基于矩量法的散射SH导波平板内部缺陷定量成像方法

    公开(公告)号:CN118671184A

    公开(公告)日:2024-09-20

    申请号:CN202410901228.1

    申请日:2024-07-05

    Abstract: 本发明提供了基于矩量法的散射SH导波平板内部缺陷定量成像方法,属于超声波损伤检测技术领域,包括如下几个步骤:S1将特定模态的超声导波入射到平板结构的待检测区域,在远场通过超声换能器接收到的反射波位移场时域信号通过傅里叶变换转为频域信号;S2:通过导波的模态正交性对频域反射波位移场进行模态分解,得到各频率下各阶模态的反射系数;本发明针对板结构不同类型的缺陷基于散射场信息进行了实验,重构结果表现为检测频率数越多,重构精度越高,具有较高准确率,能够实现对板结构缺陷的精确定量化重构,从而为实际工程提供一种准确可靠的定量化损伤检测技术。

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