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公开(公告)号：CN107250774A
公开(公告)日：2017-10-13
申请号：CN201580068276.6
申请日：2015-12-18
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/85
Abstract: 本发明目的在于提高谷粒品级判别装置的谷粒(G)的品级判别精度。该装置具备：光学部(3)，向谷粒(G)照射光，由受光传感器接受来自谷粒(G)的反射光和/或透过光，从而从谷粒(G)的表面侧、背面侧获得用于上述品级测定的信息；以及品级判别部(7)，基于上述信息来判别谷粒(G)的品级。通过由一个光学部(3)同时获得上述表面侧信息和背面侧信息，从而防止随着谷粒(G)的移动、姿势的变化的取得信息的偏差，将用于修正上述信息的基准板移出谷粒的移动路径而防止脏污或破损，从而防止上述信息的紊乱，而且设置特别的基准板供谷粒(G)的侧面信息用，来提高侧面信息的精度等，从而提高谷粒(G)的品级判别精度。
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公开(公告)号：CN106053342B
公开(公告)日：2020-06-16
申请号：CN201610210396.1
申请日：2016-04-06
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/01 , G01N21/892
Abstract: 本发明涉及一种谷粒品级判别装置以及该装置的来自谷粒的光的受光方法。谷粒品级判别装置中，光学部是交替重复亮灯和灭灯的两组光源，具有从谷粒的一面侧照射光的第一光源、从谷粒的另一面侧照射光的第二光源，传感器包括：第一受光部，其对应于切换各光源的亮灯和灭灯的定时来设定曝光时间，在第一光源亮灯时接收来自谷粒的一面侧的反射光，在第二光源亮灯时接收来自谷粒的一面侧的透射光；和第二受光部，其将各光源连续交替的亮灯作为一对，对应于使各光源亮灯预定次数的定时来设定曝光时间，在第一光源亮灯时和第二光源亮灯时连续接收来自谷粒的侧面侧的反射光和透射光，能够根据传感器从谷粒的侧面侧接收到的受光信号来进行着色粒等的判别。
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公开(公告)号：CN106053342A
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201610210396.1
申请日：2016-04-06
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/01 , G01N21/892
Abstract: 本发明涉及一种谷粒品级判别装置以及该装置的来自谷粒的光的受光方法。谷粒品级判别装置中，光学部是交替重复亮灯和灭灯的两组光源，具有从谷粒的一面侧照射光的第一光源、从谷粒的另一面侧照射光的第二光源，传感器包括：第一受光部，其对应于切换各光源的亮灯和灭灯的定时来设定曝光时间，在第一光源亮灯时接收来自谷粒的一面侧的反射光，在第二光源亮灯时接收来自谷粒的一面侧的透射光；和第二受光部，其将各光源连续交替的亮灯作为一对，对应于使各光源亮灯预定次数的定时来设定曝光时间，在第一光源亮灯时和第二光源亮灯时连续接收来自谷粒的侧面侧的反射光和透射光，能够根据传感器从谷粒的侧面侧接收到的受光信号来进行着色粒等的判别。
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公开(公告)号：CN115210007A
公开(公告)日：2022-10-18
申请号：CN202180018602.8
申请日：2021-02-26
Applicant: 株式会社佐竹
Inventor： 土井贵广
Abstract: 光学式分选机具备：光源；彩色传感器；异物以及/或不合格品的判定部；色偏量计算部，针对由彩色传感器得到的彩色图像，计算因R元件组、G元件组以及B元件组中的至少两个元件组在分选对象物的移送方向上相互分离而产生的色偏的量；速度计算部，基于至少两个元件组的在移送方向上的分离距离、色偏量、以及作为彩色传感器的一次扫描所需的时间的扫描时间，来计算分选对象物的移送速度；以及分选装置，在基于由速度计算部计算出的移送速度而决定的时间点，进行轨道变更动作，该轨道变更动作用于变更基于判定部的判定结果而决定的特定的分选对象物的轨道。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101088633B
