碳化硅半导体装置及使用它的逆变器电路、碳化硅半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN117083719A

    公开(公告)日:2023-11-17

    申请号:CN202280023731.0

    申请日:2022-03-23

    Abstract: 具备:第1导电型的衬底(11),由碳化硅构成;第1导电型的缓冲层(12),形成在衬底(11)上;低浓度层(13),形成在缓冲层(12)上;第1深层(15)及JFET部(14),形成在低浓度层(13)上;第1导电型的电流分散层(17),配置在JFET部(14)上,杂质浓度比低浓度层(13)高;第2导电型的第2深层(18),配置在第1深层(15)上;第2导电型的基极层(21),配置在电流分散层(17)及第2深层(18)之上;第1导电型的杂质区域(22),形成在基极层(21)的表层部;以及沟槽栅构造,以将杂质区域(22)及基极层(21)贯通而达到电流分散层(17)的方式形成。并且,使得在JFET部(14)中形成缺陷部(D)。

    半导体装置
    2.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN117296158A

    公开(公告)日:2023-12-26

    申请号:CN202280034057.6

    申请日:2022-03-24

    Abstract: 在有源区域(1a)和非有源区域(1b)中的有源区域侧,在第1深层(14)及第1电流分散层(13)与基极区域(18)之间,具备具有与基极区域相连并且与第1深层相连、在与沟槽(21)的长度方向相同的方向上延伸设置的排列有多个线的第2条状部(171)的第2深层(17)。此外,具备形成在第1电流分散层与基极区域之间并且配置在构成第2条状部的多个线之间的第2电流分散层(15)。并且,第1深层中包含的构成第1条状部(141)的各线包括与框状部(142)相连的顶端部(141a)和比顶端部靠内侧的内侧部(141b),顶端部的宽度为内侧部的宽度以上。

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