公开(公告)号：CN101144751B

公开(公告)日：2011-02-23

申请号：CN200710152124.1

申请日：2007-09-17

Applicant: 安科特纳有限责任公司

Inventor： 文森特·勒科奇

IPC: G01M11/00 ,  G01M11/02

CPC classification number: G01M11/336 ,  G01M11/331

Abstract: 本发明公开了一种用于测量受试器件(DUT)内偏振模色散(PMD)的装置，包括偏振光源，用于经DUT发射测试光束；以及PMD分析仪，它采用多种已知技术中的一种，如固定分析仪-傅立叶变换(FA-FT)或干涉仪式，以计算DUT引起的PMD。在光源与PMD分析仪之间布置有由多个双折射元件组成的无源消偏器，以生成多个对应于双折射元件所施加时延的载波频率。DUT的PMD成分存在于每个载波周围，可以对多个PMD测量值取平均来获得更为精确且可再现的PMD测量值。

公开(公告)号：CN101144751A

公开(公告)日：2008-03-19

申请号：CN200710152124.1

申请日：2007-09-17

Applicant: 安科特纳有限责任公司

Inventor： 文森特·勒科奇

IPC: G01M11/00 ,  G01M11/02

CPC classification number: G01M11/336 ,  G01M11/331

Abstract: 本发明公开了一种用于测量受试器件(DUT)内偏振模色散(PMD)的装置，包括偏振光源，用于经DUT发射测试光束；以及PMD分析仪，它采用多种已知技术中的一种，如固定分析仪－傅立叶变换(FA－FT)或干涉仪式，以计算DUT引起的PMD。在光源与PMD分析仪之间布置有由多个双折射元件组成的无源消偏器，以生成多个对应于双折射元件所施加时延的载波频率。DUT的PMD成分存在于每个载波周围，可以对多个PMD测量值取平均来获得更为精确且可再现的PMD测量值。