一种自对准功率半导体芯片测试夹具

    公开(公告)号:CN206208930U

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201621197593.6

    申请日:2016-11-07

    Abstract: 本实用新型的名称是一种自对准功率半导体芯片测试夹具。属于功率半导体器件测试技术领域。它主要是解决现有测试操作过程繁琐、效率低、易造成芯片测试数据偏差和芯片外观划伤及损坏的问题。它的主要特征是:上夹具由阴极板、定位弹簧、导向套、阴极压块、阴极取样探头和中心门极取样探头组成;定位弹簧、阴极压块的上端固定在阴极板上,下端位于导向套内并与导向套固定连接;阴极取样探头和中心门极取样探头安装在阴极压块上;所述下夹具由承片盘和阳极取样探头组成;所述承片盘与导向套之间设有配合的芯片定位凹槽、定位凸台。本实用新型具有芯片对准更换方便、附加压降小、测试操作简单和使用效率高的特点,主要用于功率半导体器件芯片测试。

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