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公开(公告)号：CN107632063B
公开(公告)日：2020-11-24
申请号：CN201710725319.4
申请日：2017-08-22
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N27/87
Abstract: 本发明属于漏磁无损检测领域，并具体公开了一种可变径管外壁漏磁检测装置，其包括多个沿管外壁圆周分布的单体磁化检测模块，相邻两个单体磁化检测模块之间通过铰链连接，每个单体磁化检测模块均包括非铁磁性主架体、U型永磁体、磁敏感元件和V型轮，U型永磁体嵌装在非铁磁性主架体内，其两个磁极面向待检测管的外壁，并且非铁磁性主架体上嵌装有与该U型永磁体的两磁极相抵接的铁磁性材料挡板，磁敏感元件设于U型永磁体两磁极之间的非铁磁性主架体内，V型轮安装在非铁磁性主架体的两端，检测时该V型轮与待检测管外壁实现多点接触。本发明具有磁化效果好、探伤穿透能力强、检测扫描平稳、抖动干扰噪声小及单次扫描无漏检的检测特点。
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公开(公告)号：CN107144628B
公开(公告)日：2020-07-10
申请号：CN201710350073.7
申请日：2017-05-18
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N27/83
Abstract: 本发明属于电磁无损检测领域，并公开了一种基于缺陷漏磁场源与主动探测磁源的电磁检测方法。其包括(a)将待检测构件磁化,使得该待检测构件在其缺陷处形成漏磁场，该漏磁场是以该缺陷为圆心，半径为r1的微磁源空间域；(b)将设置有磁敏元件的探测磁源在缺陷的上方扫掠经过，使得漏磁场与探测磁源自身的磁场进行磁叠加形成磁扰动，其中，探测磁源自身的磁场是以该探测磁源为圆心，半径为r2的探测磁空间域；(c)在距离待检测构件表面r1+r2的提离范围内磁敏元件拾取磁扰动，从而完成缺陷的电磁检测。通过本发明，实现主动式检测，同时增大检测提离距离，避免传感器紧贴检测时的接触磨损及抖动问题，也实现在同一提离检测状态下检测信号的增大。
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公开(公告)号：CN107632063A
公开(公告)日：2018-01-26
申请号：CN201710725319.4
申请日：2017-08-22
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N27/87
Abstract: 本发明属于漏磁无损检测领域，并具体公开了一种可变径管外壁漏磁检测装置，其包括多个沿管外壁圆周分布的单体磁化检测模块，相邻两个单体磁化检测模块之间通过铰链连接，每个单体磁化检测模块均包括非铁磁性主架体、U型永磁体、磁敏感元件和V型轮，U型永磁体嵌装在非铁磁性主架体内，其两个磁极面向待检测管的外壁，并且非铁磁性主架体上嵌装有与该U型永磁体的两磁极相抵接的铁磁性材料挡板，磁敏感元件设于U型永磁体两磁极之间的非铁磁性主架体内，V型轮安装在非铁磁性主架体的两端，检测时该V型轮与待检测管外壁实现多点接触。本发明具有磁化效果好、探伤穿透能力强、检测扫描平稳、抖动干扰噪声小及单次扫描无漏检的检测特点。
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公开(公告)号：CN107144628A
公开(公告)日：2017-09-08
申请号：CN201710350073.7
申请日：2017-05-18
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N27/83
Abstract: 本发明属于电磁无损检测领域，并公开了一种基于缺陷漏磁场源与主动探测磁源的电磁检测方法。其包括(a)将待检测构件磁化,使得该待检测构件在其缺陷处形成漏磁场，该漏磁场是以该缺陷为圆心，半径为r1的微磁源空间域；(b)将设置有磁敏元件的探测磁源在缺陷的上方扫掠经过，使得漏磁场与探测磁源自身的磁场进行磁叠加形成磁扰动，其中，探测磁源自身的磁场是以该探测磁源为圆心，半径为r2的探测磁空间域；(c)在距离待检测构件表面r1+r2的提离范围内磁敏元件拾取磁扰动，从而完成缺陷的电磁检测。通过本发明，实现主动式检测，同时增大检测提离距离，避免传感器紧贴检测时的接触磨损及抖动问题，也实现在同一提离检测状态下检测信号的增大。
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