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公开(公告)号：CN106500606A
公开(公告)日：2017-03-15
申请号：CN201611217687.X
申请日：2016-12-26
Applicant: 清华大学深圳研究生院
IPC: G01B11/02
CPC classification number: G01B11/02
Abstract: 一种多码道光栅尺、测量设备及数据处理方法，该光栅尺包括第一光栅码道、第二光栅码道、线性渐变滤光片码道、两个光栅读数头以及渐变片读数头，三个码道相互平行并列，两个光栅读数头对应于第一、第二光栅码道而设置，渐变片读数头对应于线性渐变滤光片码道而设置，三个码道设置成沿长度方向水平移动，两个光栅读数头和渐变片读数头保持固定，并分别使用波长为λ的激光对第一光栅码道、第二光栅码道和线性渐变滤光片码道进行探测，其中光栅读数头获取光栅尺的位移-干涉相位信息，渐变片读数头获取渐变片的位移-反射光强度信息。本发明在保证测量精度和量程的同时大幅降低了绝对式光栅尺的系统复杂程度和成本。
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公开(公告)号：CN109163659B
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN201811059690.2
申请日：2018-09-12
Applicant: 清华大学深圳研究生院
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明涉及精密测量领域，公开了一种检测系统、拼接系统、检测方法、拼接方法与拼接光栅尺，检测系统包括支撑平台，支撑平台用于放置待检测的光栅，并可供光栅相对支撑平台移动；检测光源，检测光源用于向光栅射出第一光束，第一光束经光栅形成至少两道第二光束；接收装置，第二光束可分别在接收装置上形成光斑；观测装置，观测装置用于记录各光斑的位置。本发明通过检测光源向待测光栅施加第一检测光束，第一检测光束经光栅作用后形成至少两条第二光束，第二光束在接收装置形成光斑，记录并比较不同光栅形成的光斑便可以实现光栅姿态的检测。本发明具有结构简单、易于操作等优点。
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公开(公告)号：CN108709505A
公开(公告)日：2018-10-26
申请号：CN201810764638.0
申请日：2018-07-12
Applicant: 清华大学深圳研究生院
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明公开一种大量程干涉式光栅尺及其测距方法，包括光栅阵列和双读数头系统，光栅阵列由多个光栅单元拼接而成，双读数头系统包括一激光器、一分光器、两个读数头及数据处理单元；激光器用于发出一激光束，分光器用于对激光束进行分光，以得到用于投射到光栅阵列的第一激光束和第二激光束；两个读数头分别获取对应于第一激光束和第二激光束的实时位移读数；数据处理单元用于对两个读数头的实时位移读数进行数据处理，获得实际位移；其中，所述数据处理包括：根据单读数头各自的实时位移读数以及光栅单元之间的间距，进行间距补偿和读数头状态判断；基于读数头所处的状态，利用单读数头的实时位移读数和间距补偿结果计算所述实际位移。
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公开(公告)号：CN108592786B
公开(公告)日：2023-08-22
申请号：CN201810069996.X
申请日：2018-01-24
Applicant: 清华大学深圳研究生院
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种判断光栅尺参考位置的装置及方法，该装置包括光源、参考点编码区、参考点掩膜、光电探测器和信号处理计算机，所述光源的光束依次穿过所述参考点掩膜和参考点编码区的透光部分之后透射到所述光电探测器上，所述光电探测器将采集到的信号发送给所述信号处理计算机，其中所述参考点掩膜和所述参考点编码区相互平行且具有相同的透光结构。本发明能够大幅度提升参考点的检测准确度和光栅尺系统的精度，同时能够降低参考点掩膜的制造难度和参考点编码区的复杂度，提高了装置的经济型和鲁棒性。
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公开(公告)号：CN106646907B
公开(公告)日：2023-01-24
申请号：CN201611217716.2
申请日：2016-12-26
Applicant: 清华大学深圳研究生院
