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公开(公告)号：CN1873480A
公开(公告)日：2006-12-06
申请号：CN200610084576.6
申请日：2006-06-02
Applicant: 株式会社东芝
IPC: G02F1/13
CPC classification number: G02F1/136259 , G02F1/1303 , G02F2201/508
Abstract: 一种通过用激光来照射液晶屏的缺陷像素来修复液晶屏的方法，包括：在包含灰尘的缺陷像素中，在灰尘基本不会被激光照射到的同时，用激光照射所述灰尘之外的缺陷像素的至少一部分。或者，一种通过用激光来照射液晶屏的缺陷像素来修复液晶屏的方法，包括：在含有灰尘的缺陷像素中，确定含有所述灰尘的非照射区域以及不含有所述灰尘的照射区域，并且在所述非照射区域不被所述激光照射的同时用所述激光照射所述照射区域的至少一部分。一种用于修复液晶屏的装置，包括：发射激光的激光振荡器；其上安装有所述液晶屏的平台；将从所述激光振荡器中发射出的激光导向安装在所述平台上的所述液晶屏的光学部分；以及控制器，控制所述平台和所述光学部分至少之一，从而当所述液晶屏的缺陷像素中含有灰尘时，在所述灰尘基本不被所述激光照射到的同时，所述激光照射所述灰尘之外的缺陷像素的至少一部分。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1221011C
公开(公告)日：2005-09-28
申请号：CN02108481.5
申请日：2002-02-08
Applicant: 株式会社东芝
Inventor： 伊藤弘
IPC: H01L21/00 , H01L21/324 , B23K26/00
CPC classification number: B23K26/066
Abstract: 一边使掩模和硅膜相对移动一边多次照射脉冲激光，通过掩模和硅膜的相对移动，利用透过在掩模上相互不同位置上形成的开口部的脉冲激光的照射，形成在硅膜上照射的相互邻接的各激光照射区域，并且，邻接的各激光照射区域的各边界至少相互接触。
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公开(公告)号：CN103715139A
公开(公告)日：2014-04-09
申请号：CN201310537397.3
申请日：2013-09-09
Applicant: 株式会社东芝
IPC: H01L21/78 , H01L21/683
CPC classification number: H01J9/26 , B32B7/02 , B32B7/06 , B32B15/08 , B32B15/18 , B32B27/281 , B32B2307/748 , B32B2457/20 , G02F1/133305 , H01L27/32 , H01L51/56 , H01L2227/326
Abstract: 根据一个实施例，公开了一种制造显示器件的方法。所述方法可以包括在载体基板的金属层上形成基底基板。所述方法可以包括在基底基板上形成显示元件层。此外，所述方法可以包括通过从载体基板中与金属层相反的一侧照射激光，从金属层剥离基底基板。
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公开(公告)号：CN1373500A
公开(公告)日：2002-10-09
申请号：CN02108481.5
申请日：2002-02-08
Applicant: 株式会社东芝
Inventor： 伊藤弘
IPC: H01L21/00 , H01L21/324 , B23K26/00
CPC classification number: B23K26/066
Abstract: 一边使掩模和被加工物相对移动一边多次照射脉冲激光,通过掩模和被加工物的相对移动,利用透过在掩模上相互不同位置上形成的开口部的脉冲激光的照射,形成在被加工物上照射的相互邻接的各激光照射区域,并且,邻接的各激光照射区域的各边界至少相互接触。
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公开(公告)号：CN102270720A
公开(公告)日：2011-12-07
申请号：CN201010282829.7
申请日：2010-09-13
Applicant: 株式会社东芝
CPC classification number: H01L33/44 , H01L21/268 , H01L33/0079 , H01L33/40 , H01L33/50 , H01L2224/16
Abstract: 本发明涉及发光装置及其制造方法。本发明的发光装置具备：包含发光层的半导体层，具有第一主面、与第一主面相反一侧的第二主面、以及连接第一主面和第二主面的第三主面；第一电极部和第二电极部，设置在半导体层的第二主面；第一绝缘膜，覆盖半导体层的第二主面和第三主面；以及金属层，层叠在第一电极部和第二电极部中的至少第二电极部上，并延伸到覆盖接近的第三主面的第一绝缘膜的延长部分上。
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公开(公告)号：CN100420983C
公开(公告)日：2008-09-24
申请号：CN200610084576.6
申请日：2006-06-02
Applicant: 株式会社东芝
IPC: G02F1/13
CPC classification number: G02F1/136259 , G02F1/1303 , G02F2201/508
Abstract: 一种通过用激光来照射液晶屏的缺陷像素来修复液晶屏的方法，包括：在包含灰尘的缺陷像素中，在灰尘基本不会被激光照射到的同时，用激光照射所述灰尘之外的缺陷像素的至少一部分。或者，一种通过用激光来照射液晶屏的缺陷像素来修复液晶屏的方法，包括：在含有灰尘的缺陷像素中，确定含有所述灰尘的非照射区域以及不含有所述灰尘的照射区域，并且在所述非照射区域不被所述激光照射的同时用所述激光照射所述照射区域的至少一部分。一种用于修复液晶屏的装置，包括：发射激光的激光振荡器；其上安装有所述液晶屏的平台；将从所述激光振荡器中发射出的激光导向安装在所述平台上的所述液晶屏的光学部分；以及控制器，控制所述平台和所述光学部分至少之一，从而当所述液晶屏的缺陷像素中含有灰尘时，在所述灰尘基本不被所述激光照射到的同时，所述激光照射所述灰尘之外的缺陷像素的至少一部分。
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