公开(公告)日：2013-06-12
申请号：CN200710109183.0
申请日：2007-06-14
Applicant: 株式会社佐竹
CPC classification number: B07C5/3425 , B07C5/366
Abstract: 一种光学裂纹粒挑选器，光学地识别原料米粒中混杂的裂纹粒时，不会由于存在胚芽部和/或表面划痕而将没有裂纹的正常颗粒误识别为裂纹粒。裂纹粒识别单元中的识别部可以根据由CCD摄像机中构造的第一CCD传感器接收的通过颗粒的光形成第一米粒图像(具有胚芽部和划痕)，并根据由CCD摄像机中构造的第二CCD传感器接收的通过颗粒的光形成第二米粒图像(具有裂纹、胚芽部和划痕)，并通过计算两个米粒图像之间光量的差获取裂纹图像并识别裂纹粒。
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公开(公告)号：CN1271857A
公开(公告)日：2000-11-01
申请号：CN00107017.7
申请日：2000-04-24
Applicant: 株式会社佐竹制作所
IPC: G01N21/85
Abstract: 评估颗粒状物体质量的一种方法,包括:有选择地从颗粒状物体的前面和背面照射上述物体;从每个被照射物体的前、后两侧提取反射光和透射光图像;对反射光和透射光图像进行图像处理而获得每个物体的光学信息;由此获得颗粒状物体的形状信息;根据光学信息和形状信息确定每个物体的质量,包括完整和不完整的颗粒状物体的质量;计算每一种质量物体的数量,并获得每一种质量占颗粒状物体总数的比例;由光学信息制备出物体的采样图像。
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公开(公告)号：CN107250774B
公开(公告)日：2020-07-31
申请号：CN201580068276.6
申请日：2015-12-18
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/85
Abstract: 本发明目的在于提高谷粒品级判别装置的谷粒(G)的品级判别精度。该装置具备：光学部(3)，向谷粒(G)照射光，由受光传感器接受来自谷粒(G)的反射光和/或透过光，从而从谷粒(G)的表面侧、背面侧获得用于上述品级测定的信息；以及品级判别部(7)，基于上述信息来判别谷粒(G)的品级。通过由一个光学部(3)同时获得上述表面侧信息和背面侧信息，从而防止随着谷粒(G)的移动、姿势的变化的取得信息的偏差，将用于修正上述信息的基准板移出谷粒的移动路径而防止脏污或破损，从而防止上述信息的紊乱，而且设置特别的基准板供谷粒(G)的侧面信息用，来提高侧面信息的精度等，从而提高谷粒(G)的品级判别精度。
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公开(公告)号：CN101088633A
公开(公告)日：2007-12-19
申请号：CN200710109183.0
申请日：2007-06-14
Applicant: 株式会社佐竹
CPC classification number: B07C5/3425 , B07C5/366
Abstract: 一种光学裂纹粒挑选器，光学地识别原料米粒中混杂的裂纹粒时，不会由于存在胚芽部和/或表面划痕而将没有裂纹的正常颗粒误识别为裂纹粒。裂纹粒识别单元中的识别部可以根据由CCD摄像机中构造的第一CCD传感器接收的通过颗粒的光形成第一米粒图像(具有胚芽部和划痕)，并根据由CCD摄像机中构造的第二CCD传感器接收的通过颗粒的光形成第二米粒图像(具有裂纹、胚芽部和划痕)，并通过计算两个米粒图像之间光量的差获取裂纹图像并识别裂纹粒。
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公开(公告)号：CN1296701C
公开(公告)日：2007-01-24
申请号：CN00107017.7
申请日：2000-04-24
Applicant: 株式会社佐竹
Abstract: 评估颗粒状物体质量的一种方法，包括：有选择地从颗粒状物体的前面和背面照射上述物体；从每个被照射物体的前、后两侧提取反射光和透射光图像；对反射光和透射光图像进行图像处理而获得每个物体的光学信息；由此获得颗粒状物体的形状信息；根据光学信息和形状信息确定每个物体的质量，包括完整和不完整的颗粒状物体的质量；计算每一种质量物体的数量，并获得每一种质量占颗粒状物体总数的比例；由光学信息制备出物体的采样图像。
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