公开(公告)号：CN1059373C

公开(公告)日：2000-12-13

申请号：CN94120035.3

申请日：1994-12-28

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 安平宣夫 ,  上田修治

IPC: B23Q16/00 ,  B23Q17/24 ,  B23B21/00 ,  B23B25/06

CPC classification number: B23Q17/2457 ,  Y10T29/49769 ,  Y10T29/49778 ,  Y10T29/53087

Abstract: 一种切削工具调整方法，具有可从加工机床上取出并可调整和固定切削工具11姿势的工具架14、对物干涉显微镜以及可将切削工具架14相对对物干涉显微镜重复再现性良好地反复固定在同一位置上的固定台，可进行工具姿势的调整，因此，在工具姿势调整作业中不需要熟练性并可提高加工设备的运转率。

公开(公告)号：CN1156267A

公开(公告)日：1997-08-06

申请号：CN96103081.X

申请日：1996-03-07

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 长野宽之 ,  井上隆史 ,  上野和夫 ,  持田省郎 ,  上田修治

IPC: G03F7/20

CPC classification number: H01J9/2274 ,  H01J9/2272 ,  H01J9/2273

Abstract: 本发明的曝光装置，由椭圆反射镜2使光源1产生的光会聚。会聚光在棒状光积分器中积分并均匀，从光积分器3另一端辐射。透镜系统7辐射光积分器的出射光10，投影到显像管的显示区域6a。透镜系统7具有在其虚像区形成第一和第二虚像焦点的非点像差。辐射光表观上由第一虚像焦点在垂直方向上辐射，由第二虚像焦点在水平方向上辐射。上述第一和第二虚像焦点分别定位于该显像管垂直和水平偏转装置相对应的位置上。因而，偏转电子束可以正确地与图像信号同步在G、B、R点阵上扫描。

公开(公告)号：CN1111555A

公开(公告)日：1995-11-15

申请号：CN94120035.3

申请日：1994-12-28

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 安平宣夫 ,  上田修治

IPC: B23Q16/00 ,  B23Q17/24 ,  B23B21/00 ,  B23B25/06

CPC classification number: B23Q17/2457 ,  Y10T29/49769 ,  Y10T29/49778 ,  Y10T29/53087

Abstract: 一种切削工具定位装置，具有可从加工机床上取出并可调整和固定切削工具11姿势的工具架14、对物干涉显微镜以及可将切削工具架14相对对物干涉显微镜重复再现性良好地反复固定在同一位置上的固定台，可进行工具姿势的调整，因此，在工具姿势调整作业中不需要熟练性并可提高加工设备的运转率。

公开(公告)号：CN1080897C

公开(公告)日：2002-03-13

申请号：CN96103081.X

申请日：1996-03-07

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 长野宽之 ,  井上隆史 ,  上野和夫 ,  持田省郎 ,  上田修治

IPC: G03F7/20 ,  H01J9/227

CPC classification number: H01J9/2274 ,  H01J9/2272 ,  H01J9/2273

Abstract: 本发明的曝光装置，由椭圆反射镜2使光源1产生的光会聚。会聚光在棒状光积分器中积分并均匀，从光积分器3另一端辐射。透镜系统7辐射光积分器的出射光10，投影到显像管的显示区域6a。透镜系统7具有在其虚像区形成第一和第二虚像焦点的非点像差。辐射光表观上由第一虚像焦点在垂直方向上辐射，由第二虚像焦点在水平方向上辐射。上述第一和第二虚像焦点分别定位于该显像管垂直和水平偏转装置相对应的位置上。因而，偏转电子束可以正确地与图像信号同步在G、B、R点阵上扫描。