-
公开(公告)号:CN117741267A
公开(公告)日:2024-03-22
申请号:CN202311779549.0
申请日:2023-12-20
Applicant: 广电计量检测(武汉)有限公司 , 广州广电计量检测(上海)有限公司 , 广电计量检测(无锡)有限公司
Abstract: 本发明涉及近场扫描技术和电磁辐射分析领域,并且更具体地,涉及一种低成本电磁辐射分析装置和方法,本发明将近场扫描技术这一低成本高效率的方法与对应的EMC认证测试这一高昂成本效率低的方法结合起来,加以优化完善,对于产品远场测试未通过的产品可以通过近场探头确定干扰源和干扰路径,然后可视化的呈现场强分布,通过将远场测试数据与近场测试数据进行大量的对比与拟合,得出两者的近似关系,在无电波暗室情况下,快速的对电路板的干扰源进行定位和测量,对电路板的干扰源采取有效措施,在对产品进行改进后在电波暗室进行正式测试,从而节省成本并提高研发效率。
-
公开(公告)号:CN119619923A
公开(公告)日:2025-03-14
申请号:CN202411746060.8
申请日:2024-12-02
Applicant: 广电计量检测(北京)有限公司 , 广电计量检测(无锡)有限公司 , 广电计量检测(武汉)有限公司 , 方圆广电检验检测股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种磁源定位装置和方法,装置包括:十字测量支架;多个磁传感设备,磁传感设备与十字测量支架连接,用于获取磁场测量数据;数据分析设备,数据分析设备与磁传感设备连接,用于根据磁场测量数据,进行磁源定位。方法包括:获取磁场测量数据;对磁场测量数据进行傅里叶变换,得到变换数据;对磁场测量数据进行小波变换,得到小波变换数据;根据离散随机变量取值概率和小波能量,计算小波熵;根据小波系数,构建风险函数;根据小波变换数据、小波熵和风险函数,对变换数据进行小波去噪,得到小波去噪数据;根据磁梯度张量和小波去噪数据,进行磁源定位。本发明实现了磁源定位,提高了效率和准确度。本发明可应用于磁探测技术领域。
-