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公开(公告)号：CN116801993A
公开(公告)日：2023-09-22
申请号：CN202180092062.8
申请日：2021-11-25
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: B07C5/342
Abstract: 光学式分选机具备：光源；光学传感器，其构成为对与被分选物相关联的光进行检测；检测部，其构成为基于由光学传感器取得的信号对被分选物的不合格部分进行检测；分选部，其构成为朝向不合格部分喷射空气，来分选具有不合格部分的被分选物；以及喷射控制部，其构成为对空气的喷射进行控制。喷射控制部构成为执行喷射范围控制，在该喷射范围控制中，在不合格部分的尺寸的值为第1值时，向相对于被分选物的第1喷射范围喷射空气，在满足规定条件时，向相对于被分选物的第2喷射范围喷射空气。第2喷射范围比第1喷射范围宽。规定条件包含尺寸的值是小于第1值的第2值。
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公开(公告)号：CN113165024B
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN201980080725.7
申请日：2019-11-11
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: B07C5/342
Abstract: 一种具备多个对被分选物进行合格与否分选的光学分选部的光学式分选机。第一光学分选部将合格与否分选的被分选物中的、从该第一光学分选部中的排出单元的不合格品排出部排出的被分选物移送至第二光学分选部。第二光学分选部将合格与否分选的被分选物中的、从该第二光学分选部中的排出单元的不合格品排出部排出的被分选物移送至第三光学分选部。上述第三光学分选部对从上述第二光学分选部移送来的被分选物进行合格与否分选。上述光学式分选机能够将在上述第一光学分选部中合格与否分选的被分选物中的、从上述第一光学分选部的上述不合格品排出部排出的被分选物的一部分移送至上述第三光学分选部进行合格与否分选。
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公开(公告)号：CN103796935B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201280041357.3
申请日：2012-07-20
Applicant: 株式会社佐竹
CPC classification number: B65G11/023 , B07C5/02 , B07C5/342 , B07C5/3425 , B07C2501/0018 , B65G11/083
Abstract: 本发明是使被分选物从下端自由落下并向光学检测部供给的光学式分选机用的滑槽（3），其特征在于，具备：包含接受从供给部（2）供给来的被分选物的部分的第一部分（31）；以及从该第一部分（31）连续且使上述被分选物从下端自由落下的第二部分（32），上述第一部分（31）由一个部件构成，该第一部分（31）具有供上述被分选物流下的多个平坦表面（34a～34c）、和使该多个平坦表面（34a～34c）在上述被分选物流下的方向以钝角连接的连接面（35a～35c），通过使位于上游侧的平坦表面（34a～34c）向下折弯而形成上述连接面（35a～35c），并使该连接面（35a～35c）向上折弯而形成位于下游侧的平坦表面（34a～34c），从而在供上述被分选物流下的表面上形成平滑的起伏。
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公开(公告)号：CN114829025B
公开(公告)日：2025-04-29
申请号：CN202080087328.5
申请日：2020-12-14
Applicant: 株式会社佐竹
Abstract: 光学式分选机具备：第一光源，配置于第一侧；第二光源，配置于第二侧；光学传感器，构成为在包含第一扫描期间和第二扫描期间在内的多个扫描期间检测光；判定部，构成为进行异物以及/或者不合格品的判定；光源控制部。光源控制部构成为在第一扫描期间以按第一点亮模式点亮的方式控制第一光源以及第二光源，该第一点亮模式是从第一光源和第二光源点亮的点亮模式、仅第一光源和第二光源中的一者点亮的点亮模式、仅第一光源和第二光源中的另一者点亮的点亮模式中任意选择的点亮模式；并且光源控制部构成为在第二扫描期间以按第二点亮模式点亮的方式控制第一光源以及第二光源，该第二点亮模式是任意选择的除第一点亮模式之外的点亮模式。
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公开(公告)号：CN103561877B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201280016516.4
申请日：2012-03-22
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: B07C5/342
