半导体器件和IC卡
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101140546A

    公开(公告)日:2008-03-12

    申请号:CN200710149508.8

    申请日:2007-09-04

    CPC classification number: G11C7/20 G11C16/20 G11C29/72

    Abstract: 根据本发明的半导体器件,包括第一非易失性存储器、存储有初始数据的第二非易失性存储器,和用于初始化第一非易失性存储器的初始化控制器,其中,第二非易失性存储器的抗应力特性高于第一非易失性存储器的抗应力特性,并且初始化控制器在第一非易失性存储器被初始化时从第二非易失性存储器读取初始数据,并将所读取的初始数据复制在第一非易失性存储器中,以初始化第一非易失性存储器。

    半导体装置以及搭载该装置的IC卡

    公开(公告)号:CN1518107A

    公开(公告)日:2004-08-04

    申请号:CN200410001841.0

    申请日:2004-01-14

    CPC classification number: G05F1/465

    Abstract: 一种半导体装置,包括:降低电源电压(VDD)而输出内部电压(VINT)的降压电路(11)、与内部电压连接的非易失性存储器(13)、具有开关晶体管(PN1)和电阻器(R3)的消耗电流控制电路(14)。在此,非易失性存储器消耗的电流量与电阻器消耗的电流量大体上一致。消耗电流控制电路,利用存储器活化信号(RACT),在非易失性存储器不动作时让开关晶体管处于导通状态,消耗与非易失性存储器消耗的电流量大体相同的电流量,而在非易失性存储器动作时让开关晶体管处于截止状态,停止电阻器的电流消耗。这样,即使内部电路从停止状态变换到动作状态的变化情况下、也能供给稳定的电压。

    半导体存储装置
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1115099A

    公开(公告)日:1996-01-17

    申请号:CN94113672.8

    申请日:1994-10-28

    CPC classification number: G11C7/12 G11C7/24

    Abstract: 一种半导体存储装置,其组成包括:位线,字线,单元平板电极,由MOS晶体管以及强电介质电容组成的存储单元,以及改变位线电容值的变动装置。此变动装置由与位线连接的开关元件和与该开关元件连接的电容构成。数据提供者与数据使用者之间预先设定的最大读出次数的读出动作结束后,通过使开关元件处于导通状态,将电容与位线连接,因而位线电容值变得不确切,无法读出正确的数据。

    半导体存储装置
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1091544A

    公开(公告)日:1994-08-31

    申请号:CN93112773.4

    申请日:1993-12-02

    CPC classification number: G11C11/22

    Abstract: 位线BL0、/BL0接读出放大器。第1MOS晶体管Qn栅极、源极和漏极分别接第1字线WL0、第1强电介质电容Cs1的第1电极和BL0,Cs1的第2电极接第1板极CP0。第2MOS晶体管Qn的栅极、源极和漏极分别接第2字线DWL0、第2电容Cd2的第1电极和/BL0,Cd2的第2电极接第2板极DCP0。第2Qn关断后DCP0的逻辑电压反转。由此,采用强电介质的半导体存储装置可进行存储电容初始化,而且功耗不集中,能高速读出。

    半导体装置以及搭载该装置的IC卡

    公开(公告)号:CN1271713C

    公开(公告)日:2006-08-23

    申请号:CN200410001841.0

    申请日:2004-01-14

    CPC classification number: G05F1/465

    Abstract: 一种半导体装置,包括:降低电源电压(VDD)而输出内部电压(VINT)的降压电路(11)、与内部电压连接的非易失性存储器(13)、具有开关晶体管(PN1)和电阻器(R3)的消耗电流控制电路(14)。在此,非易失性存储器消耗的电流量与电阻器消耗的电流量大体上一致。消耗电流控制电路,利用存储器活化信号(RACT),在非易失性存储器不动作时让开关晶体管处于导通状态,消耗与非易失性存储器消耗的电流量大体相同的电流量,而在非易失性存储器动作时让开关晶体管处于截止状态,停止电阻器的电流消耗。这样,即使内部电路从停止状态变换到动作状态的变化情况下、也能供给稳定的电压。

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