调试电路
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1598608A

    公开(公告)日:2005-03-23

    申请号:CN200410079702.X

    申请日:2004-09-17

    CPC classification number: G06F11/24 G01R31/31705

    Abstract: 本发明提供一种调试电路,在变换块(140)中,把由选择块(120)输出的异常的原因解析中认为有效的多个内部信号,用从时间生成块(130)输出的信号进行栓锁,并变换为串行数据输出到输出块(150),因此,可以用少量的外部管脚观测LSI内部的多个信号,可以迅速并且可靠地执行LSI的动作异常的解析。

    调试电路
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101604274A

    公开(公告)日:2009-12-16

    申请号:CN200910140143.1

    申请日:2004-09-17

    CPC classification number: G06F11/24 G01R31/31705

    Abstract: 本发明提供一种调试电路,在变换块(140)中,把由选择块(120)输出的异常的原因解析中认为有效的多个内部信号,用从时间生成块(130)输出的信号进行栓锁,并变换为串行数据输出到输出块(150),因此,可以用少量的外部管脚观测LSI内部的多个信号,可以迅速并且可靠地执行LSI的动作异常的解析。

    调试电路
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100568006C

    公开(公告)日:2009-12-09

    申请号:CN200410079702.X

    申请日:2004-09-17

    CPC classification number: G06F11/24 G01R31/31705

    Abstract: 本发明提供一种调试电路,在变换块(140)中,把由选择块(120)输出的异常的原因解析中认为有效的多个内部信号,用从时间生成块(130)输出的信号进行栓锁,并变换为串行数据输出到输出块(150),因此,可以用少量的外部管脚观测LSI内部的多个信号,可以迅速并且可靠地执行LSI的动作异常的解析。

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