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公开(公告)号：CN119533287A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411828548.5
申请日：2024-12-12
Applicant: 深圳力合精密装备科技有限公司
Abstract: 本发明公开一种坐标测量机和坐标测量方法，坐标测量机包括机架、工作台、移动架和测量组件，工作台设置在机架并用于放置待测工件；测量组件包括激光扫描测头和接触式测量头，激光扫描测头和接触式测量头均设置在移动架上，激光扫描测头用于对待测工件进行非接触式三维扫描测量，接触式测量头用于对待测工件进行接触式精密测量；其中，移动架能够相对待测工件移动，以带动接触式测量头与待测工件接触进行测量，或带动激光扫描测头在不接触待测工件的情况下进行扫描测量。本发明技术方案通过在同一台坐标测量机上集成激光扫描测头和接触式测量头，实现了非接触式快速扫描和接触式精密测量的无缝切换，大幅提高了测量的灵活性和效率。
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公开(公告)号：CN119533231A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411646838.8
申请日：2024-11-18
Applicant: 北京中科九微科技有限公司
Abstract: 本申请公开了一种用于测头模块的调节装置，其包括：基座；固定机构，其设在所述基座上并用于安装和固定所述测头模块的转接板；调节机构，其包括设在所述基座上的第一支撑件，以及与所述转接板平行的转动盘；其中，所述转动盘被能够被操控而在所述第一支撑件内旋转，并带动所述测针组件相对于所述转接板转动，从而调整所述测针组件在所述转接板上的安装角度。先从两端对测头模块进行支撑和轴向固定，使得后续的角度调节能够在一个已知且稳定的基础上进行，不再需要手持调节，能够避免人为操作带来的诸多不确定因素，有助于提高调节的准确性。通过扭转调节件带动测针组件相对于转接板转动，不需要反复尝试和调整，提高了测量效率。
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公开(公告)号：CN112469957B
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN201980027915.2
申请日：2019-04-23
Applicant: 瑞尼斯豪公司
Inventor： 史蒂芬·爱德华·卢默斯 , M·J·A·赫姆斯
Abstract: 描述了一种表面光洁度触针(50)，该表面光洁度触针包括长形触针轴(52；100)、以及从该长形轴突出的用于接触待测量的表面的接触元件(56；102)。该接触元件(56；102)是可变形的，并且该触针轴包括用于固持该接触元件(56；102)的夹具，该接触元件(56；102)通过夹具而变形。该接触元件(56；102)可以包括金属，例如铬钢或镍钛诺。该接触元件(56；102)包括一个或多个弱化区域(82)，以在被夹具固持时引起所需要的变形。该表面光洁度触针(50)可以与表面光洁度测量测头(20)等一起使用。
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公开(公告)号：CN113490568A
公开(公告)日：2021-10-08
申请号：CN202080014055.1
申请日：2020-02-22
Applicant: 卡帕耐尔斯有限两合公司
Inventor： 弗兰克·米勒 , 弗里德里希·韦尔费尔
Abstract: 本发明涉及一种在磨削或抛光机器（3）中磨削或抛光齿轮（1、2）的方法，其中该机器（3）具有两个用于接收工件（1、2）的工件主轴（4、5）和至少一个具有磨削或抛光工具（7）的磨削或抛光主轴（6）。为了在不增加加工时间并且无需外部测量系统下进行最优工作，本发明提供一种方法。该方法包括如下步骤：磨削或抛光工件主轴（4）上接收的第一工件（1）；b）以暂时平行于第一工件（1）的磨削或抛光的方式：接收另一工件主轴（5）上的第二工件（2），并且测量工件（2）的轮齿（8），以便确定齿隙（9）的位置，其中该测量轮齿（8）包括使用触觉测量元件或非接触式测量装置（11）扫描至少一个齿隙（9）的轮齿或轮廓侧面（10），以便确定轮齿侧面（10）的有效过大尺寸；c）在完成第一工件（1）的磨削或抛光后：使用齿隙（9）的所确定位置和/或轮齿侧面（10）的所测量有效过大尺寸为基础，磨削或抛光另一工件主轴（5）上接收的第二工件（2）。
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公开(公告)号：CN111174743B
公开(公告)日：2021-07-06
申请号：CN201911401675.6
申请日：2019-12-31
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及工业检测技术领域，具体涉及一种基于应变传感器的装配间隔面的高精度检测装置。一种装配间隔面的检测装置，包括：千分数显表、应变传感器以及探测组件；探测组件通过其探头对装配间隔面的上表面及装配间隔面的下表面进行检测；千分数显表与探测组件接触，用于测量探测组件高度方向的位移；应变传感器设置在探测组件上，用于测量探测组件检测时产生的应变。探测组件的探头在检测过程中，触碰到上、下表面会发生微小形变，设置在探测组件上的应变传感器所探测的应变可经过相关计算得出具体应变数值，对千分数显表的所测高度测量值进行校正，从而保证了装配间隔面的高精度检测。同时，本发明还公开了一种装配间隔面的检测方法。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111902689A
