用于确定差分群时延和偏振模色散的方法和设施

    公开(公告)号:CN101688819B

    公开(公告)日:2014-01-29

    申请号:CN200880018323.6

    申请日:2008-03-28

    Inventor: N·西尔 陈洪新

    CPC classification number: G01M11/336 G01M11/335

    Abstract: 提供了一种用于测量光路(FUT)的至少一个偏振-相关特性的方法,该方法使用被连接到该光路的近端或近端附近的光输入单元,以及被连接到该光路的近端或远端处,或近端或远端附近的光输出单元。该光输入单元将具有受控的偏振状态(I-SOP)的至少部分地偏振的光注入该FUT。该输出光单元从该FUT提取对应的光,分析并检测对应于至少一个传输轴(A-SOP)的所提取的光,并处理对应的电信号,以获得至少两组波长之每一组中的光的每个波长下的传输相干光功率,其中每个所述波长组中的低所述波长(λL)和高所述波长(λU)紧密相间。继而为所述至少两个组中的每一组计算至少一个对应于所述波长对中的每个波长的测得的功率参数中的差,该测得的功率参数与所述分析出和随后检测出的光的功率成比例,由此限定了至少两个测得的功率参数差的集合;计算所述差的集合的均方值;并且计算作为所述均方值的至少一个预定函数的至少一个与偏振-相关的FUT特性,所述预定函数取决于所述波长之间的小的光学频率差,所述波长对应于所述至少两对紧密相间的波长中的每一对的波长。

    利用扰动引起低模式耦合测量光纤中低PMD的系统和方法

    公开(公告)号:CN1475785A

    公开(公告)日:2004-02-18

    申请号:CN03152335.8

    申请日:2003-07-29

    CPC classification number: H04B10/2569 G01M11/336

    Abstract: 公开了用于测量单模光纤偏振模色散(PMD)的系统和方法。该方法能在低模式耦合状态下更快速和更简单地测量内在超低PMD光纤。该方法包括将多个局部外部扰动引入该光纤上,在此之后使该光纤达到一种稳定状态,然后使用标准测量技术测量微分群延迟。改变多个局部外部扰动,然后对微分群延迟进行另一次测量。在获得足够数量测量结果之后,提供麦克斯韦分布,可以计算该分布的平均值作为偏振模色散值。

    适用于生产环境中测量偏振模色散的系统和方法

    公开(公告)号:CN1346436A

    公开(公告)日:2002-04-24

    申请号:CN00805897.0

    申请日:2000-03-07

    CPC classification number: G01M11/336

    Abstract: 一种测量光纤偏振模式色散(PMD)的系统,采用控制输入至光纤的光的偏振状态的偏振器和测量从光纤输出的光的偏振状态的偏振分析器。琼斯矩阵分析施加于从3种输入偏振状态和两种探测辐射波长中导出的数据。通过使用非相干光源如发光二极管结合两个带通滤光器来改善性能。然而用激光源和光检测器来对准光纤。这种系统在短长度光纤上测量PMD值并将这些值转换到从其上切下在测光纤的长光纤方面特别有用。最好对在测光纤中试验性地引入各种扭曲值的情况下测量PMD,并且如同按模型计算的那样,短长度PMD值是与光纤中零内部扭曲的值有关,在测量中光纤可以加载。

    用于确定差分群时延和偏振模色散的方法和设施

    公开(公告)号:CN101688819A

    公开(公告)日:2010-03-31

    申请号:CN200880018323.6

    申请日:2008-03-28

    Inventor: N·西尔 陈洪新

    CPC classification number: G01M11/336 G01M11/335

    Abstract: 提供了一种用于测量光路(FUT)的至少一个偏振-相关特性的方法,该方法使用被连接到该光路的近端或近端附近的光输入单元,以及被连接到该光路的近端或远端处,或近端或远端附近的光输出单元。该光输入单元将具有受控的偏振状态(I-SOP)的至少部分地偏振的光注入该FUT。该输出光单元从该FUT提取对应的光,分析并检测对应于至少一个传输轴(A-SOP)的所提取的光,并处理对应的电信号,以获得至少两组波长之每一组中的光的每个波长下的传输相干光功率,其中每个所述波长组中的低所述波长(λ L )和高所述波长(λ U )紧密相间。继而为所述至少两个组中的每一组计算至少一个对应于所述波长对中的每个波长的测得的功率参数中的差,该测得的功率参数与所述分析出和随后检测出的光的功率成比例,由此限定了至少两个测得的功率参数差的集合;计算所述差的集合的均方值;并且计算作为所述均方值的至少一个预定函数的至少一个与偏振-相关的FUT特性,所述预定函数取决于所述波长之间的小的光学频率差,所述波长对应于所述至少两对紧密相间的波长中的每一对的波长。

