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公开(公告)号：CN113490568B
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202080014055.1
申请日：2020-02-22
Applicant: 卡帕耐尔斯有限两合公司
Inventor： 弗兰克·米勒 , 弗里德里希·韦尔费尔
Abstract: 本发明涉及一种在磨削或抛光机器（3）中磨削或抛光齿轮（1、2）的方法，其中该机器（3）具有两个用于接收工件（1、2）的工件主轴（4、5）和至少一个具有磨削或抛光工具（7）的磨削或抛光主轴（6）。为了在不增加加工时间并且无需外部测量系统下进行最优工作，本发明提供一种方法。该方法包括如下步骤：磨削或抛光工件主轴（4）上接收的第一工件（1）；b）以暂时平行于第一工件（1）的磨削或抛光的方式：接收另一工件主轴（5）上的第二工件（2），并且测量工件（2）的轮齿（8），以便确定齿隙（9）的位置，其中该测量轮齿（8）包括使用触觉测量元件或非接触式测量装置（11）扫描至少一个齿隙（9）的轮齿或轮廓侧面（10），以便确定轮齿侧面（10）的有效过大尺寸；c）在完成第一工件（1）的磨削或抛光后：使用齿隙（9）的所确定位置和/或轮齿侧面（10）的所测量有效过大尺寸为基础，磨削或抛光另一工件主轴（5）上接收的第二工件（2）。
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公开(公告)号：CN113490568A
公开(公告)日：2021-10-08
申请号：CN202080014055.1
申请日：2020-02-22
Applicant: 卡帕耐尔斯有限两合公司
Inventor： 弗兰克·米勒 , 弗里德里希·韦尔费尔
Abstract: 本发明涉及一种在磨削或抛光机器（3）中磨削或抛光齿轮（1、2）的方法，其中该机器（3）具有两个用于接收工件（1、2）的工件主轴（4、5）和至少一个具有磨削或抛光工具（7）的磨削或抛光主轴（6）。为了在不增加加工时间并且无需外部测量系统下进行最优工作，本发明提供一种方法。该方法包括如下步骤：磨削或抛光工件主轴（4）上接收的第一工件（1）；b）以暂时平行于第一工件（1）的磨削或抛光的方式：接收另一工件主轴（5）上的第二工件（2），并且测量工件（2）的轮齿（8），以便确定齿隙（9）的位置，其中该测量轮齿（8）包括使用触觉测量元件或非接触式测量装置（11）扫描至少一个齿隙（9）的轮齿或轮廓侧面（10），以便确定轮齿侧面（10）的有效过大尺寸；c）在完成第一工件（1）的磨削或抛光后：使用齿隙（9）的所确定位置和/或轮齿侧面（10）的所测量有效过大尺寸为基础，磨削或抛光另一工件主轴（5）上接收的第二工件（2）。
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