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公开(公告)号：CN104428657B
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201380034156.5
申请日：2013-05-16
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/85
CPC classification number: G06T7/0004 , G01N21/85 , G06T11/60 , G06T2207/20221 , G06T2207/30128
Abstract: 本发明的技术课题在于使用通过拍摄装置拍摄的谷粒的图像信息来进行上述谷粒的光学检查，并且使用该图像信息来制作将谷粒放入到谷粒观察皿上的集合图像(模拟图像)，由此在进行光学检查的同时，能够通过该集合图像模拟地进行利用谷粒观察皿的目视的检查。因此，谷粒外观测定装置具备：拍摄单元，拍摄多个谷粒；分析单元，以粒为单位分析该拍摄单元拍摄到的谷粒的图像信息；加工单元，对上述图像信息进行加工来形成集合图像；以及保存及/或显示通过该加工单元加工后的集合图像的单元，在上述加工单元中，从上述图像信息中以粒为单位抽取谷粒的图像，将抽取的以粒为单位的各谷粒的图像配置成相互密接状态，从而形成上述谷粒的图像的集合图像。
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公开(公告)号：CN102159938B
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN200980137049.9
申请日：2009-10-01
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/85
CPC classification number: G01N21/85 , G01B11/024 , G01N2021/8592
Abstract: 本发明的技术课题在于提供使用扫描器等图像读取装置而廉价、容易地进行粒状物的长度、宽度及厚度的三轴方向的尺寸测定的粒状物用托盘。采取了下述技术措施：在配设有透明的底板、在与该底板垂直的方向上竖立设置的背景件、以及空出规定的间隔而与上述背景件平行地设置的反射体的、用于将粒状物载置在图像读取装置的读取面上的托盘中，通过上述反射体将来自上述粒状物的厚度方向的光向上述摄像机构的光轴方向折射并传导，以便能够利用上述图像读取装置的摄像机构对载置在上述托盘的底板上的粒状物的厚度方向的侧面图像感光。
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公开(公告)号：CN114829025B
公开(公告)日：2025-04-29
申请号：CN202080087328.5
申请日：2020-12-14
Applicant: 株式会社佐竹
Abstract: 光学式分选机具备：第一光源，配置于第一侧；第二光源，配置于第二侧；光学传感器，构成为在包含第一扫描期间和第二扫描期间在内的多个扫描期间检测光；判定部，构成为进行异物以及/或者不合格品的判定；光源控制部。光源控制部构成为在第一扫描期间以按第一点亮模式点亮的方式控制第一光源以及第二光源，该第一点亮模式是从第一光源和第二光源点亮的点亮模式、仅第一光源和第二光源中的一者点亮的点亮模式、仅第一光源和第二光源中的另一者点亮的点亮模式中任意选择的点亮模式；并且光源控制部构成为在第二扫描期间以按第二点亮模式点亮的方式控制第一光源以及第二光源，该第二点亮模式是任意选择的除第一点亮模式之外的点亮模式。
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公开(公告)号：CN104428657A
公开(公告)日：2015-03-18
申请号：CN201380034156.5
申请日：2013-05-16
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/85
CPC classification number: G06T7/0004 , G01N21/85 , G06T11/60 , G06T2207/20221 , G06T2207/30128
Abstract: 本发明的技术课题在于使用通过拍摄装置拍摄的谷粒的图像信息来进行上述谷粒的光学检查，并且使用该图像信息来制作将谷粒放入到谷粒观察皿上的集合图像(模拟图像)，由此在进行光学检查的同时，能够通过该集合图像模拟地进行利用谷粒观察皿的目视的检查。因此，谷粒外观测定装置具备：拍摄单元，拍摄多个谷粒；分析单元，以粒为单位分析该拍摄单元拍摄到的谷粒的图像信息；加工单元，对上述图像信息进行加工来形成集合图像；以及保存及/或显示通过该加工单元加工后的集合图像的单元，在上述加工单元中，从上述图像信息中以粒为单位抽取谷粒的图像，将抽取的以粒为单位的各谷粒的图像配置成相互密接状态，从而形成上述谷粒的图像的集合图像。
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公开(公告)号：CN118871774A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202380026372.9
申请日：2023-03-13
Applicant: 株式会社佐竹
Abstract: 用于测定对象物的状态的测定装置具备：移送部，移送对象物；电磁波照射源；传感器，构成为检测被对象物反射的反射电磁波及透过对象物的透射电磁波中的至少一方；识别部，构成为基于由传感器取得的信号来识别对象物的状态；以及照射控制部，构成为控制来自电磁波照射源的电磁波的照射。电磁波照射源包括照射的电磁波的波长区域以及设置位置中的至少一方不同的第一照射源及第二照射源。照射控制部控制电磁波照射源，使得第一照射源照射电磁波的期间亦即第一照射期间与第二照射源照射电磁波的期间亦即第二照射期间不重叠且交替地出现。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106053342B
