(公告)号:CN109668816B

    公开(公告)日:2021-06-11

    申请号:CN201910101962.9

    申请日:2019-02-01

    Abstract: 本发明公开了一种测定微纳米炸药晶体粉末比表面积的方法。该方法包括如下步骤:首先将待测微纳米炸药晶体粉末装入石英样品盒,然后做小角散射测试,并对小角散射实验数据进行处理获得绝对强度散射曲线,然后通过Porod拟合和计算获得微纳米炸药晶体粉末的比表面积。本发明的测定微纳米炸药晶体粉末比表面积的方法是一种快速无损测定微纳米炸药晶体粉末比表面积的方法,具有快速、安全、绿色环保的优点。本发明测定的微纳米炸药晶体粉末比表面积是表征微纳米炸药晶体粉末微观形态特征的重要参数,可用于进一步深入探索炸药晶体粉末形态特征对其宏观感度、力学性能、爆燃特性等的影响。

    一种测定炸药晶体比表面积的方法

    公开(公告)号:CN108535163B

    公开(公告)日:2021-04-06

    申请号:CN201810396112.1

    申请日:2018-04-28

    Abstract: 本发明公开了一种测定炸药晶体比表面积的方法,该方法包括如下步骤:将特定的氘代试剂与其对应的非氘代试剂配制成系列衬度变换的混合溶液,然后将所述混合溶液和待测炸药晶体制备成系列衬度变换的炸药晶体悬浮液,然后做中子小角散射测试,并对中子小角散射实验数据进行处理获得绝对强度散射曲线,然后通过求解线性方程组和Porod拟合获得炸药晶体内部闭孔和外部比表面积的数量。该方法是同时测定炸药晶体内部闭孔和外部比表面积的有效方法,所获得的数值是深入研究炸药晶体内部缺陷对宏观感度、力学性能、爆燃特性等影响关联的基础,也可作为鉴定炸药晶体品质的参考。

    一种用于中子散射实验的温度加载装置

    公开(公告)号:CN106841254A

    公开(公告)日:2017-06-13

    申请号:CN201710009606.5

    申请日:2017-01-06

    CPC classification number: G01N23/20033

    Abstract: 本发明提供了一种用于中子散射实验的温度加载装置,所述装置包括由炉体腔体、入射窗口板、出射窗口板和水冷管组成的加热炉组件、由伺服电缸、样品台面和样品台底座组成的平移样品台组件、由升降气缸、高位置限位开关、低位置限位开关、活动支架和升降底座组成的气动升降支架组件。本发明的用于中子散射实验的温度加载装置中的加热炉开设样品装入孔,与气动升降支架组件配合使用可完成样品的加热炉的自动装载与卸载,再协调平移样品台组件的走位状态,能够实现在中子散(衍)射实验中对多个样品进行原位温度环境加载和样品间的自动切换,可有效降低实验人员的劳动强度、射线照射风险,缩短样品切换时间。

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