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公开(公告)号：CN113782666A
公开(公告)日：2021-12-10
申请号：CN202111335814.7
申请日：2021-11-12
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 北京神目科技有限公司 , 清华大学
Abstract: 本发明提供了一种探测频段可调的太赫兹探测装置及制造方法、太赫兹成像设备，可以应用于太赫兹检测技术领域。该探测频段可调的太赫兹探测装置，包括：衬底基板，具有相对设置的第一表面和第二表面；检测器，设置在衬底基板的第一表面，用于检测第一频段范围的太赫兹信号；可调谐滤波器，设置在衬底基板的第二表面，用于对第一频段范围的太赫兹信号进行滤波，使检测器检测到第二频段范围的太赫兹信号，第二频段范围通过加载在可调谐滤波器的偏置电压进行调节，以使第二频段范围在第一频段范围内变化。能够解决在增加太赫兹探测频段的情况下，不增加检测器数量，保证检测的可靠性，同时节约硬件成本。
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公开(公告)号：CN113782644A
公开(公告)日：2021-12-10
申请号：CN202111335830.6
申请日：2021-11-12
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 北京神目科技有限公司 , 清华大学
IPC: H01L31/18 , H01L31/0232 , G01J1/00
Abstract: 本发明提供了一种太赫兹探测装置的制造方法和探测设备，可以应用于太赫兹检测技术领域。本发明实施例的太赫兹探测装置包括呈阵列排布的检测器和透镜，该制造方法包括：通过双面光刻工艺在衬底基板的第一表面的第一区域光刻出多个检测器，形成检测器阵列，在衬底基板的第一表面的第二区域设置至少一个第一对准标记；通过双面光刻工艺在衬底基板的第二表面的第三区域光刻出多个透镜安装部，在衬底基板的第二表面的第四区域设置至少一个第二对准标记；将透镜安装至透镜安装部以形成探测装置；通过双面光刻机将第一对准标记与第二对准标记进行对准，以使检测器的中心与透镜安装部的中心的偏移量在设定阈值，有效提高透镜与检测器的安装精度。
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公开(公告)号：CN113777072A
公开(公告)日：2021-12-10
申请号：CN202111335790.5
申请日：2021-11-12
Applicant: 清华大学 , 北京神目科技有限公司 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N21/3581 , G01N21/01
Abstract: 本发明提供了一种探测太赫兹信号的装置、系统、方法、介质和程序产品，可以应用于太赫兹探测技术领域。本发明实施例的探测太赫兹信号的装置包括多个滤波器，多个滤波器中至少部分滤波器分别具有不同的透射频段，其中，至少部分滤波器各自的金属镂空结构中镂空部分的最大尺寸与透射频段的中心频段和频段带宽之间正相关；检测器，检测器包括天线，天线被配置为接收太赫兹波；以及位置调节器，设置于天线的一侧，被配置为驱动多个滤波器运动，以改变多个滤波器的位置；其中，通过改变多个滤波器的位置使得多个滤波器中的至少一个滤波器对准天线，以由对准天线的滤波器对来自探测对象的太赫兹波进行滤波，使得检测器能够获取与经滤波的太赫兹波对应的太赫兹信号。
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公开(公告)号：CN113782666B
公开(公告)日：2022-03-18
申请号：CN202111335814.7
申请日：2021-11-12
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 北京神目科技有限公司 , 清华大学
Abstract: 本发明提供了一种探测频段可调的太赫兹探测装置及制造方法、太赫兹成像设备，可以应用于太赫兹检测技术领域。该探测频段可调的太赫兹探测装置，包括：衬底基板，具有相对设置的第一表面和第二表面；检测器，设置在衬底基板的第一表面，用于检测第一频段范围的太赫兹信号；可调谐滤波器，设置在衬底基板的第二表面，用于对第一频段范围的太赫兹信号进行滤波，使检测器检测到第二频段范围的太赫兹信号，第二频段范围通过加载在可调谐滤波器的偏置电压进行调节，以使第二频段范围在第一频段范围内变化。能够解决在增加太赫兹探测频段的情况下，不增加检测器数量，保证检测的可靠性，同时节约硬件成本。
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公开(公告)号：CN113782644B
公开(公告)日：2022-01-25
申请号：CN202111335830.6
申请日：2021-11-12
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 北京神目科技有限公司 , 清华大学
IPC: H01L31/18 , H01L31/0232 , G01J1/00
