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公开(公告)号:CN104170082A
公开(公告)日:2014-11-26
申请号:CN201380010431.X
申请日:2013-02-25
Applicant: 德克萨斯仪器股份有限公司
IPC: H01L23/48
CPC classification number: H01L21/50 , H01L23/051 , H01L23/48 , H01L23/5389 , H01L24/24 , H01L24/29 , H01L24/32 , H01L24/33 , H01L24/73 , H01L24/83 , H01L25/071 , H01L25/072 , H01L2224/0346 , H01L2224/04026 , H01L2224/04105 , H01L2224/05655 , H01L2224/06181 , H01L2224/24227 , H01L2224/29339 , H01L2224/32145 , H01L2224/32225 , H01L2224/33181 , H01L2224/73267 , H01L2224/83192 , H01L2224/83455 , H01L2224/8384 , H01L2924/13091 , H01L2924/181 , H01L2924/19105 , H01L2924/01079 , H01L2924/01047 , H01L2924/00 , H01L2924/00012
Abstract: 本发明提供一种系统级封装件及其制造方法。系统级封装件包括具有基板(4)设置在其内部的层合体。半导体芯片(2)嵌入到层合体中,并且半导体通过烧结的键合层键合到基板(4)的接触垫(6),其中烧结的键合层由烧结膏制成。基板和提供层合体的其它层的层合以及烧结膏的烧结可以在单一、共同的固化步骤中执行。
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公开(公告)号:CN104170082B
公开(公告)日:2021-09-03
申请号:CN201380010431.X
申请日:2013-02-25
Applicant: 德克萨斯仪器股份有限公司
IPC: H01L23/48
Abstract: 提供一种系统级封装件及其制造方法。系统级封装件包括具有基板(4)设置在其内部的层合体。半导体芯片(2)嵌入到层合体中,并且半导体通过烧结的键合层键合到基板(4)的接触垫(6),其中烧结的键合层由烧结膏制成。基板和提供层合体的其它层的层合以及烧结膏的烧结可以在单一、共同的固化步骤中执行。
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