一种在模拟域实现CDS差值量化操作的SAR/SS ADC

    公开(公告)号:CN115940953A

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202211598488.3

    申请日:2022-12-12

    Abstract: 本发明提出一种在模拟域实现CDS差值量化操作的SAR/SS ADC,属于模拟集成电路技术领域。本发明采用了在模拟域进行CDS差值量化操作,减少了一次量化过程,提升了读出链的工作速度;本发明采用SAR ADC和SS ADC混合结构的方式,减少了SAR ADC的面积消耗,面积上减少了约85%,同时采用了单调切换开关逻辑,相比传统SAR ADC功耗上减少了约97%;本发明采用了异步时钟模块为SS ADC转换部分的计数器提供时钟,避免了额外高频时钟信号的输入,简化了设计难度。本发明的实施解决了为CMOS图像传感器读出链设计一个面积小、结构简单、同时能完成CDS差值的量化操作的列级ADC的难题。

    一种自校准的高精度数字时间转换电路

    公开(公告)号:CN113552793A

    公开(公告)日:2021-10-26

    申请号:CN202110841898.5

    申请日:2021-07-26

    Abstract: 本发明提供一种自校准的高精度数字时间转换电路。本发明包括:数字模拟转换器DAC、电容阵列、由多个开关组成的开关阵列及反相器;数字模拟转换器DAC连接电容阵列;电容阵列与反相器相连;反相器连接输出端;数字模拟转换器DAC、电容阵列、反相器及接地端分别设有开关;电容阵列,包括固定容值电容cap和可变容值电容cap_vary;数字模拟转换器DAC根据输入的代表时间延迟的数字控制字对电容阵列进行充电,并将基准电流源的电流变化反馈给可变电容cap_vary,从而对电容阵列的电容值进行补偿校准;反相器根据补偿校准后的电容阵列的电容值输出时钟信号。解决了现有技术中,基准电流受温度、工艺、电压变化的影响,导致输出时钟信号发生越位偏移的技术问题。

    一种自校准的高精度数字时间转换电路

    公开(公告)号:CN113552793B

    公开(公告)日:2022-04-05

    申请号:CN202110841898.5

    申请日:2021-07-26

    Abstract: 本发明提供一种自校准的高精度数字时间转换电路。本发明包括:数字模拟转换器DAC、电容阵列、由多个开关组成的开关阵列及反相器;数字模拟转换器DAC连接电容阵列;电容阵列与反相器相连;反相器连接输出端;数字模拟转换器DAC、电容阵列、反相器及接地端分别设有开关;电容阵列,包括固定容值电容cap和可变容值电容cap_vary;数字模拟转换器DAC根据输入的代表时间延迟的数字控制字对电容阵列进行充电,并将基准电流源的电流变化反馈给可变电容cap_vary,从而对电容阵列的电容值进行补偿校准;反相器根据补偿校准后的电容阵列的电容值输出时钟信号。解决了现有技术中,基准电流受温度、工艺、电压变化的影响,导致输出时钟信号发生越位偏移的技术问题。

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