Abstract: 本发明提供了一种太赫兹探测装置的制造方法和探测设备，可以应用于太赫兹检测技术领域。本发明实施例的太赫兹探测装置包括呈阵列排布的检测器和透镜，该制造方法包括：通过双面光刻工艺在衬底基板的第一表面的第一区域光刻出多个检测器，形成检测器阵列，在衬底基板的第一表面的第二区域设置至少一个第一对准标记；通过双面光刻工艺在衬底基板的第二表面的第三区域光刻出多个透镜安装部，在衬底基板的第二表面的第四区域设置至少一个第二对准标记；将透镜安装至透镜安装部以形成探测装置；通过双面光刻机将第一对准标记与第二对准标记进行对准，以使检测器的中心与透镜安装部的中心的偏移量在设定阈值，有效提高透镜与检测器的安装精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113777072B
公开(公告)日：2022-02-25
申请号：CN202111335790.5
申请日：2021-11-12
Applicant: 清华大学 , 北京神目科技有限公司 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N21/3581 , G01N21/01
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公开(公告)号：CN215219197U
公开(公告)日：2021-12-17
申请号：CN202122759758.1
申请日：2021-11-12
Applicant: 清华大学 , 北京神目科技有限公司 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01V3/12
Abstract: 提供了一种基于太赫兹或毫米波技术的安检设备，包括人体安检仪，人体安检仪适于放置或吊挂于安检场所内，以检查被安检人员，人体安检仪包括机壳、扫描镜和驱动件。机壳具有相对的第一端面和第二端面，第一端面的至少部分和第二端面的至少部分均敞开；扫描镜设于机壳，扫描镜可在第一位置和第二位置之间切换，其中，在第一位置，扫描镜的扫描面朝向第一端面的敞开口，在第二位置，扫描镜的扫描面朝向第二端面的敞开口；驱动件与扫描镜连接，以驱动扫描镜在第一位置和第二位置之间切换。所述安检设备实施费用低、占用空间小、方便布置。
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公开(公告)号：CN113131870B
公开(公告)日：2024-12-27
申请号：CN201911425351.6
申请日：2019-12-31
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 公开了一种对频率进行混频或倍频的装置，包括：金属壳体，所述金属壳体包括盒体和盖体，所述盒体和所述盖体扣合在一起以限定一金属腔体；至少一个变频单元，所述至少一个变频单元包括：微带线，所述微带线位于所述金属腔体内；以及通道结构，所述通道结构包括穿过所述金属壳体并分别与所述微带线耦合的射频信号输入通道、本振信号输入通道和信号输出通道，所述射频信号输入通道所在的平面、所述本振信号输入通道所在的平面和所述信号输出通道所在的平面中的至少两者不共面。该装置装置可以避免射频信号输入通道、本振信号输入通道和信号输出通道存在于同一平面而导致集成度较差的问题。
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公开(公告)号：CN109870738B
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN201811654174.4
申请日：2018-12-29
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 公开了一种毫米波/太赫兹波成像设备及其校正方法，包括壳体、数据处理装置以及位于壳体内的校准源、准光学组件和探测器阵列，壳体上设置有供被检对象自发辐射或反射回来的波束穿过的窗口；准光学组件用于将来自被检对象的波束反射并汇聚至探测器阵列，并包括反射板，其与壳体可转动地连接以对来自被检对象位于视场不同位置的部分的波束进行反射；校准源在准光学组件的物面上；探测器阵列适用于接收来自准光学组件的波束和来自校准源的波束；数据处理装置接收探测器阵列所接收的被检对象的图像数据和校准源的校准数据，并基于校准数据更新图像数据。该成像设备比采用远处的空气进行校正更加稳定可靠且能够实时校正。
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公开(公告)号：CN109784245B
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN201811654192.2
申请日：2018-12-29
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G06V10/147 , G06V10/143 , G06V10/82 , G06V10/80 , G06V10/774 , G06T5/50
Abstract: 本申请提供了一种图像识别装置，包括：聚焦透镜，被配置为聚焦投射来自被检对象的毫米波/太赫兹波信号；双极化毫米波/太赫兹探测计，被配置为极化分离所述聚焦透镜所投射的毫米波/太赫兹波信号，获得水平极化信号和垂直极化信号；信号处理器，被配置为：对所述水平极化信号和所述垂直极化信号进行组合得到组合信号；以及基于所述水平极化信号、所述垂直极化信号、以及所述组合信号形成融合图像；神经网络识别器，被配置为：连续根据所述融合图像进行训练学习，获得不断更新的训练模型；以及基于所述训练模型进行图像识别；以及图像显示器，被配置为显示所识别出的图像。
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