公开(公告)日：2020-11-06
申请号：CN201980013891.5
申请日：2019-02-15
Applicant: L.S.施泰力公司
Inventor： 杰弗里·M·威尔金森
Abstract: 一种具有对于取向误差的自动补偿和/或警报的计量设备。所述设备可以包括处理器、探针部分以及至少一个方向传感器。所述探针提供表示被测设备的特性的原始测量结果的输出，所述方向传感器提供表示所述计量设备相对于所述被测设备的取向的传感器输出。所述处理器响应于所述传感器输出而将校正因子应用于所述原始测量结果以建立补偿后的测量结果，从而补偿所述计量设备与所述被测设备的未对准。另外或替选地，所述处理器提供指示所述未对准的存在和/或程度的警报。
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公开(公告)号：CN106054954B
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：CN201610214156.9
申请日：2016-04-07
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 一种探针测量力调整器，包括能够在X方向上移动的触针支撑部，其与固定部分离配置。板簧的第一端固定到触针支撑部的X(+)方向上的端部，板簧的第二端固定到所述固定部，板簧的主表面面对X方向。板簧的第一端固定到触针支撑部的X(‑)方向上的端部，该板簧的第二端固定到所述固定部，该板簧的主表面面对X方向。第一永磁体设置到触针支撑部的X(+)方向上的端部。第二永磁体设置到触针支撑部的X(‑)方向上的端部。第三永磁体设置到所述固定部，使得X方向上的磁力作用在第一永磁体和第三永磁体之间。第四永磁体设置到所述固定部，使得X方向上的磁力作用在第二永磁体和第四永磁体之间。
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公开(公告)号：CN109945761A
公开(公告)日：2019-06-28
申请号：CN201910293892.1
申请日：2019-04-12
Applicant: 赫克测控技术(苏州)有限公司
Inventor： 董伟吉
Abstract: 本申请公开一种精密检测装置和刀具辅件和机械加工系统，其中精密检测装置包括：测杆,用于通过触碰的方式检测与待测对象之间的微间距；触感反馈组件，用于将所述微间距信息进行反馈；复位组件，用于当所述测杆与待测对象之间为非接触状态时，将所述测杆进行复位；其中，所述复位组件包括至少两个磁体。复位组件包括的至少两个磁体通过磁力复位而不是机械复位，可以防止复位卡顿，从而可以防止精密检测装置复位失效。
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公开(公告)号：CN105408724B
公开(公告)日：2018-04-06
申请号：CN201480042192.0
申请日：2014-07-30
Applicant: 马波斯S.P.A.公司
CPC classification number: G01B7/012 , G01B5/012 , G01B21/047
Abstract: 一种探针(100)，包括框体(2)、可移动的臂组(3)和用于处理信号的处理电路(30；30')。处理电路能够独立地检测由臂组的机械组件和框体的机械组件之间的配合所限定的触点(13)的状态，即触点的闭合或断开，并且在其检测到不超过一个触点为断开时，提供指示探针的停留位置的信号。一种用于处理信号的方法，其使用上述电路以提供指示探针的停留位置的信号。电路和用于处理信号的方法被有利地实施，以用于处理接触式探针的输出信号，该接触式探针适于在坐标量测机和机械工具中检查工件的位置或尺寸。
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公开(公告)号：CN106197206B
公开(公告)日：2017-06-16
申请号：CN201510382532.0
申请日：2015-07-02
Applicant: 株式会社三丰
CPC classification number: G01B3/008 , G01B5/0016 , G01B5/012 , G01B5/20 , G01B11/007
Abstract: 本发明涉及一种测量探头(300)，其包括：触针(306)，其具有用于接触被测物体的接触部；轴运动机构(310)，其具备使接触部能够沿轴向移动的移动构件；以及旋转运动机构(334)，其具备旋转构件，该旋转构件利用旋转运动而使接触部能够沿着与轴向成直角的面移动，其中，该测量探头包括：探头主体(302)，其用于内置轴运动机构；以及探头模块(304)，其被支承于探头主体，并用于内置旋转运动机构，并支承触针，探头主体和探头模块利用能够互相进行定位的一对辊(312F)和球(332B)以能够装卸的方式连结起来。由此，在使低成本化成为可能的同时能够实现与触针对应的相应的检测灵敏度和恢复力。
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