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公开(公告)号：CN114185308A
公开(公告)日：2022-03-15
申请号：CN202111430162.5
申请日：2021-11-29
Applicant: 华中科技大学
IPC: G05B19/404
Abstract: 本发明属于精密测量相关技术领域，其公开了一种基于频谱稀疏和校正的主轴误差测量方法及系统，方法包括采集主轴径向和轴向的运动数据；对运动数据进行快速傅里叶变换得到信号频谱；依据信号频谱中谱线的能量大小对频谱稀疏化；对稀疏频谱的峰值谱线进行插值校正；依据幅值和频率对插值校正后的谱线进行分离得到各项误差运动的谱线；将各项误差运动的谱线对应的时域信号进行叠加得到同步误差运动、基本误差运动和非同步误差运动，或采用运动数据减去基本误差运动和同步误差运动得到非同步误差运动。本申请可以实现主轴基本误差运动、同步误差运动和非同步误差运动精确快速的分离。
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公开(公告)号：CN105403189A
公开(公告)日：2016-03-16
申请号：CN201510961972.1
申请日：2015-12-18
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC: G01B21/22
Abstract: 本发明公开了一种导轨平行度测量方法，具体为：将左、右侧导轨的其中一侧作为基准导轨，另一侧作为被测导轨；同时采样左侧、右侧导轨的高度信息；采用最小二乘法对基准导轨的采样高度进行拟合得到一条基线；在基准导轨上依据基线生成两组包容线，从两组包容线的间距选择最小者，其对应的上、下包容线作为评定平行度的基准包容线；生成平行于基准包容线且包容被测导轨采样高度的上、下包容线，上、下包容线间的纵向间距即为平行度。本发明还提供实现上述方法的装置。本发明实现了机床导轨平行度的快速测量，解决现有测量方法计算冗杂、操作难度大的问题。
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公开(公告)号：CN114218981B
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202111406818.X
申请日：2021-11-24
Applicant: 华中科技大学
IPC: G06F18/24 , G06F18/10 , G06F18/213
Abstract: 本发明属于精密测量技术相关技术领域，其公开了一种用于数控机床主轴回转误差中芯轴圆度误差分离的方法，该方法使用小波变换模极大值与李氏指数对传感器测量误差运动进行奇异性分析，从测量误差运动中准确地定位出主轴准停阶段和各回转周期，并提出了一种WTMM脊线提取方法，以提取连续的WTMM脊线，进而从WTMM脊线截取出的主轴稳定旋转阶段信号中计算出同步误差运动，从同步误差运动中截取出满足反向法前提条件的信号段，最终利用反向法实现芯轴圆度误差与主轴误差运动的分离。本申请提供了一种更精确方便且能够适用于数控机床主轴回转误差在机测量的芯轴圆度误差分离方法。
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公开(公告)号：CN114218981A
公开(公告)日：2022-03-22
申请号：CN202111406818.X
申请日：2021-11-24
Applicant: 华中科技大学
IPC: G06K9/00
Abstract: 本发明属于精密测量技术相关技术领域，其公开了一种用于数控机床主轴回转误差中芯轴圆度误差分离的方法，该方法使用小波变换模极大值与李氏指数对传感器测量误差运动进行奇异性分析，从测量误差运动中准确地定位出主轴准停阶段和各回转周期，并提出了一种WTMM脊线提取方法，以提取连续的WTMM脊线，进而从WTMM脊线截取出的主轴稳定旋转阶段信号中计算出同步误差运动，从同步误差运动中截取出满足反向法前提条件的信号段，最终利用反向法实现芯轴圆度误差与主轴误差运动的分离。本申请提供了一种更精确方便且能够适用于数控机床主轴回转误差在机测量的芯轴圆度误差分离方法。
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公开(公告)号：CN113927369B
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN202111075488.0
申请日：2021-09-14
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种机床主轴回转误差运动综合在机测量装置及方法，属于精密测量领域，装置包括：芯轴、第一至第五非接触位移传感器、传感器支架、3轴精密调整平台、连接板、可调磁力底座和数据处理模块；其中两个非接触位移传感器布置在第一测量点处，另有两个非接触位移传感器布置在的第二测量点处，测量主轴径向误差运动；两测量点的径向误差运动的对应点的连线就是主轴轴线的空间方向，以此测量出主轴回转过程中轴线的倾斜角度；利用Donaldson反向法实现芯轴圆度误差与主轴误差运动的在机测量分离。本发明实现主轴回转过程中的径向误差运动、轴向误差运动和倾斜角度的在机综合测量，且有效去除芯轴圆度误差的影响，提高了主轴回转误差运动的测量精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113927369A
公开(公告)日：2022-01-14