CPC classification number: B07C5/342 , B07C5/3425 , B07C5/366 , B07C5/368 , B07C2501/0018
Abstract: 本发明的目的在于提供一种光学式选别机，不使装置大型化便能够提高合格品的回收率。本发明的光学式选别机(1)的特征在于，具备：粒状物供给部(2)，具有贮存被选别物的贮存单元、和从该贮存单元移送所述被选别物的移送单元；光学选别部(3)，具备检测所述被选别物的光学检测单元、判别所述被选别物的类别的判别单元、将被选别物从所述规定的落下轨迹排除的喷射器、和排出料斗，该排出料斗具有设于沿着所述规定的轨迹落下的被选别物的落下位置的第一排出路径、设于从所述规定的落下轨迹排除的被选别物的落下位置的第二排出路径、及形成于所述第一排出路径与所述第二排出路径之间的第三排出路径；以及搬送单元(4、5)，将从第三排出路径排出的被选别物搬送到所述粒状物供给部的贮存单元。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103796935A
公开(公告)日：2014-05-14
申请号：CN201280041357.3
申请日：2012-07-20
Applicant: 株式会社佐竹
CPC classification number: B65G11/023 , B07C5/02 , B07C5/342 , B07C5/3425 , B07C2501/0018 , B65G11/083
Abstract: 本发明是使被分选物从下端自由落下并向光学检测部供给的光学式分选机用的滑槽（3），其特征在于，具备：包含接受从供给部（2）供给来的被分选物的部分的第一部分（31）；以及从该第一部分（31）连续且使上述被分选物从下端自由落下的第二部分（32），上述第一部分（31）由一个部件构成，该第一部分（31）具有供上述被分选物流下的多个平坦表面（34a～34c）、和使该多个平坦表面（34a～34c）在上述被分选物流下的方向以钝角连接的连接面（35a～35c），通过使位于上游侧的平坦表面（34a～34c）向下折弯而形成上述连接面（35a～35c），并使该连接面（35a～35c）向上折弯而形成位于下游侧的平坦表面（34a～34c），从而在供上述被分选物流下的表面上形成平滑的起伏。
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公开(公告)号：CN119790298A
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202380062292.9
申请日：2023-08-25
Applicant: 株式会社佐竹
Abstract: 用于测定对象物的状态的测定装置具备：移送部，构成为移送对象物；电磁波照射源，构成为向通过移送部的作用而移送中的对象物照射电磁波；传感器，构成为检测从电磁波照射源照射并被对象物反射的反射电磁波、以及透过对象物的透射电磁波中的至少一方；识别部，构成为基于由传感器取得的信号来识别对象物的状态；以及照射控制部，构成为控制来自电磁波照射源的电磁波的照射。照射控制部构成为控制电磁波照射源，以使得出现以第一强度照射电磁波的第一照射期间、和以大于第一强度的第二强度照射电磁波的第二照射期间。
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公开(公告)号：CN116368373A
公开(公告)日：2023-06-30
申请号：CN202180069876.X
申请日：2021-10-12
Applicant: 株式会社佐竹
IPC: G01N21/85
Abstract: 光学式分选机具备：光源，其构成为向在移送路径上移送中的被分选物照射光；光学传感器，其构成为对从光源被照射并和被分选物关联的光进行检测；判定部，其构成为基于与和被分选物关联的光相关并由光学传感器获取的信号，对关于被分选物的异物及/或不合格品进行判定；以及中间构件，其配置在从光源向被分选物的光的照射方向上的光源与移送路径之间的位置，且配置在不影响和被分选物关联的光的检测的位置，并具有标记。光学传感器进一步构成为对从光源被照射并经由标记而得到的标记关联光进行检测。
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公开(公告)号：CN114761146A
公开(公告)日：2022-07-15
申请号：CN202080080004.9
申请日：2020-10-15
Applicant: 株式会社佐竹
Inventor： 宫本知幸
Abstract: 本发明提供一种光学式分选机，其能够高精度地检测被分选物的不合格品、异物等，能够提高分选性能。光学式分选机，具备：滑槽，其为了使被分选物流下而倾斜配置；光学检测部，其在检测位置检测被分选物；以及喷射部，基于光学检测部的检测结果，分选除去被分选物，光学检测部具备：照明部，其对检测位置进行照明；以及拍摄部，其在检测位置拍摄被分选物，其特征在于，在滑槽中，与被分选物的流下方向正交地设有光学检测用狭缝，光学检测部将设有光学检测用狭缝的位置作为检测位置，通过拍摄部对在滑槽上流下的被分选物进行拍摄。
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