公开(公告)号：CN115479554A

公开(公告)日：2022-12-16

申请号：CN202210167008.1

申请日：2022-02-23

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： 渡边贵光 ,  根本贤太郎 ,  杉田荣彦

IPC: G01B11/24

Abstract: 利用单个光学探测器精确测量各种大小和几何形状的待测量物体。一种光学探测器(10)包括：辐照部(20)，该辐照部利用激光辐照待测量物体；成像部(30)，该成像部接收由待测量物体反射的激光并捕获待测量物体的图像；第一驱动部(40)，该第一驱动部在激光对待测量物体的辐照方向上移动辐照部(20)；以及第二驱动部(50)，该第二驱动部在从待测量物体的激光的反射方向和与反射方向正交的正交方向上移动成像部(30)。

公开(公告)号：CN306627743S

公开(公告)日：2021-06-22

申请号：CN202030791333.7

申请日：2020-12-22

Applicant: 株式会社三丰

Designer： 根本贤太郎 ,  杉田荣彦 ,  小竹纯 ,  清水葵

Abstract: 1.本外观设计产品的名称：用于坐标测量的光学测量头。
2.本外观设计产品的用途：用于测量被测部件的三维坐标。
3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。
4.最能表明设计要点的图片或照片：主视图。
5.示出透明部参考图中带有斜线的区域具有透光性。

公开(公告)号：CN306266803S

公开(公告)日：2021-01-05

申请号：CN202030393271.4

申请日：2020-07-20

Applicant: 株式会社三丰

Designer： 根本贤太郎 ,  杉田荣彦 ,  须贝裕 ,  小竹纯

Abstract: 1.本外观设计产品的名称：用于坐标测量的光学测量头。
2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品安装在三维测量仪的探头上或铰接式坐标测量仪上，是用于测量被测零件三维坐标的光学坐标测量头。
3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。
4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。