申请号：CN202111075488.0
申请日：2021-09-14
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种机床主轴回转误差运动综合在机测量装置及方法，属于精密测量领域，装置包括：芯轴、第一至第五非接触位移传感器、传感器支架、3轴精密调整平台、连接板、可调磁力底座和数据处理模块；其中两个非接触位移传感器布置在第一测量点处，另有两个非接触位移传感器布置在的第二测量点处，测量主轴径向误差运动；两测量点的径向误差运动的对应点的连线就是主轴轴线的空间方向，以此测量出主轴回转过程中轴线的倾斜角度；利用Donaldson反向法实现芯轴圆度误差与主轴误差运动的在机测量分离。本发明实现主轴回转过程中的径向误差运动、轴向误差运动和倾斜角度的在机综合测量，且有效去除芯轴圆度误差的影响，提高了主轴回转误差运动的测量精度。
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公开(公告)号：CN105403189B
公开(公告)日：2017-10-31
申请号：CN201510961972.1
申请日：2015-12-18
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC: G01B21/22
Abstract: 本发明公开了一种导轨平行度测量方法，具体为：将左、右侧导轨的其中一侧作为基准导轨，另一侧作为被测导轨；同时采样左侧、右侧导轨的高度信息；采用最小二乘法对基准导轨的采样高度进行拟合得到一条基线；在基准导轨上依据基线生成两组包容线，从两组包容线的间距选择最小者，其对应的上、下包容线作为评定平行度的基准包容线；生成平行于基准包容线且包容被测导轨采样高度的上、下包容线，上、下包容线间的纵向间距即为平行度。本发明还提供实现上述方法的装置。本发明实现了机床导轨平行度的快速测量，解决现有测量方法计算冗杂、操作难度大的问题。
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公开(公告)号：CN105092228B
公开(公告)日：2017-07-18
申请号：CN201510530851.1
申请日：2015-08-26
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC: G01M13/00
Abstract: 本发明公开了一种传动切换装置，包括箱体、第一转轴、第二转轴和带轮传动机构，第一转轴和第二转轴分别可转动安装在箱体上，第一转轴和第二转轴相互平行且第一转轴位于第二转轴的下方；第一转轴和第二转轴通过所述带轮传动机构连接；箱体在对应于第一转轴和第二转轴的位置分别设置有第一动力源安装通孔和第二动力源安装通孔，以用于选择在第一动力源安装通孔或第二动力源安装通孔处安装动力源，进而通过所述动力源驱动所述第一转轴旋转。本发明极大地扩展了机床的测试平台的功能范围，简化了测试平台的系统结构和调整切换操作，降低了整个测试平台的重量和尺寸，为快速方便的开展实验研究提供了保障。
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公开(公告)号：CN104656554A
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：CN201410834415.9
申请日：2014-12-29
Applicant: 华中科技大学
IPC: G05B19/18
CPC classification number: G05B19/18
Abstract: 本发明公开了一种用于数控机床的系统参数优化配制方法，包括：(a)为执行参数优化配置的数控机床构建表征其伺服系统与机械系统之间耦合关系的参数建模；(b)对执行参数优化配置的数控机床输入激励信号，并测量获得相应的响应信号，然后为两者之间建立传递函数；(c)将传递函数执行转换，并结合已构建的参数建模来对各模块进行辨识和未知参数的求解；(d)将求解出的参数作为数控加工执行加工的性能参数，由此在完成整个的系统参数优化配制过程。通过本发明，能够在无需复杂和繁琐的实际试验的情况下，实现数控机床伺服和机械系统中一些难确定参数的优化配制，同时具备高效率、便于操控、可显著提高机床整体性能等优点。
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公开(公告)号：CN105092228A
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201510530851.1
申请日：2015-08-26
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC: G01M13/00
Abstract: 本发明公开了一种传动切换装置，包括箱体、第一转轴、第二转轴和带轮传动机构，第一转轴和第二转轴分别可转动安装在箱体上，第一转轴和第二转轴相互平行且第一转轴位于第二转轴的下方；第一转轴和第二转轴通过所述带轮传动机构连接；箱体在对应于第一转轴和第二转轴的位置分别设置有第一动力源安装通孔和第二动力源安装通孔，以用于选择在第一动力源安装通孔或第二动力源安装通孔处安装动力源，进而通过所述动力源驱动所述第一转轴旋转。本发明极大地扩展了机床的测试平台的功能范围，简化了测试平台的系统结构和调整切换操作，降低了整个测试平台的重量和尺寸，为快速方便的开展实验研究提供了保障。
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