公开(公告)号：CN114926405A

公开(公告)日：2022-08-19

申请号：CN202210461820.5

申请日：2022-04-28

Applicant: 哈尔滨理工大学

Inventor： 李双全 ,  徐嘉言

IPC: G06T7/00 ,  G06V10/30 ,  G06V10/40 ,  G06V10/762 ,  G06V10/764 ,  G06V10/774 ,  G06V10/82 ,  G06K9/62 ,  G06N3/04 ,  G06N3/08

Abstract: 本发明公开了一种基于深度学习的磁瓦表面缺陷检测系统，涉及表面缺陷检测技术领域；它的检测方法如下：步骤一、图像预处理及数据增强：1.1、图像预处理；1.2、数据增强；步骤二、基于Faster R‑CNN的小目标缺陷改进；步骤三、针对YOLOv4算法的改进；本发明重新设计anchors，使anchors的尺度可以精确匹配到小目标，能够对磁瓦的崩烂缺陷、偏磨缺陷、裂纹缺陷、起层缺陷进行检测；检测精度高，且兼容能力强，同时检测快速、全面。