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公开(公告)号:CN110226233A
公开(公告)日:2019-09-10
申请号:CN201880006962.4
申请日:2018-01-17
IPC: H01L29/78 , H01L21/336 , H01L29/06 , H01L29/12
Abstract: 使得从相对于半导体衬底的表面的法线方向观察时小平面(F)不与沟槽栅构造的前端重叠。由此,用来形成沟槽栅构造的沟槽(6)的底面的深度变得均匀,能够以在底面没有凹凸的状态形成栅极绝缘膜(7),所以能够使栅极绝缘膜(7)的膜厚成为一定。因而,能够将p型深层(5)及p型深层(30)形成到较深的位置,并且能够得到栅极绝缘膜(7)的耐压。
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公开(公告)号:CN109417090A
公开(公告)日:2019-03-01
申请号:CN201780041600.4
申请日:2017-06-29
IPC: H01L29/06 , H01L29/12 , H01L29/47 , H01L29/78 , H01L29/861 , H01L29/868 , H01L29/872
Abstract: 在p型连接层(30)的前端连结p型扩张区域(40)。通过形成这样的p型扩张区域(40),能够消除在p型连接层(30)与p型保护环(21)之间间隔变大的区域。因此,在台面部中,能够抑制等电位线过度隆起,能够确保耐压。
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公开(公告)号:CN107615492A
公开(公告)日:2018-01-19
申请号:CN201680030119.0
申请日:2016-04-05
IPC: H01L29/78 , H01L21/20 , H01L21/265 , H01L21/336 , H01L29/06 , H01L29/12
Abstract: 半导体装置具有:基板(1),其包括外周区域和具有半导体元件的单元区域;以及所述基板上的漂移层(2)。半导体元件具备基极区域(3)、源极区域(4)、沟槽栅构造、比栅极沟槽深的深层(5)、源极电极(11)、以及漏极电极(12)。外周区域具有使所述漂移层露出的凹部(20)、以及保护环层(21),保护环层具有在露出了的所述漂移层的表面包围所述单元区域的多个框形状的保护环沟槽(21c)、以及配置于保护环沟槽内的第1保护环(21a)。所述深沟槽的宽度和所述保护环沟槽的宽度。
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公开(公告)号:CN115621239A
公开(公告)日:2023-01-17
申请号:CN202210831301.3
申请日:2022-07-14
Applicant: 株式会社电装
IPC: H01L23/495 , H01L23/367
Abstract: 在一种半导体器件中,第一布线构件与布置在半导体元件的第一表面上的第一主电极电连接,且第二布线构件与布置在半导体元件的第二表面上的第二主电极电连接。封装体封装第一布线构件的至少一部分、第二布线构件的至少一部分、半导体元件和键合线。半导体元件具有在半导体衬底的第一表面上的保护膜,且焊盘具有从保护膜的开口暴露的暴露表面。暴露表面包括与键合线连接的连接区域,以及连接区域周边上的周边区域。周边区域具有限定相对于连接区域的表面成90度或更小的角度的表面。
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公开(公告)号:CN107615492B
公开(公告)日:2020-09-29
申请号:CN201680030119.0
申请日:2016-04-05
IPC: H01L29/78 , H01L21/20 , H01L21/265 , H01L21/336 , H01L29/06 , H01L29/12
Abstract: 半导体装置具有:基板(1),其包括外周区域和具有半导体元件的单元区域;以及所述基板上的漂移层(2)。半导体元件具备基极区域(3)、源极区域(4)、沟槽栅构造、比栅极沟槽深的深层(5)、源极电极(11)、以及漏极电极(12)。外周区域具有使所述漂移层露出的凹部(20)、以及保护环层(21),保护环层具有在露出了的所述漂移层的表面包围所述单元区域的多个框形状的保护环沟槽(21c)、以及配置于保护环沟槽内的第1保护环(21a)。所述深沟槽的宽度和所述保护环沟槽的宽度。
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公开(公告)号:CN117296158A
公开(公告)日:2023-12-26
申请号:CN202280034057.6
申请日:2022-03-24
Applicant: 株式会社电装
IPC: H01L29/78
Abstract: 在有源区域(1a)和非有源区域(1b)中的有源区域侧,在第1深层(14)及第1电流分散层(13)与基极区域(18)之间,具备具有与基极区域相连并且与第1深层相连、在与沟槽(21)的长度方向相同的方向上延伸设置的排列有多个线的第2条状部(171)的第2深层(17)。此外,具备形成在第1电流分散层与基极区域之间并且配置在构成第2条状部的多个线之间的第2电流分散层(15)。并且,第1深层中包含的构成第1条状部(141)的各线包括与框状部(142)相连的顶端部(141a)和比顶端部靠内侧的内侧部(141b),顶端部的宽度为内侧部的宽度以上。
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公开(公告)号:CN109417090B
公开(公告)日:2023-01-20
申请号:CN201780041600.4
申请日:2017-06-29
IPC: H01L29/06 , H01L29/12 , H01L29/47 , H01L29/78 , H01L29/861 , H01L29/868 , H01L29/872
Abstract: 在p型连接层(30)的前端连结p型扩张区域(40)。通过形成这样的p型扩张区域(40),能够消除在p型连接层(30)与p型保护环(21)之间间隔变大的区域。因此,在台面部中,能够抑制等电位线过度隆起,能够确保耐压。
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公开(公告)号:CN110226233B
公开(公告)日:2022-09-16
申请号:CN201880006962.4
申请日:2018-01-17
Applicant: 株式会社电装
IPC: H01L29/78 , H01L21/336 , H01L29/06 , H01L29/12
Abstract: 使得从相对于半导体衬底的表面的法线方向观察时小平面(F)不与沟槽栅构造的前端重叠。由此,用来形成沟槽栅构造的沟槽(6)的底面的深度变得均匀,能够以在底面没有凹凸的状态形成栅极绝缘膜(7),所以能够使栅极绝缘膜(7)的膜厚成为一定。因而,能够将p型深层(5)及p型深层(30)形成到较深的位置,并且能够得到栅极绝缘膜(7)的耐压。
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