公开(公告)号：CN102783014B

公开(公告)日：2015-02-18

申请号：CN201080064513.9

申请日：2010-03-10

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 绫野秀树 ,  石川胜美 ,  小川和俊 ,  小南勉 ,  国广真实

IPC: H02P23/00

CPC classification number: B60L3/003 ,  B60L3/12 ,  B60L7/14 ,  B60L7/26 ,  B60L11/1857 ,  B60L15/2009 ,  B60L2240/36 ,  B60L2240/421 ,  B60L2240/423 ,  B60L2250/16 ,  H01L2224/32225 ,  H01L2224/48091 ,  H01L2224/48137 ,  H01L2224/48227 ,  H01L2224/73265 ,  H02P27/06 ,  H02P29/68 ,  Y02T10/642 ,  Y02T10/644 ,  Y02T10/645 ,  Y02T10/70 ,  Y02T10/7005 ,  Y02T10/705 ,  Y02T10/72 ,  Y02T10/7275 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/00

Abstract: 本发明提供一种功率变换装置，其在满足安全性的基础上实施在特定的开关元件中流过恒定电流的控制，可以进行更准确的开关元件的寿命判定，并且可以减少温度检测器的数量。为了解决上述课题，本发明设置了使制动装置动作或者确认制动机构正在动作的机构，在制动机构的制动转矩的范围内，在旋转坐标系的d轴和q轴上流过电流，对希望的元件提供希望的电流。而且，限于在上侧焊锡层的龟裂或线焊的剥落容易发生的部分的芯片和下侧焊锡层的龟裂容易发生的芯片中安装温度检测器。根据本发明，即使用少量的温度检测器也可以进行半导体模块的准确的寿命评价。

公开(公告)号：CN102783014A

公开(公告)日：2012-11-14

申请号：CN201080064513.9

申请日：2010-03-10

Applicant: 株式会社日立制作所

Inventor： 绫野秀树 ,  石川胜美 ,  小川和俊 ,  小南勉 ,  国广真实

IPC: H02P23/00

CPC classification number: B60L3/003 ,  B60L3/12 ,  B60L7/14 ,  B60L7/26 ,  B60L11/1857 ,  B60L15/2009 ,  B60L2240/36 ,  B60L2240/421 ,  B60L2240/423 ,  B60L2250/16 ,  H01L2224/32225 ,  H01L2224/48091 ,  H01L2224/48137 ,  H01L2224/48227 ,  H01L2224/73265 ,  H02P27/06 ,  H02P29/68 ,  Y02T10/642 ,  Y02T10/644 ,  Y02T10/645 ,  Y02T10/70 ,  Y02T10/7005 ,  Y02T10/705 ,  Y02T10/72 ,  Y02T10/7275 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/00

Abstract: 本发明提供一种功率变换装置，其在满足安全性的基础上实施在特定的开关元件中流过恒定电流的控制，可以进行更准确的开关元件的寿命判定，并且可以减少温度检测器的数量。为了解决上述课题，本发明设置了使制动装置动作或者确认制动机构正在动作的机构，在制动机构的制动转矩的范围内，在旋转坐标系的d轴和q轴上流过电流，对希望的元件提供希望的电流。而且，限于在上侧焊锡层的龟裂或线焊的剥落容易发生的部分的芯片和下侧焊锡层的龟裂容易发生的芯片中安装温度检测器。根据本发明，即使用少量的温度检测器也可以进行半导体模块的准确的寿命评价。