基于行波全波形的高阻接地故障检测方法

    公开(公告)号:CN111880045A

    公开(公告)日:2020-11-03

    申请号:CN202010707823.3

    申请日:2020-07-21

    Abstract: 本发明公开了一种基于行波全波形的高阻接地故障检测方法,其步骤包括:步骤S1:检测故障行波信号,对三相电压行波信号进行凯伦贝尔相模变换,得到线模电压和零模电压;步骤S2:对步骤S1得到的线模分量利用连续小波变换,绘制出故障行波的时-频波形,即行波全波形;步骤S3:计算一个时间窗内的行波全波形能量E1;当行波全波形能量E1大于预设的启动阈值ε时,进入步骤S4;步骤S4:基于行波全波形变化规律构造高阻故障检测判据,判断配电网是否发生高阻接地故障。本发明具有原理简单、易实现、能够大幅提高检测精度等优点,可以灵敏检测高达5kΩ的配电网高阻接地故障。

    基于行波全波形的高阻接地故障检测方法

    公开(公告)号:CN111880045B

    公开(公告)日:2022-08-05

    申请号:CN202010707823.3

    申请日:2020-07-21

    Abstract: 本发明公开了一种基于行波全波形的高阻接地故障检测方法,其步骤包括:步骤S1:检测故障行波信号,对三相电压行波信号进行凯伦贝尔相模变换,得到线模电压和零模电压;步骤S2:对步骤S1得到的线模分量利用连续小波变换,绘制出故障行波的时‑频波形,即行波全波形;步骤S3:计算一个时间窗内的行波全波形能量E1;当行波全波形能量E1大于预设的启动阈值ε时,进入步骤S4;步骤S4:基于行波全波形变化规律构造高阻故障检测判据,判断配电网是否发生高阻接地故障。本发明具有原理简单、易实现、能够大幅提高检测精度等优点,可以灵敏检测高达5kΩ的配电网高阻接地故障。

    柔性直流送出系统金属回线接地钳位点评估方法和装置

    公开(公告)号:CN117574587B

    公开(公告)日:2025-04-08

    申请号:CN202311563778.9

    申请日:2023-11-22

    Abstract: 本发明公开了一种柔性直流送出系统金属回线接地钳位点评估方法和装置,充分利用金属回线运行时的接地钳位点设计的灵活性,进行直流线路末端接地故障仿真,通过对比不同钳位点时送端柔性直流子模块电容电压的大小,以所选接地钳位点下的送端柔性直流换流站子模块电容电压是否存在过压现象来最终确定金属回线运行时的接地钳位点,避免了直流侧对换流站子模块电容进行持续充电而导致换流站子模块电容过压跳闸的风险,解决了现金属回线运行时的接线地钳位点选择不当,导致直流侧对换流站子模块电容进行持续充电而导致换流站子模块电容过压跳闸的技术问题。

    柔直阀功率模块旁路开关温度在线交叉监测方法及装置

    公开(公告)号:CN119482911A

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202410291769.7

    申请日:2024-03-14

    Abstract: 本申请提供的柔直阀功率模块旁路开关温度在线交叉监测方法及装置,针对每一功率模块,可以根据温度检测板监测旁路开关的温度确定该功率模块的运行状态;进而可以将运行状态为异常的功率模块作为故障功率模块,以及将与故障功率模块相邻连接的功率模块作为辅助功率模块,并生成第一控制信号和第二控制信号;其中,第一控制信号可以用来闭合故障功率模块的旁路开关,以使故障功率模块从系统中切除;第二控制信号可以用来控制辅助功率模块的温度检测板监测故障功率模块的旁路开关的温度。本申请采用对功率模块进行温度交叉监测的方法,可以利用相邻功率模块来对因故障而被旁路的功率模块进行温度监测,从而实现对故障的功率模块的工作状态进行监控。

    一种半导体开关器件的电流源栅极驱动装置、方法和设备

    公开(公告)号:CN119363084A

    公开(公告)日:2025-01-24

    申请号:CN202411431894.X

    申请日:2024-10-14

    Abstract: 本申请涉及一种半导体开关器件的电流源栅极驱动装置、方法和设备,该装置包括控制模块、电流电压检测模块、逻辑判断模块、辅助控制模块和电流源驱动模块。该装置通过电流电压检测模块可以准确地检测半导体开关器件的开通或关断状态,采用逻辑判断模块根据电压参考数据的第一参考电压和第二参考电压可以随意调整辅助控制模块触发开通电流方波或关断电流方波的开始与停止时间以及根据电压参考数据的第三参考电压和第四参考电压可以调整辅助控制模块输出开通电流方波或关断电流方波中的电流幅值,进而使得电流源驱动模块输出的控制电流有着很高的控制自由度,可以轻易实现在抑制半导体开关器件中电流电压振荡的同时,尽可能地减低其开关损耗。

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