公开(公告)号：CN118242987A

公开(公告)日：2024-06-25

申请号：CN202410377454.4

申请日：2024-03-29

Applicant: 厦门大学

Inventor： 杨扬 ,  林龙星 ,  邱圣杰 ,  耿碧君 ,  段慧聪

IPC: G01B11/02 ,  G01N21/84 ,  G06T7/20 ,  G06T7/62 ,  G06V10/774 ,  G06V20/69 ,  G06V10/25 ,  G06V10/82 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/09

Abstract: 结合深度学习的微粒轴向位移的实时测量方法，属于显微检测技术领域。1)在显微系统成像光路的探测端利用CCD相机采集显微镜视场的图像；2)运行显微系统，采集并保存用于深度学习模型训练的原始数据；3)标注并扩充原始数据集，搭建、训练并测试深度学习模型；4)检测微粒的一级衍射环半径并通过拟合获得标定曲线；5)根据标定的曲线实时计算微粒的轴向位移。适用于多种显微系统，适用性广泛。有监督学习可拥有更好的检测性能，可在显微镜下实时识别并检测微粒的一级衍射环半径。结合图像数据增强的方法，快速简便，降低轴向位移的实时测量成本。在没有额外引进硬件设备的前提下，具有测量精确，适用性强，不易受环境光影响等优点。