公开(公告)号：CN1503133A

公开(公告)日：2004-06-09

申请号：CN200310124822.2

申请日：2003-10-30

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 品川雅俊 ,  川原昭文 ,  福岛哲之 ,  仓田胜一 ,  小宫学

IPC: G06F11/22

CPC classification number: G11C29/1201 ,  G11C16/04 ,  G11C29/48 ,  G11C2029/0401 ,  G11C2029/2602

Abstract: 为了提供一种非易失性存储器微机，其中可以省略掉使用逻辑测试器对微机单元进行测试的步骤，因此降低了测试成本。存储器测试器向非易失性存储器微机提供测试数据和期望数据，并且非易失性存储器微机将它们存储到非易失性存储器中。接着，在收到地址信号时，非易失性存储器根据对应于地址信号的测试数据和期望数据输出测试信号和期望信号。测试信号被提供给微机单元中的电路块，用于驱动该电路块。电路块返回测试结果信号，该信号同期望信号一块被输出该存储器测试器。存储器测试器对测试结果信号和期望信号进行比较，以判断微机单元运行是否正常。

公开(公告)号：CN1244052C

公开(公告)日：2006-03-01

申请号：CN200310124822.2

申请日：2003-10-30

Applicant: 松下电器产业株式会社

Inventor： 品川雅俊 ,  川原昭文 ,  福岛哲之 ,  仓田胜一 ,  小宫学

IPC: G06F11/22

CPC classification number: G11C29/1201 ,  G11C16/04 ,  G11C29/48 ,  G11C2029/0401 ,  G11C2029/2602

Abstract: 为了提供一种非易失性存储器微机，其中可以省略掉使用逻辑测试器对微机单元进行测试的步骤，因此降低了测试成本。存储器测试器向非易失性存储器微机提供测试数据和期望数据，并且非易失性存储器微机将它们存储到非易失性存储器中。接着，在收到地址信号时，非易失性存储器根据对应于地址信号的测试数据和期望数据输出测试信号和期望信号。测试信号被提供给微机单元中的电路块，用于驱动该电路块。电路块返回测试结果信号，该信号同期望信号一块被输出该存储器测试器。存储器测试器对测试结果信号和期望信号进行比较，以判断微机单元运行是否正常。