使用增材制造技术制造三维工件的设备和系统

    公开(公告)号:CN114302782B

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202080060505.0

    申请日:2020-08-27

    Abstract: 本发明描述了对用于制造三维工件的设备的照射系统进行校准的装置,该照射系统包括用于将照射射束选择性地照射到照射平面上的照射单元,其中,该装置包括:控制单元,该控制单元被配置成对照射系统进行控制,以将照射射束照射到照射平面上;以及联接到控制单元的光学检测单元,其中,光学检测单元包括光学检测器和物镜,以对照射平面的一部分进行光学检测,其中,光学检测单元被配置成对照射射束在照射平面上的光斑的位置进行检测,其中,物镜适于相对于照射射束的照射射束路径被布置在光学检测器和照射系统的照射射束扫描器之间,其中,光学检测单元被配置成根据光学检测单元的可调节的焦距在多个焦平面中对照射射束的光斑的位置进行检测,其中,所述光学检测单元被配置成:响应于所述光学检测单元检测到所述照射射束在所述照射平面上的光斑的位置,向所述控制单元输出信号,并且其中,控制单元被配置成根据从光学检测单元输出到控制单元的信号对照射系统进行控制。

    放大偏移校正方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117794669A

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202280055740.8

    申请日:2022-06-14

    Abstract: 提供一种用于对装置中的激光束的位置进行校准的方法,该装置包括用于引导激光束的至少一个光学单元。至少一个光学单元包括多个光学元件。该方法包括:对至少一个光学单元的多个光学元件设置第一光学配置,从而以第一焦斑尺寸将激光束引导到测量平面上;测量使用第一光学配置生成的激光束在测量平面内的第一位置;对至少一个光学单元的多个光学元件设置第二光学配置,从而以第二焦斑尺寸将激光束引导到测量平面上,第二焦斑尺寸不同于第一焦斑尺寸;测量使用第二光学配置生成的激光束在测量平面内的第二位置;以及基于所测量的第一位置和所测量的第二位置,确定至少一个校正值。

    用于校准光学系统的方法和装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118215550A

    公开(公告)日:2024-06-18

    申请号:CN202280075114.5

    申请日:2022-12-14

    Abstract: 用于校准光学系统(24)的装置,光学系统特别是用于通过照射原材料粉末层来生产三维工件的设备(100),该装置包括:i)靶(32),该靶被构造成在扫描器(22)的扫描器坐标系统内的已知位置处用由光学单元(16)所发射的辐射束(14)照射,该扫描器被构造成将辐射束(14)扫描在照射平面(I)上,以产生校准点(C);ii)校准束发射装置,该校准束发射装置被构造成从校准点(C)沿待校准的光学系统(24)的方向发射校准束(36);以及iii)调节装置,该调节装置被构造成允许光学系统(24)的校准,使得从校准点(C)所发射的校准束(36)的束路径与用于产生校准点(C)的辐射束(14)的束路径共线。

    使用增材制造技术制造三维工件的设备

    公开(公告)号:CN118305337A

    公开(公告)日:2024-07-09

    申请号:CN202410249555.3

    申请日:2020-08-27

    Abstract: 使用增材制造技术制造三维工件的设备,包括照射单元和光学检测单元;所述光学检测单元包括:光学检测器以及焦距调节器。所述光学检测单元能够根据所述光学检测单元的可调节的焦距在多个焦平面中对所述至少一个照射射束的光斑进行检测,其中,所述光学检测单元被配置成对于所述光学检测单元的同一观察方向、在多个焦平面中对所述照射射束在所述照射平面上的光斑进行检测,其中,所述光学检测单元被配置成确定所述照射平面的图像在所述多个焦平面中的每个焦平面中的聚焦区域,并且其中,所述设备被配置成根据所述多个焦平面中的每个焦平面的确定的聚焦区域来确定与所述照射平面的表面有关的三维信息。

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