公开(公告)日：2020-06-16
申请号：CN201610210396.1
申请日：2016-04-06
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/01 , G01N21/892
Abstract: 本发明涉及一种谷粒品级判别装置以及该装置的来自谷粒的光的受光方法。谷粒品级判别装置中，光学部是交替重复亮灯和灭灯的两组光源，具有从谷粒的一面侧照射光的第一光源、从谷粒的另一面侧照射光的第二光源，传感器包括：第一受光部，其对应于切换各光源的亮灯和灭灯的定时来设定曝光时间，在第一光源亮灯时接收来自谷粒的一面侧的反射光，在第二光源亮灯时接收来自谷粒的一面侧的透射光；和第二受光部，其将各光源连续交替的亮灯作为一对，对应于使各光源亮灯预定次数的定时来设定曝光时间，在第一光源亮灯时和第二光源亮灯时连续接收来自谷粒的侧面侧的反射光和透射光，能够根据传感器从谷粒的侧面侧接收到的受光信号来进行着色粒等的判别。
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公开(公告)号：CN106053342A
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201610210396.1
申请日：2016-04-06
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/01 , G01N21/892
Abstract: 本发明涉及一种谷粒品级判别装置以及该装置的来自谷粒的光的受光方法。谷粒品级判别装置中，光学部是交替重复亮灯和灭灯的两组光源，具有从谷粒的一面侧照射光的第一光源、从谷粒的另一面侧照射光的第二光源，传感器包括：第一受光部，其对应于切换各光源的亮灯和灭灯的定时来设定曝光时间，在第一光源亮灯时接收来自谷粒的一面侧的反射光，在第二光源亮灯时接收来自谷粒的一面侧的透射光；和第二受光部，其将各光源连续交替的亮灯作为一对，对应于使各光源亮灯预定次数的定时来设定曝光时间，在第一光源亮灯时和第二光源亮灯时连续接收来自谷粒的侧面侧的反射光和透射光，能够根据传感器从谷粒的侧面侧接收到的受光信号来进行着色粒等的判别。
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公开(公告)号：CN107250774A
公开(公告)日：2017-10-13
申请号：CN201580068276.6
申请日：2015-12-18
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/85
Abstract: 本发明目的在于提高谷粒品级判别装置的谷粒(G)的品级判别精度。该装置具备：光学部(3)，向谷粒(G)照射光，由受光传感器接受来自谷粒(G)的反射光和/或透过光，从而从谷粒(G)的表面侧、背面侧获得用于上述品级测定的信息；以及品级判别部(7)，基于上述信息来判别谷粒(G)的品级。通过由一个光学部(3)同时获得上述表面侧信息和背面侧信息，从而防止随着谷粒(G)的移动、姿势的变化的取得信息的偏差，将用于修正上述信息的基准板移出谷粒的移动路径而防止脏污或破损，从而防止上述信息的紊乱，而且设置特别的基准板供谷粒(G)的侧面信息用，来提高侧面信息的精度等，从而提高谷粒(G)的品级判别精度。
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公开(公告)号：CN106662534A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201580029634.2
申请日：2015-06-02
Applicant: 株式会社佐竹
CPC classification number: G01N21/85 , G01B11/02 , G01B11/24 , G01B11/28 , G01N21/88 , G01N2021/8592 , G01N2201/12 , G06K9/00147 , G06K9/036 , G06K9/6257 , G06T7/0004 , G06T7/60 , G06T2207/20081 , G06T2207/30128
Abstract: 本发明的粒状物外观等级判别装置的等级判别基准的生成方法，具备以下步骤：将多个粒状物按照等级分类后载置在拍摄单元的拍摄面上的粒状物载置步骤；通过上述拍摄单元拍摄载置在上述拍摄面上的上述粒状物并取得拍摄数据的拍摄数据取得步骤；根据上述拍摄数据按照上述等级来取得上述粒状物的等级信息的等级信息取得步骤；以及使用按照上述等级取得的上述等级信息来生成等级判别基准的等级判别基准生成步骤。
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公开(公告)号：CN102159938A
公开(公告)日：2011-08-17
申请号：CN200980137049.9
申请日：2009-10-01
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/85
CPC classification number: G01N21/85 , G01B11/024 , G01N2021/8592
Abstract: 本发明的技术课题在于提供使用扫描器等图像读取装置而廉价、容易地进行粒状物的长度、宽度及厚度的三轴方向的尺寸测定的粒状物用托盘。采取了下述技术措施：在配设有透明的底板、在与该底板垂直的方向上竖立设置的背景件、以及空出规定的间隔而与上述背景件平行地设置的反射体的、用于将粒状物载置在图像读取装置的读取面上的托盘中，通过上述反射体将来自上述粒状物的厚度方向的光向上述摄像机构的光轴方向折射并传导，以便能够利用上述图像读取装置的摄像机构对载置在上述托盘的底板上的粒状物的厚度方向的侧面图像感光。
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