Abstract: 一种光栅衍射光偏转棱镜，包括等腰梯形棱镜、分束镜、光源和光栅，光栅、等腰梯形棱镜和分束镜沿衍射光的出光方向依次布置，光源设置在分束镜的外侧，光源发出的光线垂直入射分束镜的侧面，部分光束被分束镜反射并经等腰梯形棱镜垂直射向光栅，光线垂直照射到光栅上，产生0级衍射光和±1级衍射光，其中0级衍射光垂直于光栅表面经过等腰梯形棱镜和分束镜射出，±1级衍射光从光栅表面斜射入等腰梯形棱镜并经过等腰梯形棱镜的斜面内反射，最终经过等腰梯形棱镜和分束镜射出，且平行于0级衍射光。该偏转棱镜降低了光路的复杂程度和调试难度，缩减了光路的体积和，提高了光路的可靠性。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN108709505B
公开(公告)日：2020-07-03
申请号：CN201810764638.0
申请日：2018-07-12
Applicant: 清华大学深圳研究生院
IPC: G01B11/02
Abstract: 本发明公开一种大量程干涉式光栅尺及其测距方法，包括光栅阵列和双读数头系统，光栅阵列由多个光栅单元拼接而成，双读数头系统包括一激光器、一分光器、两个读数头及数据处理单元；激光器用于发出一激光束，分光器用于对激光束进行分光，以得到用于投射到光栅阵列的第一激光束和第二激光束；两个读数头分别获取对应于第一激光束和第二激光束的实时位移读数；数据处理单元用于对两个读数头的实时位移读数进行数据处理，获得实际位移；其中，所述数据处理包括：根据单读数头各自的实时位移读数以及光栅单元之间的间距，进行间距补偿和读数头状态判断；基于读数头所处的状态，利用单读数头的实时位移读数和间距补偿结果计算所述实际位移。
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公开(公告)号：CN109163659A
公开(公告)日：2019-01-08
申请号：CN201811059690.2
申请日：2018-09-12
Applicant: 清华大学深圳研究生院
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明涉及精密测量领域，公开了一种检测系统、拼接系统、检测方法、拼接方法与拼接光栅尺，检测系统包括支撑平台，支撑平台用于放置待检测的光栅，并可供光栅相对支撑平台移动；检测光源，检测光源用于向光栅射出第一光束，第一光束经光栅形成至少两道第二光束；接收装置，第二光束可分别在接收装置上形成光斑；观测装置，观测装置用于记录各光斑的位置。本发明通过检测光源向待测光栅施加第一检测光束，第一检测光束经光栅作用后形成至少两条第二光束，第二光束在接收装置形成光斑，记录并比较不同光栅形成的光斑便可以实现光栅姿态的检测。本发明具有结构简单、易于操作等优点。
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公开(公告)号：CN108592786A
公开(公告)日：2018-09-28
申请号：CN201810069996.X
申请日：2018-01-24
Applicant: 清华大学深圳研究生院
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种判断光栅尺参考位置的装置及方法，该装置包括光源、参考点编码区、参考点掩膜、光电探测器和信号处理计算机，所述光源的光束依次穿过所述参考点掩膜和参考点编码区的透光部分之后透射到所述光电探测器上，所述光电探测器将采集到的信号发送给所述信号处理计算机，其中所述参考点掩膜和所述参考点编码区相互平行且具有相同的透光结构。本发明能够大幅度提升参考点的检测准确度和光栅尺系统的精度，同时能够降低参考点掩膜的制造难度和参考点编码区的复杂度，提高了装置的经济型和鲁棒性。
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公开(公告)号：CN106646907A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611217716.2
申请日：2016-12-26
Applicant: 清华大学深圳研究生院
CPC classification number: G02B27/4233 , G01B11/00 , G02B27/44
Abstract: 一种光栅衍射光偏转棱镜，包括等腰梯形棱镜、分束镜、光源和光栅，光栅、等腰梯形棱镜和分束镜沿衍射光的出光方向依次布置，光源设置在分束镜的外侧，光源发出的光线垂直入射分束镜的侧面，部分光束被分束镜反射并经等腰梯形棱镜垂直射向光栅，光线垂直照射到光栅上，产生0级衍射光和±1级衍射光，其中0级衍射光垂直于光栅表面经过等腰梯形棱镜和分束镜射出，±1级衍射光从光栅表面斜射入等腰梯形棱镜并经过等腰梯形棱镜的斜面内反射，最终经过等腰梯形棱镜和分束镜射出，且平行于0级衍射光。该偏转棱镜降低了光路的复杂程度和调试难度，缩减了光路的体积和，提高了光路的可靠性。
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