物品检测方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN112052708B

    公开(公告)日:2024-06-18

    申请号:CN201910493006.X

    申请日:2019-06-06

    Abstract: 本申请公开了一种物品检测方法、装置及系统。方法包括:获取针对物品取放柜的物品取放触发数据;当基于触发数据确定物品取放柜处于物品取放触发状态时,基于物品取放触发数据确定取放区域;获取与物品取放时刻相关的图像和重量数据,基于与物品取放时刻相关的图像得到目标图像数据;基于取放区域的信息、重量数据及目标图像数据确定物品取放信息。当确定物品取放柜处于物品取放触发状态时,基于与物品取放时刻相关的图像获取到目标图像数据,从而基于取放区域的信息、目标图像数据及重量数据确定物品取放信息,与利用视频图像进行动作姿态分析和物品识别相比,降低了计算量,提高了检测效率,且提高检测准确性。

    一种红外热电光谱成像系统及红外成像方法

    公开(公告)号:CN116723364A

    公开(公告)日:2023-09-08

    申请号:CN202211446891.4

    申请日:2022-11-18

    Abstract: 本发明实施例提供了一种红外热电光谱成像系统及红外成像方法,系统包括:成像镜头以及热电探测器,热电探测器包括:红外窗口、滤光膜、调制结构、探测器阵列以及介质材料,沿成像镜头的光轴方向依次设置有成像镜头、红外窗口、介质材料和探测器阵列,调制结构位于介质材料的一面,且朝向探测器阵列,滤光膜附着于介质材料的另一面。滤光膜、介质材料以及调制结构构成了一个多功能光谱滤光片,相当于红外热电光谱成像系统中,添加了多功能光谱滤光片,通过该多功能滤光片实现滤波以及光谱调制的功能,能够减少元器件堆叠对红外热电光谱成像系统探测性能的影响,进而提高热电探测器的探测性能,实现对外界入射光光谱的高精度测量。

    一种光谱反射率检测方法及系统

    公开(公告)号:CN113358224A

    公开(公告)日:2021-09-07

    申请号:CN202110660535.1

    申请日:2021-06-15

    Abstract: 本申请提供一种光谱反射率检测方法及系统,该光谱反射率检测系统包括环境光感知模块、目标光谱采集模块和数据处理模块。环境光感知模块采集目标检测时刻的检测环境光光谱,将检测环境光光谱发送给数据处理模块;目标光谱采集模块采集目标检测时刻的检测目标光谱,将检测目标光谱发送给数据处理模块;数据处理模块确定同一目标波长对应的检测环境光光谱和检测目标光谱,基于该检测环境光光谱和已确定的映射参数确定检测参考光谱,该检测参考光谱是第二环境光的光谱;基于该检测目标光谱和该检测参考光谱确定待测物体的光谱反射率;映射参数表示参考光谱与环境光光谱的映射关系。通过本申请的技术方案,能够准确计算待测物体的光谱反射率。

    图像成像方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN119676577A

    公开(公告)日:2025-03-21

    申请号:CN202311211548.6

    申请日:2023-09-19

    Abstract: 本申请公开一种图像成像方法、装置、设备及存储介质,涉及成像技术领域。方法包括:获取马赛克图像;通过U‑Net图像成像模型,对马赛克图像进行去噪和光谱重建同步处理,获得多光谱图像;U‑Net图像成像模型包括编码器网络和解码器网络;其中,编码器网络包括多个编码器,编码器包括下采样层,且至少一个编码器还包括第一特征聚合前馈模块,配置为对输入至第一特征聚合前馈模块的图像的邻域空间内特征进行聚合处理;解码器网络包括多个解码器,解码器包括上采样层,且至少一个解码器还包括第二特征聚合前馈模块,配置为对输入至第二特征聚合前馈模块的图像的邻域空间内特征进行聚合处理。本申请可以提高成像质量。

    一种反射率光谱检测设备
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN117330516B

    公开(公告)日:2025-02-25

    申请号:CN202210722080.6

    申请日:2022-06-24

    Abstract: 本发明实施例提供的一种反射率光谱检测设备,涉及光谱检测技术领域,通过偏振结构接收环境光照射到目标物体表面反射的反射光,并消除反射光中垂直于偏振方向的镜面反射光,得到平行于偏振方向的反射光;光谱传感器接收平行于偏振方向的反射光,并识别平行于偏振方向的反射光中多个预设波段的光谱强度;上光谱仪采集多角度的漫散射光,并识别多角度的漫散射光中多个预设波段的光谱强度;处理器根据平行于偏振方向的反射光中多个预设波段的光谱强度和多角度的漫散射光中多个预设波段的光谱强度,计算目标物体的成分信息。通过本申请的反射率光谱检测设备,可以避免镜面反射光的影响,从而提高反射率光谱的测量的准确率。

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