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公开(公告)号:CN104051319A
公开(公告)日:2014-09-17
申请号:CN201310196353.9
申请日:2013-05-24
Applicant: 南亚科技股份有限公司
IPC: H01L21/76 , H01L29/78 , H01L27/105 , H01L27/108
CPC classification number: H01L21/765 , H01L21/265 , H01L21/32055 , H01L21/324 , H01L21/76897 , H01L21/823481 , H01L27/088 , H01L27/1052 , H01L27/10876 , H01L29/0607 , H01L29/407 , H01L29/66666 , H01L29/78 , H01L29/7827
Abstract: 本发明提供一种半导体元件及其制造方法,半导体元件的制造方法包括以下步骤。提供基底,此基底具有多数个柱状物,且柱状物周围形成有多数个沟渠;在每一个上述柱状物下方的上述基底中形成掺杂区;移除沟渠下方的掺杂区,以形成多个开口,使相邻的柱状物下方的上述掺杂区分离;在每一个上述开口中形成遮蔽层。
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公开(公告)号:CN104051319B
公开(公告)日:2018-04-13
申请号:CN201310196353.9
申请日:2013-05-24
Applicant: 南亚科技股份有限公司
IPC: H01L21/76 , H01L29/78 , H01L27/105 , H01L27/108
CPC classification number: H01L21/765 , H01L21/265 , H01L21/32055 , H01L21/324 , H01L21/76897 , H01L21/823481 , H01L27/088 , H01L27/1052 , H01L27/10876 , H01L29/0607 , H01L29/407 , H01L29/66666 , H01L29/78 , H01L29/7827
Abstract: 本发明提供一种半导体元件及其制造方法,半导体元件的制造方法包括以下步骤。提供基底,此基底具有多数个柱状物,且柱状物周围形成有多数个沟渠;在每一个上述柱状物下方的上述基底中形成掺杂区;移除沟渠下方的掺杂区,以形成多个开口,使相邻的柱状物下方的上述掺杂区分离;在每一个上述开口中形成遮蔽层。
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