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公开(公告)号:CN102150218A
公开(公告)日:2011-08-10
申请号:CN200980135762.X
申请日:2009-08-19
Applicant: 旭硝子株式会社
IPC: G21K1/06 , C03C23/00 , G03F7/20 , H01L21/027
CPC classification number: B82Y40/00 , B82Y10/00 , C03C23/0025 , C03C2204/08 , G03F1/24 , G03F1/60 , G21K2201/067
Abstract: 本发明提供一种将EUVL用光学部件的具有凹陷缺陷点的光学面平滑化的方法。具体而言,本发明提供一种如下所述将EUVL用光学部件的光学面平滑化的方法,即,对含有TiO2且以SiO2为主成分的石英玻璃材料制的EUV光刻(EUVL)用光学部件的具有凹陷缺陷点的光学面,在水蒸气分压3.6mmHg以下的气氛中,以能量密度0.3~1.5J/cm2,照射以EUVL用光学部件的吸收系数为0.01μm-1以上的波长进行振荡的激光,从而将EUVL用光学部件的光学面平滑化。
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公开(公告)号:CN102150218B
公开(公告)日:2014-04-16
申请号:CN200980135762.X
申请日:2009-08-19
Applicant: 旭硝子株式会社
IPC: G21K1/06 , C03C23/00 , G03F7/20 , H01L21/027
CPC classification number: B82Y40/00 , B82Y10/00 , C03C23/0025 , C03C2204/08 , G03F1/24 , G03F1/60 , G21K2201/067
Abstract: 本发明提供一种将EUVL用光学部件的具有凹陷缺陷点的光学面平滑化的方法。具体而言,本发明提供一种如下所述将EUVL用光学部件的光学面平滑化的方法,即,对含有TiO2且以SiO2为主成分的石英玻璃材料制的EUV光刻(EUVL)用光学部件的具有凹陷缺陷点的光学面,在水蒸气分压3.6mmHg以下的气氛中,以能量密度0.3~1.5J/cm2,照射以EUVL用光学部件的吸收系数为0.01μm-1以上的波长进行振荡的激光,从而将EUVL用光学部件的光学面平滑化。
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