    用于测量偏振模色散的方法和设备

    公开(公告)号:CN100487405C

    公开(公告)日:2009-05-13

    申请号:CN03825859.5

    申请日:2003-02-06

    Inventor: N·西尔

    CPC classification number: G01J4/04 G01M11/331 G01M11/336

    Abstract: 一种用于测量例如波导管的器件的偏振模色散(PMD)的设备,包括:宽带光源装置,用于使偏振宽带光穿过器件(14);干涉仪(20),用于分离和复合穿过所述器件的光以形成干涉图;偏振分离器(30),用于接收来自所述干涉仪的所述光,并将该接收的光沿第一和第二正交偏振态分离;检测器(32X,32Y),用于将所述第一和第二正交偏振态分别转换为相应的第一和第二电信号(PX(τ),PY(τ));以及处理器(36),用于分别计算所述第一和第二电信号的差与和的模量,以产生互相关包络(EC(τ))和自相关包络(EA(τ)),并根据表达式确定偏振模色散,其中,σ2=∫τ2E2C(τ)dτ/∫E2C(τ)dτ以及σ20=∫τ2E2A(τ)dτ/∫E2A(τ)dτ,并且τ是干涉仪的两光路间的延迟差。

    使用信号调制的外差光网络分析方法和系统

    公开(公告)号:CN1652483A

    公开(公告)日:2005-08-10

    申请号:CN200510007351.6

    申请日:2005-02-04

    CPC classification number: G01M11/337 G01M11/331 G01M11/333 G01M11/336

    Abstract: 本发明提供了用于表征被测器件(DUT)的光学性能的方法和系统。如下对被测器件(DUT)的群时延进行测量:在不同频率对本地振荡器信号的测试部分和基准部分进行调制以产生调制边带,将本地振荡器信号的已调制测试部分提供给DUT,然后光学混合两个已调制信号。光学混合两个已调制信号将光频向下转变到电频。由DUT引起的相变通过测量本地振荡器信号测试部分的调制边带之间的相差来确定。可以不用光学混合而用电混合来实现频率转变。

    一种基于双波长锁模脉冲光纤激光器的光纤色散测量方法

    公开(公告)号:CN106996861A

    公开(公告)日:2017-08-01

    申请号:CN201710185949.7

    申请日:2017-03-24

    CPC classification number: G01M11/336

    Abstract: 本发明公开了一种基于双波长锁模脉冲光纤激光器的光纤色散测量方法,旨在解决现有技术中色散测量过程繁琐、测量装置成本高的技术问题。所述系统包括依次通过标准单模光纤(5)连接的泵浦源(1)、偏振相关集成光学器件(2)、偏振控制器(3)、待测光纤(4)和掺铒增益光纤(6)。利用RF频谱仪测量双波长锁模脉冲的频率间隔,使用光谱分析仪测量其中心波长间隔,通过计算得到本系统加载待测光纤前后的腔内净色散值,简单算术计算即可得到待测光纤的色散值。本发明具有结构简单,操作方便,测量精度高等优点,可适用于各种单模光纤的色散测量。

    用于监视光传输线的偏振相关特性的光传输系统和方法

    公开(公告)号:CN103580758A

    公开(公告)日:2014-02-12

    申请号:CN201310259817.6

    申请日:2013-06-26

    CPC classification number: H04B10/07 G01M11/336 G01M11/337 H04B10/07951

    Abstract: 本发明提供了一种用于监视光传输线的偏振相关特性的光传输系统和方法。该方法包括:通过光传送器控制与所传送的信号相对应的电场信息信号,扫描光信号的光频;通过光传送器控制与第一所传送的信号相对应的第一电场信息信号和与第二所传送的信号相对应的第二电场信息信号的混合,针对光信号的各个频率提供不同偏振态;当光传送器扫描光信号的频率时,通过光接收器基于与不同偏振态相对应的所接收的电场信息项来计算光传送器与光接收器之间的光传输线的偏振相关特性,针对光信号的各个频率获得与不同的频率相对应的偏振相关特性;以及,采用光接收器基于偏振相关特性来获得光传输线的偏振态的统计信息。

    测量偏振模色散
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101144751B

    公开(公告)日:2011-02-23

    申请号:CN200710152124.1

    申请日:2007-09-17

    CPC classification number: G01M11/336 G01M11/331

    Abstract: 本发明公开了一种用于测量受试器件(DUT)内偏振模色散(PMD)的装置,包括偏振光源,用于经DUT发射测试光束;以及PMD分析仪,它采用多种已知技术中的一种,如固定分析仪-傅立叶变换(FA-FT)或干涉仪式,以计算DUT引起的PMD。在光源与PMD分析仪之间布置有由多个双折射元件组成的无源消偏器,以生成多个对应于双折射元件所施加时延的载波频率。DUT的PMD成分存在于每个载波周围,可以对多个PMD测量值取平均来获得更为精确且可再现的PMD测量值。

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